Диплом, курсовая, контрольная работа
Помощь в написании студенческих работ

Электронно-энергетическое строение и субструктура нанослоев SnOx

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Для определения фазового состава и субструктуры, нанослои исследовались методами просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) и рентгеновской дифракции (РД). Данные о структуре оптических спектров пропускания исследуемых нанослоёв были получены методом оптической спектроскопии. Для получения данных о плотности состояний в зоне проводимости и в валентной зоне, а также субвалентных состояний олова… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1. Литературный обзор
    • 1. 1. Свойства плёнок оксида олова и методы их получения
      • 1. 1. 1. Фазовый состав и структура плёнок
      • 1. 1. 2. Оптические свойства
      • 1. 1. 3. Атомное и электронное строение. Известные механизмы сенсорных свойств SnC>
    • 1. 2. Выводы. Цель и задачи
  • Глава 2. Методы получения и исследования нанослоёв SnOx
    • 2. 1. Получение нелегированных и легированных нанослоёв SnOx
    • 2. 2. Электронная просвечивающая микроскопия (ПЭМ)
    • 2. 3. Методика дифрактометрических исследований
    • 2. 4. Методика оптических исследований
    • 2. 5. Методика спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения XANES (X-ray absorption near edge structure)
    • 2. 6. Методика рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии XPS (X-ray photoelectron spectroscopy)
  • Глава 3. Субструктура, фазовый состав и оптические свойства нанослоёв оксидов олова
    • 3. 1. Фазовый состав и субструктура
      • 3. 1. 1. Данные ПЭМ
      • 3. 1. 2. Дифрактометрические исследования
    • 3. 2. Оптические спектры
    • 3. 3. Выводы
  • Глава 4. Электронное строение плёнок оксидов олова
    • 4. 1. Электронно-энергетические спектры ХА^Б
    • 4. 2. Рентгеновские фотоэлектронные спектры (ХРБ) нелегированных нанослоёв оксидов олова
    • 4. 3. Рентгеновские фотоэлектронные спектры (ХРБ) легированных нанослоёв оксидов олова
    • 4. 4. Модель зонной структуры и оптические свойства нанослоёв
    • 8. пОх
      • 4. 5. Выводы

Электронно-энергетическое строение и субструктура нанослоев SnOx (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность работы:

В настоящее время плёнки оксидов олова широко применяются в различных областях техники, например, в прозрачных проводящих электродах, солнечных батареях, но особый интерес представляют чувствительные слои для газовых датчиков на их основе. Электрические и оптические свойства слоёв БпОх сильно зависят от стехиометрического состава, микроструктуры, кислородных вакансий, фазового состава и концентрации допантов, которые в свою очередь определяются методом получения плёнок. На настоящий момент известно большое количество исследований свойств оксидов олова, однако, большинство из них относится к пленкам, полученных химическими методами, либо пленкам, полученным методами реактивного распыления или испарения. Исследуемые слои, как правило, имеют толщины субмикронного размера. Уменьшение размеров активных элементов сенсоров на основе оксидов олова до нанометровых существенным образом изменяет их свойства, повышая чувствительность к газам. Кроме того, известно, что добавление каталитических металлов таких, как палладий, платина или серебро существенно улучшает газочувствительные свойства этих структур.

Из вышесказанного можно заключить, что пленки оксидов олова, а особенно нанослои 8пОх, представляют собой перспективный объект для исследований с точки зрения создания резистивных газовых сенсоров. Структура и свойства нанослоев оксидов олова находятся в сильной зависимости от способа их получения. Поэтому создание воспроизводимой технологии получения активного материала сенсора, обладающего заданными, хорошо изученными свойствами, является перспективным. Таким образом, комплексное изучение нанослоев БпОх различными методами, позволяющими получить данные как о структуре и субструктуре нанослоев, так и об их фазовом составе и оптических свойствах, взаимосвязи локальной атомной структуры и энергетического спектра электронов в зависимости от условий и методов их формирования является актуальным.

