Диплом, курсовая, контрольная работа
Помощь в написании студенческих работ

Оптические свойства квантовых точек InAs, выращенных на вицинальных подложках GaAs

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Для реализации поставленной цели в настоящей работе проведено систематическое изучение спектров ФЛ ансамбля двумерных массивов КТ 1пА8, выращенных методом СМСЭ на вицинальных подложках ОаА8(ЮО) с различными направлениями и углами разориентации при осаждении слоя 1пАз толщиной 1.8 монослоя, которая близка к критической. В качестве основного экспериментального метода использовалась стационарная ФЛ… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1. Обзор литературы и постановка задачи
    • 1. 1. Формирование квантовых точек
      • 1. 1. 1. Общие сведения
      • 1. 1. 2. Спонтанное упорядочение полупроводниковых наноструктур
      • 1. 1. 3. Упорядоченные массивы трехмерных когерентно напряженных островков
        • 1. 1. 3. 1. Общая морфология рассогласованных гетероэпитаксиальных систем
        • 1. 1. 3. 2. Равновесное состояние в системе когерентно напряженных трехмерных островков
      • 1. 1. 4. Технология получения и структурные исследования трехмерных островков 1пАз / СаАБ
        • 1. 1. 4. 1. Влияние прерывания роста на образование островков
        • 1. 1. 4. 2. Влияние давления мышьяка на морфологию гетерофазной системы
        • 1. 1. 4. 3. Высокотемпературный отжиг
        • 1. 1. 4. 4. Особенности роста квантовых точек 1пА8 на вицинальых поверхностях ОаАз
        • 1. 1. 4. 5. Влияние заращивания квантовых точек 3 О
      • 1. 1. 5. Массивы вертикально связанных квантовых точек
    • 1. 2. Электронная структура и оптические свойства. 32 1.2.1 Требования, предъявляемые к квантовым точкам. 32 1.2.1.1 Минимальный размер
      • 1. 2. 1. 2. Максимальный размер
      • 1. 2. 1. 3. Структурное совершенство, плотность и однородность
      • 1. 2. 2. Формирование упорядоченных массивов квантовых точек
      • 1. 2. 3. Взаимосвязь режимов роста и оптических свойств квантовых точек
      • 1. 2. 3. 1. Структуры, полученные при субмонослойном осаждении
      • 1. 2. 3. 2. Трехмерные островки: Влияние количества осажденного материала, давления мышьяка и прерываний роста на фотолюминесценцию квантовых точек
      • 1. 2. 3. 3. Влияние высокотемпературного отжига на фотолюминесценцию квантовых точек
      • 1. 2. 3. 4. Влияние заращивания на фотолюминесценцию квантовых точек
      • 1. 2. 4. Геометрия и спектр электронных состояний квантовых точек
      • 1. 2. 5. Фононный спектр и резонансная фотолюминесценция квантовых точек
      • 1. 2. 6. Влияние гидростатического давления на фотолюминесценцию квантовых точек 1пА
      • 1. 2. 7. Люминесценция вертикально связанных квантовых точек
    • 1. 3. Постановка задач
  • Глава 2. Техника и методика эксперимента
    • 2. 1. Получение образцов методом субмонослойной миграционно-стимулированной эпитаксии
    • 2. 2. Методика проведения экспериментов
      • 2. 2. 1. Изучение спектров фотолюминесценции
      • 2. 2. 2. Изучение спектров возбуждения фотолюминесценции
      • 2. 2. 3. Изучение спектров фотолюминесценции при гидростатическом давлении
  • Глава 3. Спектры фотолюминесценции квантовых точек, выращенных на вицинальных подложках
    • 3. 1. Особенности формирования квантовых точек на вицинальных поверхностях
    • 3. 2. Спектры фотолюминесценции квантовых точек, выращенных на разориентированных подложках
    • 3. 3. Зависимость спектров ФЛ КТ от интенсивности возбуждения
    • 3. 4. Зависимость спектров ФЛ КТ от энергии возбуждающего излучения
      • 3. 4. 1. Спектры ФЛ при надбарьерном и подбарьерном возбуждении
      • 3. 4. 2. Спектры возбуждения ФЛ

Оптические свойства квантовых точек InAs, выращенных на вицинальных подложках GaAs (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

5.2 Исследование спектров фотолюминесценции при гидростатическом давлении при температуре Т=ПК. 117.

5.3 Температурная зависимость спектров ФЛ при гидростатическом давлении. 124.

5.4 Основные результаты и выводы. 129.

