Диплом, курсовая, контрольная работа
Помощь в написании студенческих работ

Специфика доменного разбиения в ультрадисперсных пленках Fe, Ni, Fe-79Ni, (Fe, Co) 80-Gd20 с микропоровой системой

Диссертация: Специфика доменного разбиения в ультрадисперсных пленках Fe, Ni, Fe-79Ni, (Fe, Co) 80-Gd20 с микропоровой системой
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Неоднократно замечено, что в результате серии последовательных вспомогательных технологических операций над отобранной магнитной ПС, получается элемент памяти или вычислительное устройство, не удовлетворяющее нормативным требованиям. Не менее трудна и другая, казалось бы, чисто техническая задача. На современных уровнях интеграции и миниатюризации в работе вычислительных элементов возникает… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА I. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
    • 1. 1. Магнитная структура тонких пленок и оптический фурье-анализ
    • 1. 2. Наведенная магнитная анизотропия ТФП
      • 1. 2. 1. Перпендикулярная магнитная анизотропия и причины ее возникновения
      • 1. 2. 2. Наведенная магнитная анизотропия аморфных пленок
    • 1. 3. Функция распределения частиц по размерам в применении к процессам роста пленок
    • 1. 4. Разупорядочение и аморфные структуры
    • 1. 3. Дефекты г основные виды релаксационных процессов в тонких пленках
    • I. 5. I. Особенности ультрадисперсных сред
    • 1. 6. Постановка задачи исследования
  • ГЛАВА II. ТЕХНОЛОГИЯ ПРЕПАРИРОВАНИЯ И МЕТОДИКИ ИССЛЕДОВАНИЯ ТФП
    • 2. 1. Получение ультрадисперсных ТФП в различных стадиях ориентированного роста
    • 2. I.I. Аморфные пленки системы переходной металл — редкая земля
      • 2. 2. Когерентные методики исследования магнитной и дефектной структур кристаллического строения ТФП
        • 2. 2. 1. Малоугловое рассеяние электронов в применении к анализу К- и М-структур
        • 2. 2. 2. Условия подобия электронных и оптических двумерных фурье-спектров
        • 2. 2. 3. Когерентная фурье-оптика изображений кристаллических и магнитных структур ТФП
        • 2. 2. 4. Математические характеристики для описания спектрального состава, анизотропии, корреляционных свойств
  • К- и М-спектров систем ТФП
  • ГЛАВА III. ПЛАНАРНАЯ НАВЕДЕННАЯ МАГНИТНАЯ АНИЗОТРОПИЯ И
  • РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ПОР В МЕЛКОДИСПЕРСНЫХ ТФП
    • 3. 1. Поведение ряби намагниченности в динамике
      • 3. 1. 1. Дефокусирующий режим работы в лоренцевой микроскопии
      • 3. 1. 2. Воздействие внешних магнитных полей на спектры ряби ТФП
    • 3. 2. Электронно-микроскопическое исследование кристаллической структуры мелкодисперсных пленок Зё, & - 79//
      • 3. 2. 1. Малоугловое рассеяние электронов в применении к анализу поровых систем мелкодисперсных ТФП
    • 3. 3. Влияние распределения пор на константу наведенной магнитной анизотропии Кц и характер магнитного спектра
      • 3. 3. 1. Зависимость Ku='f (dz). Электронно-микроскопическая оценка параметра анизотропии системы пор Э£
      • 3. 3. 2. Лазернодифрактометрическая оценка
  • ГЛАВА 1. У. РЕГУЛЯРНАЯ МАГНИТНАЯ СТРУКТУРА И МНОГОФРАКЦИОННОСГЬ ПОРОВЫХ СИСТЕМ В УЛЬТРАДИСПЕРСНЫХ ТФП .8″
    • 4. 1. Специфика доменного разбиения в ультрадисперсных пленках
    • 4. 2. Структурные предпосылки возникновения регулярной магнитной структуры
    • 4. 3. Намагничивание ультрадисперсных пленок в перпендикулярных полях
    • 4. 4. Особенности кристаллического строения ультра дисперсных Ж, Se-ift ТФП. X
      • 4. 4. 1. Структурные закономерности в ультрадисперсных монокристаллах
    • 4. 5. МУР электронов от ультрадисперсных пленок Ф-jTl. Сравнение с ДКФ в лазерной дифрактометрии. Ю
    • 4. 6. Корреляция кристаллических и магнитных структур в спектральном представлении
  • ГЛАВА V. ОСОБЕННОСТИ СТРОЕНИЯ АМ0ШЫХ СТРУКТУР ПМ-РЗ. П
    • 5. 1. Фильтрация двумерных фурье-спектров и восстановление улучшенного изображения аморфных структур
    • 5. 2. Старение аморфных ТФП
    • 5. 3. Структурная мультиплетность аморфных пленок
  • ВЫВОДЫ .V
    • 1. 1. 1 ,-.". !, iiitftj*.*. t4t. it > *.. .tiiitii «I