Цель работы: Установление закономерностей фазообразования, структуры и субструктуры, оптических свойств и особенностей формирования электронно-энергетического спектра, влияющих на газочувствительные свойства нанослоев оксидов олова, в зависимости от условий их получения, на основе экспериментальных комплексных исследований.

Основными задачами исследования, исходя из поставленной цели, являются:

— Получение данных о закономерностях фазообразования, структуры и субструктуры, в зависимости от толщины и способов обработки нанослоев Бп методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифракции.

— Установление влияния толщины нанослоев 8пОх на оптические свойства и ширину запрещенной зоны.

— Получение информации о закономерностях формирования электронно-энергетической структуры нанослоев 8пОх, в зависимости от технологии их получения, методами оптической и рентгеновской спектроскопии.

— Разработка модели электронно-энергетического спектра нанослоев БпОх.

— Установление влияния природы атомов легирующей примеси (Ад, Аи, и способа их введения в матрицу на электронно-энергетический спектр

8пОх методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

Объекты и методы исследования. Нанослои оксидов олова БпОх двух толщин 30 и 100 нм получали методом магнетронного распыления металлического олова и последующего их отжига на воздухе при различных температурах. Легирование благородными металлами Р (1, и Аи нанослоев оксидов олова 8пОх толщиной 30 нм осуществлялось двумя способами: поверхностным напылением или сораспылением.

Для определения фазового состава и субструктуры, нанослои исследовались методами просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) и рентгеновской дифракции (РД). Данные о структуре оптических спектров пропускания исследуемых нанослоёв были получены методом оптической спектроскопии. Для получения данных о плотности состояний в зоне проводимости и в валентной зоне, а также субвалентных состояний олова и кислорода были использованы методы спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения XANES (X-ray absorption near edge structure) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии XPS (Х-гау Photoelectron Spectroscopy) с использованием синхротронного излучения.

Научная новизна работы определяется тем, что:

1. Оптимизированы технологические режимы получения и легирования нанослоёв оксидов олова толщиной 30 и 100 нм, полученных методом магнетронного распыления оловянной мишени и окисленных на воздухе в широком диапазоне температур, при которых исследуемые объекты обладают повышенными газочувствительными свойствами.

2. Установлены закономерности фазообразования структуры и субструктуры нанослоёв в зависимости от толщины и температуры оксиления нанослоёв.

3. Впервые получены экспериментальные данные о характере распределения плотности свободных состояний нелегированных нанослоёв, методом XANES с использованием синхротронного излучения.

4. Впервые получены экспериментальные данные о распределении валентных и субвалентных состояний для нелегированных и легированных нанослоёв оксидов олова методом XPS с использованием синхротронного излучения.

5. Предложена композиционная модель электронно-энергетического спектра нанослоёв SnOx.

Практическое значение результатов работы заключается в том, что полученные данные могут быть использованы для оптимизации технологических режимов получения газочувствительных активных элементов при создании резистивных газовых сенсоров на основе нанослоев оксидов олова.

На защиту выносятся следующие положения:

— Закономерности фазообразования оксидов в зависимости от толщины нанослоев металлического олова при их отжиге на воздухе в различных температурных режимах. При увеличении толщины нанослоев до 100 нм обнаружено образование промежуточной фазы тетрагонального монооксида олова БпО (170 — 420 °С) и нестабильной фазы орторомбического диоксида олова 8пС>2 (250 — 700 °С).

— Влияние толщины нанослоев оксидов олова на оптические свойства, обусловленные изменениями электронно-энергетического спектра. При толщине 30 нм получено максимальное значение ширины запрещённой зоны Её=4.8 эВ. В исследуемых структурах обнаружен максимум оптического поглощения при -3.6 эВ, обусловленный дефектными состояниями кислородных вакансий нестехиометрического диоксида олова, влияние которых увеличивается с уменьшением толщины нанослоев.

— Модификация электронно-энергетической структуры исследуемых объектов, обусловленная изменением состава фаз, формирующих нанослой. Возможность образования поверхностной аморфной фазы на начальной стадии взаимодействия Бп — О на границе раздела конденсированная фаза-воздух.