Заключение

.

Сейчас очень трудно представить современную физику твердого тела без полупроводниковых гетероструктур. Полупроводниковые гетероструктуры и особенно двойные гетероструктуры, включая квантовые ямы, нити и точки, являются сегодня предметом исследований 2/3 исследовательских групп в области физики полупроводников [1].

Если возможность управления типом проводимости полупроводника с помощью легирования различными примесями и идея инжекции неравновесных носителей заряда были теми семенами, из которых выросла полупроводниковая электроника, то гетероструктуры дают возможность решить значительно более общую проблему управления фундаментальными параметрами в полупроводниковых кристаллах и приборах: шириной запрещенной зоны, эффективными массами носителей и их подвижностями, показателем преломления, электронным энергетическим спектром и т. д.

Гетероструктуры с пространственным ограничением носителей заряда во всех трех измерениях (квантовые точки) реализуют предельный случай размерного квантования в полупроводниках, когда модификация электронных свойств материала наиболее выражена. Электронный спектр идеальной квантовой точки (КТ) представляет собой набор дискретных уровней, разделенных областями запрещенных состояний, и соответствует электронному спектру одиночного атома, хотя реальная КТ при этом может состоять из сотен тысяч атомов [2]. Таким образом, появляется уникальная возможность моделировать эксперименты по физическим атомам на макроскопических объектах. С приборной точки зрения, атомоподобный электронный спектр носителей в КТ в случае, если расстояние между уровнями заметно больше тепловой энергии, дает возможность устранить основную проблему современной микрои оптоэлектроники — «размывание» носителей заряда в энергетическом окне порядка кТ, приводящее к деградации свойств приборов при повышении рабочей температуры. Кроме того, все важнейшие для применений характеристики материала, например время излучательной рекомбинации, время энергетической релаксации между электронными подуровнями, коэффициенты оже-рекомбинации и т. д., оказываются кардинально зависящими от геометрического размера и формы КТ, что позволяет использовать одну и ту же полупроводниковую систему для реализации приборов с существенно различающимися требованиями к активной среде.

В течение долгого времени во всем мире предпринимались попытки изготовления КТ и приборов на их основе «традиционными способами», например путем селективного травления структур с квантовыми ямами [3], роста на профилированных подложках, на сколах [4], или конденсации в стеклянных матрицах [5]. При этом приборно-ориентированные структуры так и не были созданы, а принципиальная возможность реализации атомоподобного спектра плотности состояний в макроскопической полупроводниковой структуре не была продемонстрирована в явном виде.

Качественный прорыв в данной области связан с использованием эффектов самоорганизации полупроводниковых наноструктур в гетероэпитаксиальных полупроводниковых системах. Таким образом были реализованы идеальные гетероструктуры с квантовыми точками с высоким кристаллическим совершенством, высоким квантовым выходом излучательной рекомбинации и высокой однородностью по размерам (-10%). В полученных структурах были впервые продемонстрированы уникальные физические свойства, ожидавшиеся для идеальных КТ в течение многих лет, исследованы электронный спектр КТ, эффекты, связанные с энергетической релаксацией и излучательной рекомбинацией неравновесных носителей, и т. д. и получены первые оптоэлектронные приборы, такие как инжекционные гетеролазеры на КТ.

Эффекты самоорганизации при молекулярно-пучковой эпитаксии (МПЭ) и её разновидностях в полупроводниковых системах А3В:> экспериментально подтверждены работами последних лет [2]. В случае использования полупроводниковой системы ГпАз/ОаАБ возможно получение массива КТ при достижении критической толщины арсенида индия, осажденного на подложку арсенида галлия непосредственно при МПЭ [9, 25]. Данный эффект объясняется релаксацией упругих напряжений, возникающих при росте в гетероэпитаксиальной системе с рассогласованными постоянными решеток по механизму Странски-Крастанова. Установлено влияние на спектры фотолюминесценции (ФЛ) латеральных размеров, поверхностной плотности и степени пространственной упорядоченности КТ. В свою очередь большинство этих факторов регулируется технологическими условиями и кинетикой роста. Было показано, что использование режима субмонослойной миграционно-стимулированной эпитаксии (СМСЭ) и вицинальных подложек ОаАз позволяет получать массивы КТ 1пАб с наиболее близкими латеральными размерами, что проявляется в сужении их полосы ФЛ [6−12].