Специфика доменного разбиения в ультрадисперсных пленках Fe, Ni, Fe-79Ni, (Fe, Co) 80-Gd20 с микропоровой системой (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Ультрадисперсные, аморфные магнитные пленки, фольги представляют принципиальный интерес для физики твердых неупорядоченных сред с пониженной размерностью, а также теории магнетизма.

Однако имеется кроме того три важнейших аспекта прикладного, технологического плана, которые сдерживают широкое внедрение высокодисперсных планарных сред (ПС) в качестве перспективных элементов микроэлектроники и вычислительной техники.

1. Проблема управляемого роста ТФП.

В большинстве методов препарирования, даже при отлаженной и жесткой технологии получения пленок, степень выхода ПС с требуемыми магнитными свойствами не более 1−3%. Обычно фиксируется и контролируется порядка десятка параметров в том или ином методе приготовления с последующими измерениями интегральных магнитных характеристик пленок и сопоставлением с эталонными данными. Этап отбора из массовой партии объектов и завершает процедуру получения. Как правило, остаются на втором плане детали структурной кинетики в процессе препарирования ПС за исключением соблюдения правил общего контроля за окислением, различными видами загрязнений, межфазных превращений. Фактически в такой постановке нет задачи управления, а требуется найти в прикладных исследованиях достаточно полную и небольшую совокупность макропараметров, точное соблюдение которых и гарантирует высокий процент выхода нужных технологу ПС.

2. Проблемы эксплуатационной стабильности.

Неоднократно замечено, что в результате серии последовательных вспомогательных технологических операций над отобранной магнитной ПС, получается элемент памяти или вычислительное устройство, не удовлетворяющее нормативным требованиям. Не менее трудна и другая, казалось бы, чисто техническая задача. На современных уровнях интеграции и миниатюризации в работе вычислительных элементов возникает необходимость в отводе больших потоков тепла. ПС вынуждены эксплуатироваться в режимах переменных высоких температур, что приводит к нарушению структурной термостабильности. Сюда же относятся задачи стабильности ПС в агрессивных средах, радиационной, лазерной, электромагнитной устойчивостей.

Известна повышенная стабильность ультрадисперсных ПС, которые обладают большой плотностью различных дефектов, в частности микропор, больше-, малоугловых границ. Казалось бы, при наложении разнообразных внешних воздействий подобные дефекты станут концентраторами, генераторами локальных деградационных процессов, которые приведут к полному разрушению ПС. Достаточно упомянуть сегрегационные эффекты на порах, трещинах, которые обусловят химическое фазовое расслоение.

3. Проблема субмикронных ЦМД позволит добиться существенного повышения объема и быстродействия оперативной памяти ЭВ4 1У-У поколений. Особую роль приобретает задача получения ТФП толщиной i^I03A в «закритическом» состоянии, которое будет характеризоваться перпендикулярной магнитной анизотропией. Получение объектов с такими свойствами возможно при измельчении зерна, о о.к.р. до уровня 20−50А, что характерно для ультрадисперсных пленок. Проблема субмикронных ЦМД тесно смыкается с областями «вращательной» магнитной анизотропии таких же размеров. Совершенно естественно, что механизмы генерации самих микро-ЦМД, а также формирование путей продвижения в матрице могут сильно зависеть от системы дефектов кристаллического строения ТФП. Сюда же можно отнести процессы магнитной деградации БИС. Сама концепция «за-критического» состояния в ТФП требует детального изучения взаимопереходов планарной намагниченности и тонкой магнитной структуры (ТМС) в области с перпендикулярной магнитной анизотропией. Не менее важна задача взаимосвязи при эхом особенностей магнитного разбиения высокодисперсных ПС с характером и распределением мик-ропоровой системы.