— Существенная зависимость относительной интенсивности плотности субвалентных состояний Бп 4ё и О 2б от температуры отжига, толщины нанослоев и природы атомов легирующей примеси (А§-, Аи, Рс1).

— Композиционная модель электронно-энергетического спектра БпО-БпОг на основе совмещения ХАШБ и ХРБ данных в единой энергетической шкале, объясняющая особенности оптического поглощения и широкий разброс литературных данных о ширине запрещённой зоны в этой системе.

Личный вклад автора. Постановка задач, определение направлений исследований выполнены научным руководителем д.ф.-м.н., профессором Домашевской Э. П. Образцы нанослоев оксидов олова получены зав. лабораторией к.ф.-м.н. Рябцевым C.B. Данные, полученные методом просвечивающей электронной микроскопии в ВГТУ, обработаны при личном участии автора. Оптические спектры получены лично автором совместно с доцентом кафедры ФТТ и НС ВГУ Лукиным А. Н. Данные, полученные впервые методами XANES и XPS с использованием синхротронного излучения научной группой кафедры ФТТ и НС ВГУ, обработаны лично автором. Автором произведен сбор, подготовка и расчеты всех экспериментальных данных по фазовому составу, структуре и субструктуре, оптическим свойствам и электронно-энергетическому строению исследуемых материалов. Обсуждение полученных результатов проведено с д.ф.-м.н., профессором Домашевской Э. П., д.ф.-м.н. Юраковым Ю. А., к.ф.-м.н. Рябцевым C.B., к.ф.-м.н., доцентом Лукиным А. Н., к.ф.-м.н. Турищевым С. Ю. Основные результаты и выводы получены лично автором.

Апробация работы. Материалы диссертационной работы докладывались и обсуждались на V Международной конференции «Нелинейные процессы и проблемы самоорганизации в современном материаловедении» (Воронеж, 2004), IV и VI международной научной конференции «Химия твердого тела и современные микрои нанотехнологии» (Кисловодск, 2004 и 2006), Десятой всероссийской научной конференции студентов-физиков и молодых ученых «ВНКСФ-10» (Екатеринбург, 2004), Международной конференции студентов, аспирантов и молодых учёных по фундаментальным наукам «Ломоносов — 2005» (Москва, 2005), European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis ECASIA'05 (Вена, Австрия, 2005), V Национальной конференции по применению Рентгеновского, Синхротронного излучений, Нейтронов и Электронов для исследования наноматериалов и наносистем «РСНЭ НАНО — 2005» (Москва, 2005), X региональной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых по физике полупроводниковых, диэлектрических материалов (Владивосток, 2006), 10-th International Conference on Electronic Spectroscopy and Structure -2006 (ICESS 10) (Фоз-ду-Игуассу, Бразилия, 2006), III Всероссийской конференции «Физико-химические процессы в конденсированном состоянии и на межфазных границах» «Фагран — 2006» (Воронеж, 2006), The European Materials Research Society 2006 spring meeting (E-MRS 2006 Spring Meeting) (Ницца, Франция, 2006), XIX Всероссийской научной школе — семинаре «Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь» (Ижевск, 2007).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 7 статей в реферируемых журналах и 14 работ в трудах конференций.

Объём и структура диссертации. Диссертация состоит из введения, 4 глав и заключения, изложенных на 112 страницах машинописного текста, включая 58 рисунков, 6 таблиц и список литературы из 60 наименований.

Основные результаты и выводы.