При некоторых условиях наблюдается более сложная структура спектра ФЛ КТ: основная полоса, интерпретируемая как экситонная рекомбинация электрона и тяжелой дырки в основном состоянии КТ, оказывается неоднородно уширенной, а в ряде случаев проявляются и дополнительные максимумы излучения. Происхождение этих максимумов в настоящее время интенсивно дискутируется [13−18].

В настоящей работе приведены исследования, позволяющие детерминировать полосы, составляющие структуру спектра ФЛ. Решение этой проблемы имеет принципиальное значение, поскольку выяснение механизмов рекомбинации, ответственных за появление полос излучения, может послужить дальнейшему продвижению в понимании электронной структуры, и процессов, происходящих в КТ 1пАз на вицинальных подложках СаАБ.

Для реализации поставленной цели в настоящей работе проведено систематическое изучение спектров ФЛ ансамбля двумерных массивов КТ 1пА8, выращенных методом СМСЭ на вицинальных подложках ОаА8(ЮО) с различными направлениями и углами разориентации при осаждении слоя 1пАз толщиной 1.8 монослоя, которая близка к критической. В качестве основного экспериментального метода использовалась стационарная ФЛ при различных внешних воздействиях: возбуждение различной плотности и разного спектрального состава, температура, гидростатическое давление.

Настоящая диссертационная работа состоит из введения, шести глав и заключения.

Основные результаты, изложенные в диссертации, докладывались на международных конференциях «Nanostructures: Physics and Technology 1998», «Nanostructures: Physics and Technology 1999», Репино, Санкт-Петербург- «The 24th International Conference on the Physics of Semiconductors», 1998, Jerusalem, Israelна IV Российской Конференции по Физике Полупроводников 1999, Новосибирск, II Городской Научной Конференции Студентов и Аспирантов по Физике Полупроводников и Полупроводниковой Наноэлектронике, 1998, Санкт-ПетербургВсероссийской Молодежной Научной Конференции по Физике Полупроводников и Полупроводниковой Оптои Наноэлектронике, 1999, Санкт-Петербурги изложены в следующих публикациях:

1. R.B. Juferev, А.В. Novikov, B.V. Novikov, S.Yu. Verbin, Dinh Son Thach, G. Gobsch, R. Goldhahn, N. Stein, A. Golombek, G.E. Cirlin, V.G. Dubrovskii, V.N. Petrov. Photoluminescence of 1.8ML InAs quantum dots grown by SMEE on GaAs (100) misoriented surface. Nanostructures: Physics and Technology. 6th International Symposium. St. Petersburg, Russia, June 22 — 26, 1998. QWR/QD.07. pp.204−207.

2. R.B. Juferev, A.B. Novikov, B.V. Novikov, S.Yu. Verbin, Dinh Son Thach, G. Gobsch, R. Goldhahn, N. Stein, A. Golombek, G.E. Cirlin, V.G. Dubrovskii, V.N. Petrov. Photoluminescence of InAs quantum dots grown by SMEE on GaAs misoriented surface. The 24th International Conference on the physics of semiconductors. August 2 -7, 1998, Jerusalem, Israel. Tu-P138. Vol. 1.

3. G. Cirlin, V. Dubrovskii, V. Petrov, R. Iuferev, A. Novikov, B. Novikov, S. Verbin, Dinh Son Thach, I. Shchur, G. Gobsch, R. Goldhahn, N. Stein, A. Golombek. Growth of InAs quantum dots on GaAs misoriented surfaces by SMEE and their photoluminescence characterization. Tenth International Conference on Molecular Beam.

Epitaxy. Cannes, August 31 — September 4, 1998. Abstract Book. p. 428.

4. Динь Шон Тхак, И. В. Щур, А. Киселев, Б. В. Новиков. Исследование возбужденных состояний в квантовых точках InAs на разориентированной поверхности GaAs (100), полученных методом субмонослойной миграционно-стимулированной эпитаксии. II Городская Научная Конференция Студентов и Аспирантов по Физике Полупроводников и Полупроводниковой Наноэлектронике, 1998, Санкт-Петербург, КС-14, pp. 23−24.

5. S. Yu. Verbin, В. V. Novikov, R. В. Juferev, Yu. Stepanov, A. B. Novikov, Dinh Son Thach, I. Shchur, V. B. Talalaev et Al. Photoluminescence study of electronic structure of InAs quantum dots grown on GaAs vicinal surfaces. 7th. Int. Symp. «Nanostructures: Physics and Technology», St. Petersburg, Russia, June 14−18,1999. QWR/QD.17, p. 63.