В связи с вышеупомянутым в настоящей диссертационной работе были поставлены следующие цели:

1. Отработать методику микролегирования при получении ультрадисперсных пленок с развитой системой микрои макропор. Реализовать на высокодисперсных, аморфных ПС типа РЗ-ПМ систематическое комплексное применение методов просвечивающей, лоренцевой микроскопии, магнитооптики. Разработать методики малоуглового рассеяния электронов (МУРа) и лазерно-дифракто-метрического анализа электронно-микроскопических снимков кристаллической (К-) и магнитной (М-) структур ТФП.

2. Изучить корреляцию планарной магнитной структуры ТФП и сетки микропор для мелко-, ультрадисперсных пленок. Построить численную характеристику степени анизотропии, упорядоченности системы микропор и рассмотреть зависимость константы магнитной анизотропии Кц-?(ге)от степени упорядоченности поровой системы. Обсудить динамику спектрального состава ряби намагниченности при воздействии внешних полей.

3. Выяснить специфику доменного разбиения в ультрадисперсных ПС Jfi и структурные предпосылки возникновения регулярной магнитной структуры. Исследовать поведение тонкого магнитного разбиения в перпендикулярных полях, его особенности, взаимоотношения между видами разбиений. Роль колонкового, сетчатого роста в ультрадисперсных пленках при формировании «закритического» состояния ТФП с I ч< 103А. В методиках МУРа и когерентной Фурье-оптики оценить корреляцию магнитного разбиения в «закритическом11 состоянии с характером и величиной поровой анизотропии.

4. Сопоставить кинетику структурных мультиплетов в процессах низко, высокотемпературного изотермических отжигов в поликристаллических и ультрадисперсных ПС. Попытаться сформулировать рабочую гипотезу замедления старения в многоуровневой системе пространственных неоднородностей, каковой являются ультрадисперсные ТФП. Провести гониометрические исследования с целью установления природы электронно-микроскопического контраста поровой сетки.

5. Исследовать переход от ультрадисперсных ПС к аморфным при интенсификации диспергирующего фактора (ПМ-РЗ). Изучить диапазоны пространственных неоднородностей в аморфных пленках (20— о о тО.

50А и ICr-IO^A). Обсудить возможность интерпретации суперсеточных структур аморфных ПС в терминах флуктуации плотности материала, механизмы старения, распада аморфного состояния.

Основные результаты опубликованы в работах ?99−103,108−118, 132−138].