Впервые проведены комплексные исследования электронно-энергетического строения и субструктуры нанослоёв БпОх, нелегированных и легированных благородными металлами, полученных методом магнетронного распыления металлического олова с последующим окислением на воздухе, методами просвечивающей электронной микроскопии, оптической спектроскопии, дифрактометрии, рентгеновской и фотоэлектронной спектроскопии. Полученные результаты позволяют сделать следующие выводы:

1. Установлены закономерности фазообразования при окислении нанослоёв металлического олова на воздухе (3−8п—"БпО—>8п02 в интервале температур 170-^750 °С для различных толщин нанослоёв. С увеличением толщины нанослоёв до 100 нм при окислении образуется промежуточная фаза тетрагонального монооксида олова 8пО и нестабильная фаза орторомбического диоксида олова 8п02, которая сохраняется вплоть до 700 °C. При окислении на воздухе тонких нанослоёв преобладающими являются фазы 8п02.

2. Обнаружено влияние толщины нанослоёв на особенности оптических свойств и ширину запрещённой зоны, обусловленное дефектными состояниями кислородных вакансий нестехиометрического оксида олова. Получена максимальная величина запрещённой зоны Её=4.8 эВ в нанослоях 8п02 толщиной 30 нм.

3. Впервые получены данные ХАИЕ8 о плотности состояний в зоне проводимости нанослоёв 8пОх различной толщины и фазового состава. Установлено образование поверхностной аморфной фазы в исходных металлических нанослоях, формирующейся на начальной стадии взаимодействия 8п — О на границе раздела конденсированная фаза-воздух.

4. Показана существенная зависимость относительной интенсивности плотности субвалентных состояний кислорода и олова от температуры отжига и толщины нанослоёв. Показано проявление повышенной сорбционной способности легированных и нелегированных нанослоёв, и ее зависимость от температуры и способа легирования.

5. Предложена композиционная модель электронно-энергетического спектра системы 8пОх, позволяющая объяснить особенности спектров поглощения и вариабельность ширины запрещённой зоны в пределах 2.7+4.8 эВ.