6. Б. В. Новиков, P. Б. Юферев, Ю. А. Степанов, А. Б. Новиков, Динь Шон Тхак, И. В. Щур, А. С. Киселев, В. Г. Талалаев, Г. Э. Цырлин, В. Г. Дубровский, В. Н. Петров, А. Ю. Егоров, В. М. Устинов. Исследование возбужденных состояний квантовых точек InAs, выращенных на вицинальных поверхностях GaAs. IV Российской Конференции по Физике Полупроводников, 25−29 октября 1999, Новосибирск. СрАЗ-7, 226.

7. В. А. Гайсин, Динь Шон Тхак, В. Г. Дубровский, А. Ю. Егоров, А. С. Киселев, Б. С. Кулинкин, Б. В. Новиков, В. Н. Петров, В. М. Устинов, Г. Э. Цырлин, И. В. Щур. Влияние гидростатического давления на низкотемпературные спектры люминесценции квантовых точек InAs/GaAs. IV Российской Конференции по Физике Полупроводников, 25−29 октября 1999, Новосибирск. СрС-21,247.

8. Динь Шон Тхак, А. С. Киселев, В. В. Качканов, В. Г. Талалаев. Исследование структуры рекомбинационного излучения квантовых точек 1пАз, выращенных на вицинальных поверхностях СаАз. II Городской Научной Конференции Студентов и Аспирантов по Физике Полупроводников и Полупроводниковой Наноэлектронике, 1998, Санкт-Петербург. У17, 71.

9. В. Г. Талалаев, Б. В. Новиков, С. Ю. Вербин, А. Б. Новиков, Динь Шон Тхак, И. В. Щур, Г. Гобш, Р. Гольдхан, Н. Штейн, А. Голомбек, Г. Э. Цырлин, В. Н. Петров, В. М. Устинов, А. Е. Жуков, А. Ю. Егоров. Исследование структуры рекомбинационного излучения квантовых точек 1пАб, выращенных на вицинальных поверхностях ОаАБ. ФТП, 34, 467 (2000).

В заключение выражаю искреннюю признательность моим научным руководителям — доктору физ.-мат. наук, профессору Новикову Борису Владимировичу и кандидату физ.-мат. наук, ст. науч. сотр. Талалаеву Вадиму Геннадьевичу за руководство моей работой и плодотворные научные дискуссии.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

В заключение приведем краткий перечень основных результатов и выводов работы.

1. Исследована серия из 20-ти образцов квантовых точек ЬтАб на подложке ОаАБ с разными углами и направлениями разориентации.

2. Обнаружена существенная трансформация спектра ФЛ для разных направлений и углов разориентации подложки, при изменении температуры, интенсивности и энергии возбуждающего света.

3. Обнаружено смещение максимума ФЛ относительно сингулярной поверхности в коротковолновую сторону, вызванное уменьшением размера КТ на вицинальных поверхностях. Сужение максимума ФЛ связывается с уменьшением разброса КТ по размерам.

4. Уменьшение размеров КТ и их дисперсии объяснено в рамках представлений о латеральном ограничении КТ на террасах с учетом эффекта складывания моноатомных ступеней. Показано, что структура спектра ФЛ формируется группами КТ, принадлежащих террасам, уширенным за счет этого эффекта.

5. Изучены особенности проявления наиболее интенсивной и высокоэнергетической полосы спектра ФЛ образцов, разориентированных на углы 5° и 7°.

6. Обнаружено, что КТ группы /(Ю возбуждаются только светом из области поглощения барьера ОаАБ, тогда как две остальные группы <2?> имеют непосредственную связь со смачивающим слоем.

7. Обнаружен различный характер температурной зависимости энергетического положения максимума и полуширины полос в разных группах КТ (ОИ и ?01)).

8. Впервые предложено считать КТ 10Е) изолированными наноостровками, не связанными с остальным массивом из-за разрывов смачивающего слоя.

9. По поведению температурной зависимости интегральной интенсивности полос ФЛ, по результатам исследования спектров возбуждения ФЛ и влиянию плотности возбуждения ФЛ определено участие возбужденных экситонных состояний в рекомбинационном излучении ассоциированных и изолированных КТ.

10. Дана количественная оценка энергетической структуры разных групп КТ ГпАя/ОаАя 7°[001]. Определены глубина залегания электрона и дырки, энергия связи экситона, отщепление возбужденного состояния для каждой из полос 01) о, 01)1,1(Ю.

11. Исследованы спектры ФЛ КТ ГпАз/СаАз при приложении всестороннего гидростатического сжатия. Измерены барические коэффициенты отдельных компонент ФЛ КТ (21)о, 01)-, 101), смачивающего слоя ЖЬ и свободного экситона ЕЕ подложки ваАз.