В заключении выражаю глубокую благодарность моим научным руководителям: канд. физ-мат.наук, профессору Ветер В. В. и канд.физ.-мат.наук, доценту Юдину В. В. за предоставленную тему, постановку задачи и многочисленные полезные обсуждения результатовканд. физ.-мат.наук, доценту Юдиной Л. А. за постоянное внимание и интерес к работе. Я очень благодарна Матохину А. В., Пащенко Т. Н., Федоровой Э. Л. в соавторстве с которыми выполнена часть работы, а также всем остальным сотрудникам кафедр ФТТ и АНИ за интерес к работе и обсуждение ее результатов на семинарах.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Технология тонких пленок: Справочник. Под ред.: Майселл Д., 1. I .
  2. Глэнг, Пер, с англ.- М.: Сов. радио, 1966, т.1, 662с., т.2, 764с.
  3. Тонкие ферромагнитные пленки: Пер. с нем./Под ред. Телеснина Р.В.-М.: Мир, 1964, 355с.
  4. Р. Магнитные тонкие пленки. Пер. с англ.-М.: Мир, 1967, 420с.
  5. М. Тонкие ферромагнитные пленки. Пер. с англ.-Ленинград.: Судостроение, 1967, 204с.
  6. А.Г. Наведенная магнитная анизотропия. Институт металлофизики АН УССР.- Киев.: Наукова думка, 1976, 161с.
  7. А.И., Пушкарь В. Н. Реальные кристаллы с магнитным порядком.- Киев.: Наукова думка, 1978, 290с.
  8. Постам И. TheoKj rf таупШхаЫт tipple. -JEEE Тга/is. on Macjnel., 1968, y. 4, к> i, P.32−51.
  9. Hoffmann. /-/. Mocjneiic properties of Hid stwduze. fcuomagnetic films in uelaiim to theii stiuduze. Thifl Solid TiljnS, 1979, v .58, № 2, p.223−233.
  10. K.J. %eouj tf maanetiialim ixpple in. /fawwjfneiie films. J. &ppI. P&ys., 1968,1. V/.38, p.1503−1525.
  11. В.А. Магнитная структура ТМП и ферромагнитный резонанс.- ЖЭТФ, 1968, т.54, te I, с.303−311.
  12. И.С., Чернышева Л. И. Статистические характеристики тонкой магнитной структуры ТМП.- ФММ, 1969, т.28, №. 3, с.440−453.
  13. В.А., Исхаков Р. С. Стохастическая магнитная структура и спиновые волны в аморфном ферромагнетике.
  14. Б кн.: Физика магнитных материалов.- Новосибирск.: Наука, 1983, с.5−21.
  15. В.А., Исхаков Р. С. Спиновые волны в аморфных ферромагнетиках.- Красноярск, 1978.- с. (Препринт/ Институт физики С0:81Ф).
  16. П., Хови А., Миколсон Р., Пешли Д., Уэлен М. Электронная микроскопия тонких кристаллов: Пер. с англ.- М.: Мир, 1968, 562с.
  17. В.И., Спивак Г. В., Павлюченко О. П. Электронная микроскопия магнитной структуры ТМП.- УФН, 1972, т.106, вып.2, с.229−278.
  18. Р.В., Пынько В. Г., Сивков П. И. Причины образования магнитной структуры доменов ТМП.- Изв. АН СССР, сер.физ., 1967, т.31,вып.3, с.432−441.
  19. Suzuki 77 Упvesicae. icons i/iio Ырр^е leAflth in etfapotatecf tPun fifms SyrriLCbotaDpy.-PtyS'Siat SoP.^ws^ y.37, № I, p. i0I-II4.
  20. Л.С., Лукашенко Л. И., Зологницкий Ю. В., Морозова Н. И. Доменная структура ТМП пермаллоя, обрадающих перпендикулярной анизотропией.- ФММ, 1973, т.35, № 5, с.904−910.
  21. В.А., Черняк Г. Т., Горохов Е. А. Влияние внешних изотропных напряжений на доменную структуру пленок.- ФММ, 1975, т.39, № 3, с.442−448.
  22. л.А., Рязанов А. И. О диффузионном взаимодействии пор.- ФТТ, 1976, т.41, № 2.
  23. Ojeian Z.^cwpeit 2. 7iaur? Aotfezbeucjuncjan Solent* mlkzo-bcopi se Un auJnaA/nwcjes Ma^ne. tisiftun^s /Ztpp-fe. -J. OngeuJ. P/u/g., 1970, V .30, Ш I, p.80−83.24. fcappeii H., ТеМел&его Housci W.
  24. M obkayigkiit des tipple spektmrns dufinez scAicAten yon uniax-ia^etanisottx)pcc? KitstaWitgtosse, scAcc&{ dicke and ci iussezem fiifd. fllacfneicsm, X972, 1/.3, № 15, p.93-ioi.
