Список литературы. 
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов

Бокий, Г. Б. Рентгеноструктурный анализ / Г. Б. Бокий, М. А. Порай-Кошиц. — М.: Изд-во МГУ, 1963.

Борн, М. Основы оптики / М. Борн, Э. Вольф. — М.: Наука, 1970.

Боуэн, А. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / А. К. Боуэн, Б. К. Таннер — СПб.: Наука, 2002.

Borodin, V. A. Structure and Related Mechanical Properties of Shaped Eutectic A1₂0₃—Zr0₂(Y₂0₃) Composites / V. A. Borodin, M. Yu. Starostin, T. N. Yalovets //.

J. Cryst. Growth. — 1990. — Vol. 104. — P. 148—153.

Borodin, V. A. Growth of A1₂0₃—Zr0₂(Y₂0₃) eutectic composite by Stepanov technique / V. A. Borodin, A. G. Reznikov, M. Yu. Starostin // J. Cryst. Growth. — 1987. —Vol. 82. — P. 177— 181.

Bourret, A. Investigation of the Structure of the Didlocation Nucleus by Lattice Images / A. Bourret // Phill. Mag. — 1979. — Vol. 39. — P. 419— 422.

Borrmann, G. bber Extinktionsdiagramme der Runtgenstrahlen von Quarz / G. Borrmann // Z. Phys. — 1941. — Vol. 42. — P. 157—162.

Гинъе, A. M. Рентгенография кристаллов / A. M. Гинье. — M.: Физматгиз, 1961.

Гудмен, Дж. Введение в Фурье-оптику / Дж. Гудмен. — М.: Мир, 1970.

Гуртовой, В. Л. Визуализация областей пленок YBa2Cu₃07_* с различными Т_с в растровом электронном микроскопе / В. Л. Гуртовой, А. В. Черных, А. Б. Ермолаев // Сверхпроводимость: физика, химия, техника. — 1990. — Т. 3. — № 1. — С. 45—48.

Gontcharov, V. Investigation of Structure of Microtwins in Monocrystal Si Ribbon by HREM / V. Gontcharov, E. Suvorov, P. Werner // Proc. XI^th Int. Cong, on Electron Microscopy. — Kioto, 1986. — Vol. 1. — P. 801—802.

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении: сб. ст. / под ред. С. Амелинкса [и др.]; пер. с англ. А. М. Глезера [и др.]. — М.: Металлургия, 1984.

Жданов, Г. С. Основы рентгеноструктурного анализа / Г. С. Жданов. — М.: Гостехиздат, 1940.

Иверонова, В. И. Теория рассеяния рентгеновских лучей / В. И. Иверонова, Г. П. Ревкевич. — М.: МГУ, 1978.

Илюшин, А. С. Дифракционный структурный анализ: в 2 ч. Ч. 1: учеб, пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп., 2017.

Илюшин, А. С. Дифракционный структурный анализ: в 2 ч. Ч. 2: учеб, пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп., 2017.

Инденбом, В. Л. Проблема изображения в рентгеновской оптике / В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуковский // УФН. — 1972. — Т. 107. — № 2. — С. 229—2265.

Iijima, S. Dynamic Behaviors of Small Metallic Particles / S. Iijima // Proc. XI^th Int. Cong, on Electron Microscopy. — Kioto, 1986. — Vol. 1. — P. 87—90.

Iijima, S. High-Resolution Electron Microscopy of Crystal Lattice of TitaniumNiobium Oxide / S. Iijima // J. Appl. Phys. — 1971. — Vol. 42. — No 13. — P. 5891—5893.

International Tables for X-Ray Crystallography. — Birmingam: IDC, 1980. — Vol. 1—4.

Калитеевский, H. И. Волновая оптика / H. И. Калитеевский. — М.: Наука, 1971.

Каули, Дж. Физика дифракции / Дж. Каули. — М.: Мир, 1990.

Castaing, R. Application des Sondes Electroniques a Une Methode D’analyse Ponctuelle Chimique at Crystallgraphique / R. Castaing; University of Paris. Unpublished Ph. D. thesis. —1951.

Locquim, M. V. Handbook of Microscopy / M. V. Locquim, M. Langeron. — London: Butterworths, 1983.

Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов /Л. И. Миркин. — М.: Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1961.

Marks, L. D. Small Particles and Surfaces / L. D. Marks // Proc. XI^th Int. Cong, on Electron Microscopy. — Kioto, 1986. —Vol. 1. — P. 91—94.

Ono, A. Point to Ponder for Observation of Fine Surface Structure / A. Ono,.

K. Ueno, J. Ohyama // Jeol News. — 1986. — Vol. 24E. — No 3. — P. 40—44.

Пинскер, 3. Г. Рентгеновская кристаллооптика / 3. Г. Пинскер. — М.: Наука, 1982.

Пути повышения разрешения и контраста в сканирующей электронной микроскопии / Г. В. Спивак, Э. И. Рау, М. Н. Филлипов, А. Ю. Сасов // Современная электронная микроскопия в исследовании вещества. — М.: Наука, 1982.

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ / Дж. Голдстейн [и др.].; пер. с англ, под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1984.

Рентгеновские и электронно-микроскопические методы анализа атомнокристаллической структуры материалов: лаб. практикум / под ред. В. Ш. Шехтмана, Э. В. Суворова. — Черноголовка, 2000.

Спенс, Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Дж. Спенс. — М.: Наука, 1986.

Суворов Э. В. Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (в рентгеновской микроскопии) / Э. В. Суворов, И. А. Смирнова // УФН. — 2015. — Т. 185. — № 9. — С. 897—915.

Суворов, Э. В. Методы исследования структуры и состава материалов / Э. В. Суворов. — М.: Издательский дом МИСИС, 2011.

Суханов, И. И. Основы оптики. Теория изображения: учеб, пособие для вузов / И. И. Суханов. — 2-е изд., испр. и доп., 2017.

Senkov, О. N. Grain growth in a superplastic Zn — 22% A1 alloy / O. N. Senkov, M. M. Myshlyev // Acta Met. —1986. — Vol. 34. — No 1. — P. 97—106.

Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. — М.: Наука, 1983.

Уманский, Я. С. Рентгенография металлов / Я. С. Уманский. — М.: Металлургия, 1967.

Watt, I. The Priciples and Practice of Electron Microscopy /1. Watt. — New York: Cambridge University Press, 1985.

Weak-link Investigation of a YBaCuO Thin Film DC SQUID by SEM / V. L. Gurtovoi, A. B. Ermolaev, A. V. Chernykh, V. A. Goncharov // Supercond. Sci. Technol. — 1993. — Vol. 6. — C. 809—813.

Хейденрайх, P. Основы просвечивающей электронной микроскопии / Р. Хейденрайх. — М.: Мир, 1966.

High Resolution Electron Microscopy of High-Тс Superconductor Y-Ba-CuO / K. Hiraga, D. Shindo, M. Hirabayashi, M. Kikuchi, Y. Syono // J. Electron Microsc. — 1987. — Vol. 36. — No 4. — P. 261—269.

Hutchuon, J. L. Atomic Imaging of Semicoductors / J. L. Hutchison, T. Honda, E. Boyes // Jeol News. — 1986. — Vol. 24E. — No 3. — P. 9—13.

Электронная микроскопия тонких кристаллов / П. Хирш [идр.]. — М.: Мир, 1968.