12. Впервые обнаружено различие барических зависимостей спектрального сдвига отдельных компонент спектра ФЛ. Обнаруженный эффект связан с наличием поля внутренних деформаций в КТ 1пА$/ОаА5.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Zh.1. Alferov. Proc. of Nobel Symposium 99, Arild, Sweden, June4−8, 1996 Physica Scripta 68, 32 (1996)]- Ж. И. Алферов. ФТП, 32, 1 (1998).
  2. Н.Н.Леденцов, В. М. Устинов, В. А. Щукин, П. С. Копьев, Ж. И. Алферов, Д.Бимберг. ФТП, 32, 385 (1998).
  3. С.М. Sotomayor Torres, F.D. Wang, N.N. Ledentsov, Y. S. Tang. Proc. SPIE — The International Society for Optical Engineering (1994) v. 2141, p. 2 и ссылки в этой работе.
  4. А.И. Екимов, A.A. Онущенко. Письма ЖЭТФ, 34, 363 (1981).
  5. Г. Э.Цырлин, В. Н. Петров, М. В. Максимов, Н. Н. Леденцов. ФТП, 31, 912 (1997).
  6. А.Ф.Цацульников, Б. В. Воловик, Н. Н. Леденцов, М. В. Максимов,
  7. A.Ю.Егоров, А. Е. Жуков, А. Р. Ковш, В. М. Устинов, Чжао Чжень,
  8. B.Н.Петров, Г. Э. Цырлин, Д. Бимберг, П. С. Копьев, Ж. И. Алферов. ФТП, 32, 95 (1998).
  9. P.D.Wang, N.N.Ledentsov, C.M.Sotomayor Torres, P. S.Kop'ev, V.M.Ustinov. Appl. Phys. Lett., 64, 1526 (1994).
  10. S.Ruvimov, P. Werner, K. Scheerschmidt, U. Gosele, J. Heydenreich, U. Richter, N.N.Ledentsov, M. Grundmann, D. Bimberg, V.M.Ustinov, A.Yu.Egorov, P. S.Kop'ev, Zh.I.Alferov. Phys. Rev. B, 51, 14 766 (1995).
  11. V.P.Evtikhiev, I.V.Kudryashov, E.Y.Kotel'nikov, V.E.Tokranov, A.N.Titkov, I.S.Tarasov, Zh.I.Alferov. Semiconductors, 32, 1323 (1998).
  12. O.Brandt, L. Tapfer, K. Ploog, R. Bierwolf, M. Hohenstein, F. Phillipp, H. Lage, A.Heberle. Phys. Rev. B, 44, 8043 (1991).
  13. Y.Nabetani, A. Wakahara, A.Sasaki. J. Appl. Phys., 78, 6461 (1995).
  14. L.Brusaferri, S. Sanguinetti, E. Grilli, M. Guzzi, A. Bignazzi, F. Bogani, L. Carraresi, M. Colocei, A. Bosacchi, P. Frigeri, S.Franchi. Appl. Phys. Lett., 69, 3354 (1996).
  15. M.Colocci, F. Bogani, L. Carraresi, R. Mattolini, A. Bosacchi, S. Franchi, P. Frigeri, M. Rosa-Clot, S.Taddei. Appl. Phys. Lett., 70, 3140 (1997).
  16. H.-W.Ren, K. Nishi, S. Sugou, Y.Masumoto. Jpn. J. Appl. Phys., 37, 1548(1998).
  17. S.Noda, T. Abe, M.Tamura. Phys. Rev. B, 58, 7181 (1998).
  18. G.L.Rowland, T.J.C.Hosea, S. Malik, D. Childs, R.Murray. Appl. Phys. Lett., 73, 3268 (1998).
  19. W.G.Stallard, A.S.Plaut, S. Thoms, M.C.Holland, S.P.Beaumont, C.R.Stanley, M.Hopkinson. Appl. Phys. Lett., 73, 1898 (1998).
  20. Г. Э.Цырлин, В. Н. Петров, В. Г. Дубровский, Н. К. Поляков, С. Я. Типисев, А. О. Голубок, Н. Н. Леденцов. ФТП, 31, 902 (1997).
  21. Y.Nabetani, N. Yamamoto, T. Tokuda, A.Sasaki. J. Cryst. Growth. 146, 363 (1995).