  25. Hale M.E., ZulPei A! № Xkteimt notion of гпарле-tization cltsiii6utio/i in-t/ii/i films' using electionrntct-oscopy-jMppl. Pfys. 9 I960, у.31, N2 2, p.238−243.
  26. P.Л. Магнитные металлические пленки в микроэлектронике.- М.: Сов. ради о, 1980, 77с.
  27. Ш^ег Р., Каутаггп P. Study о/ Si/n/nettical U) q??s in Peimalioy end J. otenlz
  28. Шсгоьсору. Pkys. Stat. Sol.91 969, 1/.34, p.649−660.
  29. Шур Я.С., Глазер А. А., Тагиров Р. И. 0 природе одноосной анизотропии ТФП.- Изв. АН СССР, сер, физ., 1965, т.29, № с.706−712.
  30. Шур Я.С., Тагиров Р. И., Глазер А. А., Потапов А. П. 0 влиянии величины кристаллического зерна на анизотропию и магнитные свойства ТМП пермаллоя.- Изв. АН СССР, сер.физ., 1967, т.31, Ш 5, с.729−732.
  31. Л.А., Юдина Л. А., Кашина Л. Г., Ветер В. В. Влияниекристаллической структуры ТМП на магнитные параметры.-ФММ, 1975, т.39, Ш 6, с.1297−1302.
  32. Л.А., Чеботкевич Л. А., Ветер В. В., Юдин В.В.,
  33. Ю.Д. О связи ряби намагниченности и кристаллической структуры тонких ферромагнитных пленок железа.- ФММ, 1973, т.36, № 3, с.507−513.
  34. Д., Палатник Л. С., Федоренко А. И. Корреляция между кристаллической и доменной структурами тонких Со ТМП.
  35. ФММ, 1975, т.39, № 4, с.757−762.33. lesaik 0.&- Оле ofi ife posscSfe mecAo/itsms ofolmottM trf induced afiisoizopy сл fenomQ^netic fi/mg.-Piys. Slat. Sof. t 1969, V .35, № 2,p.959−964.
  36. Л.С., Черемской П. Г., Фукс М. Я. Поры в пленках.-М.: Энергоиздат, 1982, 215с.
  37. Л.С., Фукс М. Я., Равлик А. Т., Черемской П. Г., Золот-ницкий Р.В. Влияние ориентированной пористости на магнитные свойства конденсируемых пленок.- В кн.: Докл. У1 Междун. коллоквиума по магнитным пленкам.- Минск, 1973, с.62−68.
  38. Л.Г., Левин Г. И., Недоступ В. М. О природе наведенной анизотропии.- В кн.: Структура и свойства металлических пленок. Сер. металлофизика.- Киев .: Наукова думка, 1966, с.42−49.
  39. В.М., Корнюшин Ю. В. Магнитная анизотропия, обусловленная несферичностью пор и включений в ферромагнетике.- Фмм, 1972, т.33, № 2, с.440−445.
  40. КоиШо Т., 7ujInlaid M. CPutaxurriL
  41. Petpcn diet/fat a ru soil ору cirapoialed nтелекс Ltcr/i (LicieP and cofait — racket • iiifi films.- Ptys. $oe. jap.? 1966, V .21, № 10, P. I9I4-I92I.
  42. Л.И., Кошкин Л. И., Нестреляй Т. И. Перпендикулярная анизотропия пленок магний-марганцевого феррита.- Изв. АН СССР, сер.физ., 1970, т.34, № 5, с. ЮЮ-1015.
  43. To&liim su kiski, SlufiQu^e Mans us Pa to, Чо&Щипи Samurai. O&seilrnUcTL of domain watts in. anioip faus т^яе-lic films ty Лгал iz. dectton Fflidioscopy. / &f>pl Pfys-, 1977, V .16, № 8, p. I467-I468.
  44. Л.Д., Лифшиц Е. М. Электродинамика сплошных сред.- М.: Гостехиздат, 1957, 532с.
  45. А. Теория доменных стенок в упорядоченных средах.-М.: Мир, 1977, 307с.47. %иЫс!Ю 3. Siu/atuie а/Lc/ oidyin of Jieur sitipe domains lji o6liopii incide/ice ьетаМоуand jfl f^iPmS. PfyS. $VC. 1970, V .28, № I, p.62−73.
  46. Дж.У. Монокристаллические пленки, полученные испарением в вакууме.- В кн.: Физика тонких пленок. Т.1У.-М.: Мир, 1970, с.167−227.
  47. Я.М., Геворкянц С. Д., Погосян Г. А. Микромагнитная структура пленок Se-jfi б состоянии недонасыщения б перпендикулярных полях.- ФММ, 1979, т.4, № I, с.875−879.
  48. Л.А., Ветер Б. В. Магнитные свойствасистем.- Тез.докл.Всесоюз.конф. по ФМЯ.- Харьков, 1979, с. 299.
  49. Л.С., Лукашенко Л. И., Золотницкий Ю. В. О механизмах перемагничивания наклонноосажденных пленок пермаллоя с перпендикулярной анизотропией.- ФММ, 1973, т.35, № I, с.78−84.