Показать весь текст

Список литературы

  1. M.A.Gubbins, V. Casey, S.B.Newcomb. Nanostructural characterisation of Sn02thin films prepared by reactive r.f. magnetron sputtering of tin // Thin Solid Films. V. 405. P. 270−275.2002.
  2. Masaya Ichimura, Koji Shibayama, Kanji Masui. Fabrication of SnC>2 thin filmsby a photochemical deposition method // Thin Solid Films. V. 466. P. 3436. 2004.
  3. C. Ristoscu, L. Cultrera, A. Dima, A. Perrone, R. Cutting, H.L. Du, A.
  4. Busiakiewicz, Z. Klusek, P.K. Datta, S.R. Rose. SnC>2 nanostructured films obtained by pulsed laser ablation deposition // Applied Surface Science. V. 247. P. 95−100.2005.
  5. P. Montmeat, R. Lalauze, J.-P. Viricelle, G. Tournier, C. Pijolat. Model of thethickness effect of Sn02 thick film on the detection properties // Sensors and Actuators B. V. 103. P. 84−90. 2004.
  6. B.W. Licznerski, K. Nitsch, H. Teterycz, T. Soba’nski, K. Wi’sniewski.
  7. Characterisation of electrical parameters for multilayer SnC>2 gas sensors // Sensors and Actuators B. V. 103. P. 69−75. 2004.
  8. P. Menini, F. Parret, M. Guerrero, K. Soulantica, L. Erades, A. Maisonnat, B.
  9. Chaudret. CO response of a nanostructured Sn02 gas sensor doped with palladium and platinum // Sensors and Actuators B. V. 103. P. 111−114. 2004.
  10. Handbook of Electron and Photonic Materials. Kasap, Capper. Springer. 1406.
  11. I.A. Karapatnitski, K.A. Mit. D.M. Mukhamedshina, N.B. Beisenkhanov.
  12. Optical, structural and electrical properties of tin oxide films prepared by magnetron sputtering.// Surface and Coating Technology. V. 151−152. P. 7681.2002.
  13. M. Ichimura, K. Shibayama, K. Masui. Fabrication of Sn02 thin films aphotochemical deposition method.// Thin solid films. V. 466. P. 34−36.2004.
  14. Т. Kobayashi, Y. Kimura, H. Suzuki, T. Sato, T. Tanigaki, Y. Saito, C. Kaito.
  15. Process of crystallization in thin amorphous tin oxide film // Journal of Crystal Growth. V. 243. P. 143−150.2002.
  16. Z. W. Chen, J. K. L. Lai, С. H. Shek. Insights into microstructural evolutionfrom nanocrystalline Sn02 thin films prepared by pulsed laser deposition // Phys. Rev. В. V. 70.165 314−1-7 .2004.
  17. G. Korotcenkov, A. Cornet, E. Rossinyol, J. Arbiol, V. Brinzari, Y. Blinov.
  18. Faceting characterization of tin dioxide nanocrystals deposited by spray pyrolysis from stannic chloride water solution //Thin Solid Films. V. 471. P 310−319. 2005.
  19. I.A. Karapatnitski, K.A. Mit', D.M. Mukhamedshina, N.B. Beisenkhanov.
  20. Optical, structural and electrical properties of tin oxide films prepared by magnetron sputtering // Surface and Coatings Technology. V. 151−152. P. 7681.2002.
  21. B.N. Mukashev, S.Zh. Tokmoldin, N.B. Beisenkhanov, S.M. Kikkarin, I.V.
  22. Valitova, V.B. Glazman, A.B. Aimagambetov, E.A. Dmitrieva, B.M. Veremenithev. Influence of structure changes of oxide films on their physical properties // Materials Science and Engineering В. V. 118. P. 164 169.2005.
  23. Feng Yi-Si, Yao Ri-Sheng, Zhang Li-De. Preparation and Optical Properties of
  24. Sn02/Si02 Nanocomposite // Chin.Phys.Lett. V. 21, No. 7. P. 1374 -1376. 2004.
  25. Matti A. Maki-Jaskari, Tapio T. Rantala. Band structure and optical parametersof the Sn02 (110) surface // Physical Review В. V. 64. 75 407−1-7. 2001
  26. N. Sankara Subramanian, В. Santhi, S. Sundareswaran, K. S. Venkatakrishnan.
  27. Studies on Spray Deposited S11O2, Pd: Sn02 and F.'Sn02 Thin Films for Gas Sensor Applications // Synthesis and Reactivity in Inorganic, Metal-Organic and Nano-Metal Chemistry. V. 36. P. 131- 135. 2006.
  28. R.Dolbec, M.A. El Khakani, A.M. Serventi, M. Trudeau, R.G. Saint-Jacques.