  22. S.J.Xu, X.C.Wang, S.J.Chua, C.H.Wang, W.J.Fan, J. Jiang, X.G.Xie. Appl. Phys. Lett., 72, 3335 (1998).
  23. Q.W.Mo, T.W.Fan, Q. Gong, J. Wu, Z. G Wang, Y.Q.Bai. Appl. Phys. Lett., 73, 3518(1998).
  24. H.Lee, R. Lowe-Webb, T.J.Johnson, W. Yang, P.C.Sercel. Appl. Phys. Lett., 73, 3556 (1998).
  25. H.-W.Ren, K. Nishi, S. Sugou, M. Sugisaki, Y.Masumoto. Jpn. J. Appl. Phys., 36, 4118 (1997).
  26. D.Leonard, K. Pond, P.M.Petroff. Phys. Rev. B, 50, 11 687 (1994).
  27. В.П. Евтихиев, И. В. Кудряшов, Е. Ю. Котельников, В. Е. Токранов, А. Н. Титков, И. С. Тарасов, Ж. И. Алферов. ФТП, 32, 1482 (1998)
  28. Н. Haken. Synergetics (Springer, Berlin-Heidelberg, 1997).
  29. И.М. Лифшиц, B.B. Слезов. ЖЭТФ, 35, 479 (1958).
  30. J.M.Moison, F. Houzay, F. Barthe, L. Leprince, E. Andre, O.Vatel. Appl. Phys. Lett., 64, 196 (1994).
  31. G. Cirlin, G.M. Guryanov, A.O. Golubok, S.Ya. Tipissev, N.N. Ledentsov, P. S. Kop’ev, M. Gmndmann, D. Bimberg. Appl. Phys. Lett., 67, 97 (1995).
  32. V.A. Shchukin, N.N. Ledentsov, P. S. Kop’ev, D. Bimberg. Phys. Rev. Lett., 75, 2968 (1995).
  33. Quianghua Xie, Anupan Madhukar, Ping Chen, and Nobuhiko P. Kobayashi, Phy. Rev. Lett. 75, 2542 (1995).
  34. J. Oshinowo, M. Nishioka, S. Ishida, Y. Arakawa. Jap. J. Appl. Phys., 33, L1634 (1994).
  35. N.Ikoma, S.Ohkouchi. Jpn. J. Appl. Phys., 34, L724 (1995).
  36. O.Brandt, G.C.La Rocca, A. Heberle, A. Ruiz, K.Ploog. Phys. Rev. B, 45, 3803 (1992).
  37. Y.Tokura, H. Saito, T.Fukui. J. Cryst. Growth, 94, 46 (1989) .
  38. B.n.E?THXHeB, B.E.ToicpaHOB, A.K.KptiacaHOBCKHH, A.M.Eoinco, PA. CypHC, A.H.Thtkob, (D.HaKaMypa, M.Hwa.
  39. M.Grandmann, O. Stier, D.Bimberg. Phys. Rev. B, 52, 11 969 (1995).
  40. P.M.Petroff, K.H.Schmidt, G.M.Ribeiro, A. Lorke, J.Kotthaus. Jpn. J. Appl. Phys., 36, 1068 (1997).
  41. T.Ide, A. Yamashita, T.Mizutani. Phys. Rev. B, 46, 1905 (1992).
  42. N.N. Ledentsov. Proc. 23rd Int. Conf. on the Physics of Semiconductors, Berlin, Germany, July 21−26, 1996, ed. by M. Scheffler, R. Zimmermann (World Scientific, Singapore, 1996), v. 1. p. 19.
  43. J.-Y. Marzin, J.M. Gerard, A. Izrael, D. Barrier, G. Bastard. Phys. Rev. Lett., 73, 716 (1994).
  44. M.V. Belousov, N.N. Ledentsov, M.V. Maximov, P.D. Wang, I.N. Yassievich, N.N. Faleev, I.A. Kozin, V.M. Ustinov, P. S. Kop’ev, C.M. Sotomayor Torres. Phys. Rev. B, 51, 14 346 (1995).
  45. E.L. Ivchenko, A.V. Kavokin, V.P. Kochereshko, P. S. Kop’ev, N.N. Ledentsov. Superlat. Microstruct., 12, 317 (1992).
  46. G.M.Guryanov, G.E.Cirlin, A.O.Golubok, S.Ya.Tipissev, N.N.Ledentsov, V.A.Shchukin, M. Grundmann, D. Bimberg, Zh.I.Alferov. Surf. Sei., 352−354, 646 (1996).