  50. В.Г., Вершинина Л. И., Середкин В. А. Исследование пленок как сред для термомагнитной записи информации.-Сб.:Физика магнитных пленок.- Саранск, I9T59, с.174−176.
  51. А.И. Квазиклассическая теория аморфных ферромагнетиков.- ФТТ, I960, т.2, Ш 3, с.502−504.
  52. В.М., Лазарев Б. Г., Мельников В. И., Судовцев А. И. Критические параметры аморфных металлических пленок.- УФЖ, 1976, т.21, № 6, с.883−903.
  53. К., Кобе С. Аморфные ферро- и ферримагнетики.: Пер. с нем.- М.- Мир. 1982, 291с.
  54. Г. А. Аморфные магнетики.- УФН, 1981, т.134,№ 2, с.305−331.i
  55. С.В., Туров Е. А. Металлические стекла и аморфный магнетизм.- Изв. АН СССР, сер.физ., 1978, т.42, Ш 8, с.1570−1579.
  56. А.А., Тагиров Р. П. Аморфные магнитные материалы,-Изв.АН СССР, сер.физ., 1978, т.42,№ 2,с.1600−1608.
  57. Ptoc. Ъь±-. Conf., kale tongu ted f I976az, i 2, p. 1735−1737.
  58. N.J. 9%itks О. fc. 7/ie ntteiosiwetute Qmotpkcus taie earth/ -hansi-tion meiol t/Lin-1 PijfS- Я): (Zppf. Ptys., 1977, v .10, 18,/ 95/98.
  59. Т.} Hecj edits X., OaU г f., tfagjfj-,
  60. P. В- Joimotion mecAonism tfl- amoip/wus jfi- P tAi/i. frifas.-QctQptys.Qcad. See. Милд.? 1980, и.49, № 1−3, p. I8I-I88.64. toy lot J-CMtyi/lu O. Magnetic a/usctippy tf eoapotaied amotpAot/s films uf Mue syrfe/n Сфь&у
  61. Со^Лрре. Ptyz., 1977″ v «48, Ш I, p.358−361.65• Зёагтр Hj.} SbctAs O.fc. Micioztwc-faie and Maqne-tczm in. amotp/U?u? ъаче eaitt itansitien ruial tHi/i jj-ifms. 7~ Miciostutciuie. — ^
  62. PfifS., 1978, к .49,№ 2, p.3340−3437.
  63. А.Г., Верховская Т. А. Малоугловые' исследования микроструктуры пленок на электронографе ЭМР-ЮО.- Тез.докл.
  64. X Всесоюз.конф. по электр.микроскопии.- Ташкент, т.1,1976, с.340−341.
  65. А.Г., Бардамид А. Ф., Верховская Т. А., Шалдерван А. И. Структура аморфных пленок германия и кремния.- ФТТ, 1974, г. 16, Ш 9, с.2759−2761.
  66. А.Г., Верховская Т. А., Фильтр для отсева неупруго рассеянных электронов с повышенным рабочим напряжением.-Тез.
  67. XI Всесоюз.конф. по элект.микроскопии.- Таллин.: Наука, 1980, т.1, с.З.
  68. Порай Кошиц Е. А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами.- УФН, 1949, т.34, № 4, с.573−610.
  69. Новейшие методы исследования полимеров: Пер. с англ./Под ред. Ки Б, — М.: Мир, 1966, с.193−200.
  70. .Т., Палатник Л. С., Деревянченко А. С., Горенко Н. И. Применение метода, малоуглового рассеяния электронов для изучения структуры конденсированного углерода.- Кристаллография, 1974, т.19, № I, с.181−194*
  71. Е.М., Беляев О. Ф. Малоугловая электронная дифракция на электронном микроскопе УЭМВ-ЮО.- Заводская лаборатория, 1968, т.34, № 2, с.1329−1331.
  72. К.А., Угай Я. И., Стецив Я. И. Определение структурных и термодинамических параметров некоторых аморфных пленок методом дифракции электронов.- Тез. XI Всесоюз.конф. по электр. микроскопии.- Таллин.: Наука, 1980, т.1, с. 156.
  73. Cic S-.C., Cai^ijf S. Q, not pious алс/
  74. Ud Magnetism ?, sectm JO. 3. ileitis Ciaiima/z.-MMM-75, 1976, № 5, p.147−148.s ¦
  75. К.А. Явления структурного разупорядочения в тонких металлических пленках.- В кн.: Физика тонких пленок. Ч. П: Пер. с англ.М.: Мир, 1967, с.13−29.
  76. Дж.П., Моазед К. Л. Образование зародышей при кристаллизации тонких пленок.- В кн.: Физика тонких пленок. т.1У: Пер. с англ.М.: Мир, 1970, с.123−166.
  77. Родин Т.Н.-, Уолтон Д. Образование зародышей в ориентированных пленках.- В кн.: Монокристаллические пленки: Пер. с англ. М.: Мир, 1966, с.44−57.