  29. Microstructure and physical properties of nanostructured tin oxide thin films grown by means of pulsed laser deposition // Thin Solid Films. V. 419. P. 230−236. 2002.
  30. A.M., Лукин A.H., Логачёва B.A., Касаткина E.B., Бобрешов И.В.,
  31. С.В. Особенности структуры края собственного поглощения плёнок олова, оксидированных в потоке кислорода // Конденсированные среды и межфазные границы. 2005. — Т.7, № 1. С. 89−97.
  32. Madeleine Meyer, Giovanni Onida, Maurizia Palummo, Lucia Reining. Abinitio pseudopotential calculation of the equilibrium structure of tin monoxide // Physical Review В. V. 64. P. 45 119−1-9. 2001.
  33. M. S. Moreno, R. F. Egerton, J. J. Rehr, P. A. Midgley. Electronic structure oftin oxides by electron energy loss spectroscopy and real-space multiple scattering calculations // Physical Review В. V. 71. P. 35 103 1 — 6. 2005.
  34. J. Chouvin, J. Olivier-Fourcade, J.C. Jumas, B. Simon, Ph. Biensan, F.J.
  35. Ferna’ndez Madrigal, J.L. Tirado, C. Pe’rez Vicente. SnO reduction in lithium cells: study by X-ray absorption, 119Sn Mo’ssbauer spectroscopy and X-ray diffraction // Journal of Electroanalytical Chemistry. V. 494. P. 136 146.2000.
  36. Won-Kook Choi, Jun-Sik Cho, Seok-Kyun Song, Hyung-Jin Jung, Seok-Keun
  37. Koh. Auger electron and X-ray photoelectron spectroscopy studies of oxidation of tin using thin films grown by reactive ion-assisted deposition // Jpn. J. Appl. Phys. V. 35 P. 5820−5824. 1996.
  38. Р.Б. Васильев, Л. И. Рябова, М. Н. Румянцева, A.M. Гаськов. Неорганические структуры как материалы для газовых сенсоров. Успехи химии. 73. (10) С. 1019 1038. 2004.
  39. СмитК.Ф. Молекулярные пучки. М.: Физматгиз, 1959. 160 с.
  40. Методы исследования атомной структуры и субструктуры материалов,
  41. В.М. Иевлев, А. Т. Косилов, Ю. К. Ковнеристый, А. И. Лебедев, Э. П. Домашевская и др., Учебное пособие, Воронеж: ВГТУ, 2001,446 стр.
  42. П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэелан. «Электроннаямикроскопия тонких кристаллов». Пер. с англ., М., Мир, 1968, 574 стр.
  43. В.А. Теоретические основы рентгеновской эмиссионнойспектроскопии / В. А. Немошкаленко, В. Г. Алешин // Наукова думка. -1974.-Киев.-С. 376.
  44. Т.М. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия / Т.М.
  45. , В.А. Фомичев // Изд-во ЛГУ. 1971. — Ленинград. — С. 132.
  46. Fedoseenko S.I. Development and present status of the Russian German soft
  47. X-ray beamline at BESSY II. S.I. Fedoseenko, I.E. Iossifov, S.A. Gorovikov et. al. // Nucl. Instr. And Meth. in Phys. Res. A. 2001. -№. 470. P. 84−88.
  48. Л. Основы анализа поверхности и тонких плёнок / Л. Фелдман,
  49. Д. Майер // Изд-во Мир. 1989. — Москва. — С. 344.
  50. JCPDS ICDD, 1995, PDF-2 Sets 1−45 database, Newton Square, PA 19 073,1. USA, card N 4 673.
  51. JCPDS ICDD, 1995, PDF-2 Sets 1−45 database, Newton Square, PA 19 073,1. USA, card N29- 1484.
  52. JCPDS ICDD, 1995, PDF-2 Sets 1−45 database, Newton Square, PA 19 073,1. USA, card N41−1445.
  53. Domashevskaya E.P., Ryabtsev S.V., Yurakov Yu.A., Chuvenkova O.A.,
  54. V.M., Turishchev S.Yu., Kushev S.B., Lukin A.N. / SnOx obtaining by thermal oxidation of nanoscale tin films in the air and its characterization // Thin Solid Films. -2007. V. 515, Issue 16. P. 63 506 355.
  55. JCPDS ICDD, 1995, PDF-2 Sets 1−45 database, Newton Square, PA 19 073,1. USA, cardN6−395.
  56. E. P., Chuvenkova O. A., Kashkarov V. M., Kushev S. В.,
  57. S. V., Turishchev S. Yu., Yurakov Yu. А. ТЕМ and XANES investigations and optical properties of SnO nanolayers // Surface and Interface Analysis. 2006. — V. 38, Issue 4. P. 514−517.