  47. M.Grundmann, R. Heitz, N. Ledentsov, O. Stier, D. Bimberg, V. M Ustinov, P. S.Kop'ev, Zh.I.Alferov, S.S.Ruvimov, P. Werner, U. Gosele, J.Heydenreich. Superlattices and Microstructures, 19, 81 (1996).
  48. M.A.Cusack, P.R.Briddon, M, Jaros. Phys. Rev. B, 54, R2300 (1996).
  49. N.N.Ledentsov, P.D.Wang, C.M.Sotomayor Torres, A.Yu.Egorov, M.V.Maximov, V.M.Ustinov, A.E.Zhukov, P. S.Kop'ev. Phys. Rev. B, 50, 12 171 (1994).
  50. S.Raymond, S. Fafard, P.J.Poole, A. Wojs, P. Hawrylak, S. Charbonneau, D. Leonard, R. Leon, P.M.Petroff, J.L.Merz. Phys. Rev. B, 54, 11 548 (1996).
  51. А. Ф. Цацульников, H. H. Леденцов, M. В. Максимов, А. Ю. Егоров, Ф. E. Жуков, С. С. Рувимов, В. М. Устинов, В. В. Комин, И. В. Кочнев, П. С. Копьев, Д. Бимберг, Ж. И. Алферров. ФТП, 30, 1793 (1996)
  52. M.J.Steer, D.J.Mowbray, W.R.Tribe, M.S.Skolnick, M.D.Sturge, M. Hopkinson, A.G.Cullis, R. Whitehouse, R.Murray. Phys. Rev. B, 54, 17 738 (1996).
  53. T.Saitoh, H. Takeuchi, J. Konda, K.Yoh. Jpn. J. Appl. Phys., 35, 12 171 996).
  54. A.Bosacchi, F. Colonna, S. Franchi, P. Pascarella, P. Allegri, V.Avanzini. J. Cryst. Growth, 150, 185 (1995).
  55. K.Mukai, N. Ohtsuka, M.Sugawara. Appl. Phys. Lett., 70, 24 161 997).
  56. Z.M.Fang, K.Y.Ma, D.H.Jaw, R.M.Cohen, G.B.Stringfellow. J. Appl. Phys. 67, 7034 (1990).
  57. W.Yang, R.R.Lowe-Webb, H. Lee, P.C.Sercel. Phys. Rev. B, 56, 13 314 (1997).
  58. P.B.Joyce, T.J.Krzyzewski, G.R.Bell, B.A.Joyce, T.S.Jones. Phys. Rev. B, 58, R15981 (1998).
  59. P.Chen, Q. Xie, A. Madhukar, L. Chen, A.Konkar. J. Vac. Sci. Technol. B, 12, 2568 (1994).
  60. H.Saito, K. Nishi, S.Sugou. Appl. Phys. Lett., 73, 2742 (1998).
  61. G.D.Lian, J. Yuan, L.M.Brown, G.H.Kim, D.A.Ritchie. Appl. Phys. Lett., 73, 49 (1998).
  62. J.M.Garcia, T. Mankad, P.O.Holtz, P.J.Wellman, P.M.Petroff. Appl. Phys. Lett., 72, 3172 (1998).
  63. A.J.Williamson, A.Zunger. Phys. Rev. B, 58, 6724 (1998).
  64. A.J.Williamson, A. Zunger, A.Canning. Phys. Rev. B, 57, R4253 (1998).
  65. I.E.Itskevich, S.G.Lyapin, I.A.Troyan, P.C.Klipstein, L. Eaves, P.C.Main, M.Henini. Phys. Rev. B, 58, R4250 (1998).
  66. F.Hatami, N.N.Ledentsov, M. Grundmann, F. Heinrichsdorf, D. Bimberg, S.S.Ruvimov, P. Werner, U. Gosele, J. Heydenreich, U. Richter, S.V.Ivanov, B.Y.Meltser, P. S.Kop'ev, Zh.I.Alferov. Appl. Phys. Lett., 67, 656 (1995).
  67. D.I.Lubyshev, P.P.Gonzalez-Borrero, E. Marega, Jr., E. Petitprez, N. La Scala, Jr., P.Basmaji. Appl. Phys. Lett., 68, 205 (1996).
  68. G.Wang, S. Fafard, D. Leonard, J.E.Bowers, J.L.Merz, P.M.Petroff. Appl. Phys. Lett., 64, 2815 (1994).
  69. P.D.Wang, N.N.Ledentsov, C.M.Sotomayor Torres, I.N.Yassievich, A. Pakhomov, A.Yu.Egorov, P. S.Kop'ev, V.M.Ustinov. Phys. Rev. B, 50, 1604 (1994).
  70. M.Bayer, S.N.Walck, T.L.Reinecke, A.Forchel. Phys. Rev. B, 57, 6584 (1998).
  71. M.A.Cusack, P.R.Briddon, M.Jaros. Phys. Rev. B, 56, 4047 (1997).
  72. H.Jiang, J.Singh. Phys. Rev. B, 56, 4696 (1997).
  73. P.N.Brounkov, A. Polimeni, S.T.Stoddart, M. Henini, L. Eaves, P.C.Main, A.R.Kovsh, Y.G.Musikhin, S.G.Konnikov. Appl. Phys. Lett., 73, 1092 (1998).
  74. H.Lee, W. Yang, P.C.Sercel. Phys. Rev. B, 55, 9757 (1997).
  75. F.Bogani, L. Carraresi, R. Mattolini, M. Colocci, A. Bosacchi, S.Franchi. Sol. Stat. Electron., 40, 363 (1996).
  76. H.Yu, S. Lycett, C. Roberts, R.Murray. Appl. Phys. Lett., 69, 4087 (1996).
  77. J.Kim, L.-W.Wang, A.Zunger. Phys. Rev. B, 57, R9408 (1998).
  78. R.Heitz, M. Grundmann, N.N.Ledentsov, L. Eckey, M. Veit, D. Bimberg, V.M.Ustinov, A.Y.Egorov, A.E.Zhukov, P. S.Kop'ev, Zh.I.Alferov. Appl. Phys. Lett., 68, 361 (1996).
  79. S.Fafard, D. Leonard, J.L.Merz, P.M.Petroff. Appl. Phys. Lett., 65, 1388 (1994).
  80. M. Grundmann, N.N. Ledentsov, O. Stier, D. Bimberg, V.M. Ustinov, P. S. Kop’ev, Zh.I. Alferov. Appl. Phys. Lett., 68, 979 (1996).
  81. M. Grundmann, N.N. Ledentsov, O. Stier, D. Bimberg, V.M. Ustinov, P. S. Kop’ev, Zh.I. Alferov. Phys. Rev. B, 53, RIO 509 (1996).
  82. I. E. Itskevich, M. Henini, H. A. Carmona, L. Eaves, and P. C. Mairi. Appl. Phys. Lett., 70, 505 (1997).
  83. M. Ф. Щанов, К. П. Мелетов, В. А. Петровский. ПЭТ, 4, 216 (1985).
  84. М. Ф. Щанов, С. И. Субботин. ПЭТ, 4, 246 (1977).
  85. Н. Benisty, С. М. Sotomayor Torres, and С. Weisbuch, Phys. Rev. В 44, 10 945 (1991).
  86. D. J. Wolford and J. A. Bradley, Solid State Commun. 53, 1069 (1985).
  87. I. E. Itskevich et al. The 24th International Conference On The Physics Of Semiconductors, August 2−7, 1998, Jerusalem, Israel. Tu-P138.
  88. M. Sugisaki, Y. -W. Ren, S. Sugou, K. Nishi and Y. Masumoto, Solid State Electronics, 42, 1325 (1998).
  89. U. Banin, C. J. Lee, A. A. Guzelian, A. V. Kadavanich, A. P. Alivisatos, W. Jaskolski, G. W. Bryant, AI. L. Efros and M. Rosen, Journal Of Chemical Physics, 109, 2306 (1998).
  90. G. A. Samara. Physica, 139 & 140, 3 (1986).143
  91. Б. С. Кулинкин, В. А. Петровский, В. А. Щанов, Физика и Химия Стекла, 24 (1988).
  92. Ф. И. Крейнгольд и др., ФТП, 23, 1556 (1989).
  93. S. Fffard, Z. R. Wfsilewski, С. Ni, Allen, D. Picard, M. Spanner, J. P. McCaffrey, and P. G. Piva. Phys. Rev. В 59, 15 368 (1999).
  94. D. Bimberg et al., in Semiconductors: Physics of Group IV Elements and III-V Compounds, edited by О. Madelung, M. Schulz, and H. Weiss, Landolt-Bornstein, New Series, Group 3, Vol. 17, Pt. a (Springer, Berlin, 1982), p. 298.
  95. G. H. Li, A. R. Goni, K. Syassen, O. Brandt, and K. Ploog, Phys. Rev. В, 50, 18 420 (1994).
Заполнить форму текущей работой