  58. Zhang L., Ivey D.G. Criterion for Silicide Formation in Transition Metal
  59. Silicon Diffusion Couples // Canadian metallurgical quarterly. 1995. — V. 34, № 1.-P. 51 -72.
  60. Ю.А., Рябцев C.B., Чувенкова O.A., Домашевская Э.П. ,
  61. В.М., Турищев С. Ю., Кущев С. Б., Канныкин С. В. Образование окислов в нанослоях олова // Конденсированные среды и межфазные границы. 2004. — Т.6, № 4. С. 415−421.
  62. Э.П., Юраков Ю. А., Лукин А. Н., Рябцев С.В., Чувенкова
  63. E.L. Peltzer у Blanca, A. Svane, N.E. Christensen, С.О. Rodriguez and О.М.
  64. Cappannini, M.S. Moreno. Calculated static and dynamic properties of (3-Sn and Sn О compounds. // Phys. Rev. B. — 1993. V. 48. P. — 15 712−15 718.
  65. К. B. Sundaram, G. K. Bhagavat. Optical absorption studies on tin oxide films.
  66. J. Phys. D. 1981. — V. 14. — P. 921 — 925.
  67. Jae Ho Chung, Yong — Sahm Choe, Dae — Seung Kim. Effect of low energyoxygen ion beam on optical and electrical characteristics of dual ion beam sputtered Sn02 thin films. // Thin Solid Films. 1999. — V. 349. — P. 126 129.
  68. Sanon G., Rup R., Mansingh A. Band-gap narrowing and band structure indegenerate tin oxide (Sn02) films // Phys. Rev. B. 1991. — V. 44, № 1. И.-P. 5672−5680.
  69. Burstein E. Anomalous optical absorption limit in InSb. // Phys. Rev. 1954.1. V. 93.-P. 632−633.
  70. Berggren K.-F., Sernelius B.E. Band gap narrowing in heavily doped manyvalley semiconductors // Phys. Rev. B. 1981. — V. 24, № 4. — P. 1971 -1986.
  71. Hamberg I., Granqvist C.G., Berggren K.-F. Band gap widening in heavily Sndoped ln203 // Phys. Rev. B. 1984. — V. 30, № 6. — P. 3240 — 3249.
  72. Э.П., Рябцев C.B., Тутов E.A., Юраков Ю, А., Чувенкова
  73. O.A., Лукин А. Н. Оптические свойства нанослоёв Sn02-X. // Письма в ЖТФ. 2006. — Т. 32, Вып. 18. С. 7−12.
  74. J. Robertson. Electron structure of Sn02, Ge02, Pb02, Te02 and MgF2. // J.
  75. . C. 1979. V. 12. P. 4767- 4776.
  76. C. McGuinness, С. B. Stagarescu, P. J. Ryan, J. E. Downes, D. Fu, К. E.
  77. Smith, R. G. Egdell. Influence of shallow core-level hybridization on the electronic structure of post-transition-metal oxides studied using soft X-ray emission and absorption. II Phys. Rev. B. 2003. — V. 68. — P. 165 104 — 1 165 104−10.
  78. С.Ю., Юраков Ю. А., Рябцев C.B., Чувенкова O.A., Кашкаров
  79. В.М., Домашевская Э. П. Синхротронные исследования образования окислов в нанослоях олова // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. — № 1. С.66−70.
  80. Domashevskaya Е.Р., Yurakov Yu.A., Ryabtsev S.V., Chuvenkova O.A.,
  81. Kashkarov V.M., Turishchev S.Yu. Synchrotron investigations of the initial stage of tin nanolayers oxidation. // Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 2007. — V. 156−158. P. 340−343.
  82. Электронная и ионная спектроскопия твёрдых тел. / Под ред. JI.
  83. Фирмэнса, Дж Вэнника и В. Декейсера. М.: Мир, 1981. 467 с. 5 5. http ://www. lasurface.com/database/elementxps .php 56. Bearden J.А. // Rev. Modern Phys., 1967. V.39. P. 78.
  84. Seok-Kyun Song, Jun-Sik Cho, Won-Kook Choi, Hyung-Jin Jung, Dongsoo
  85. Choi, Jeong-Yong Lee, Hong-Koo Baik, Seok-Keun Koh. Structure and gas-sensing characteristics of undoped tin oxide thinfilms fabricated by ionassisted deposition // Sensors and ActuatorsB. 1998. V. 46.- P. 42−49.
  86. Y. Nagasawa, T. Choso, T. Karasuda, S. Shimomura, F. Ouyang, K. Tabata, Y.
  87. Yamaguchi. Photoemission study of the interaction of a reduced thin film Sn02 with oxygen // Surface Science. 1999. V. 433−435.- P. 226−229.
  88. D.I. Jerdev, B.E. Koel / Oxidation of ordered Pt-Sn surface alloys by 02 //
  89. Surface Science. 2001. V. 492.- P. 106−114.
Заполнить форму текущей работой