  78. В.И., Еникеев Э. Х. Статистическое исследование распределения расстояний между зародышами на поверхности ионного -кристалла.- ФТТ, 1973, т.13, Ш 6, с.1930−1933.
  79. В.И. Пространственное распределение взаимодействующих зародышей в островковых конденсатах.- ФТТ, 1975, т.17,1. Ш 8, с.2478−2480.
  80. Mndip (xtundy Р'%. 2oien{z Uliczoseopy pfik -М acetic Юо/nQiA Siwetuie in fl/iwipflous iate Совав! dmpozaied at
  81. Pot ma? incidence, pA^s- s/^/. P*?^ Ca)> 1977, V .41, № I, p.65−73.
  82. Я.E., Кагановский Ю. С., Калинин В. В. Двумерная коалесценция крупинок hi на поверхности естественного монокрист-талла . ФТТ, 1969, т. II, № I, с.250−255.
  83. Я.Е., Кагановский Ю. С., Калинин В. В., Слезов В. В. Диффузионная коалесценция металлических крупинок на неметаллической подложке.- ФТТ, 1970, т.12, №'7, с.1953−1962.
  84. Я.Е. Диффузионное деформирование пористых кристаллических структур.- ФТТ, 1975, т.17 № 7, с.1950−1956.
  85. Г. И., Власов В. П. и др. Декорирование поверхности твердых тел.- М.: Наука, 1976, 283с.
  86. В.Е., Точицкий Э. И., Жеребило Н. К. Влияние островковых металлических пленок на процессы кристаллизации сплошных пленок.- Кристаллография, 1979, т.24, № 5, с.1023−1025.
  87. B.C., Моргунов В. К., Золотухин И. В., Иевлев К. И. О зародышеобразовании золота на ионных кристаллах ФТТ, 1970, т.12, Ш 10, с.2974−2976.
  88. Sact don J-j.-, Maiiin 3. h ire с Ration dutinydis^li 6и ti tm if iwefai сд & С ire г friCrnS w popfi-de.-Jk/i goAdZifms} 1972, V. 10, p. 99−107.
  89. Я.Е., Кагановский Ю. С. Диффузионный перенос массы в островковых пленках.- УФН, 1978, т.125, № 3, с.№ 9−523.
  90. J. С. — IHdois fj.- Kein R. Radial dC9^tc6utiffn function tf nuclei ffoi/r?*d Sy condensation em a cfean PA* I May. (Thobet. £>хреыт. and dtyfl. Pfys., 1974, V .29, № 5, p. I2I3-I220.
  91. А.Ф. Структурный анализ жидкостей и аморфных тел.-М: Высщая школа, 1980, 327с.
  92. B.M., Трусов Л. И., Холмянский В. А. Структурные превращения в тонких пленках.- М.: Металлургия, 1982, 387с.
  93. И.Д., Трусов Л. И. Ультрадисперсные среды.- М.: Атомиздат, 1977, 327 с.
  94. М.Я., Черемской П. Г. Ориентированная пористость, форма элементов структуры и анизотропия микронапряжений в вакуумных конденсатах.- ФММ, 1974, т.37, 4, с.611−617.
  95. PcUaicZak tf., ia ieyzka к/. PfyzteUfHutelttip nf iftii Ue-tfi f’l^s depozilecf emto я ceoM suSs^z^e, Qcta PitfS., 1976, /.A49, № I, p.19−26.
  96. .С. Возможность метода наблюдения роста и кристаллизации тонких пленок непосредственно в электронном микроскопе.- В кн.: Современная электронная микроскопия в исследовании вещества.- М.: Наука, 1982, с.127−131.
  97. .А., Егоров В. А. Кристаллическая структура редкоземельных интерметаллидов.- Иркутск, 1976, 321с.
  98. Г. П., Юдина Л. А., Трегуб С. В., Плотников B.C., Осу-ховский В.Э., Матохин А. В., Юдин В. В., Ветер В. В. Роль микропор в различных стадиях аморфизации пленок системы (Со, j/l,
  99. Эё, Эе-jfOv- Mi., .- Тез. I Всесоюз. семинара по аморфному магнетизму.- Красноярск, 1978, с. ПЗ-114.
  100. Т.П., Юдина Л. А., Матохин А. В., Юдин В. В., Ветер В. В. Морфологические особенности строения ультрадисперсных и аморфных сред и наведенная анизотропия.- Тез.Всесоюз.конф.по ФМЯ. Харьков, 1979, с.48−49.
  101. Г. П. Особенности кристаллической и магнитной структур ультрадисперсных пленок.- В кн., Физика’магнитных пленок. Саранск, 1979, с.163−165.
  102. В.В., Рудин Е. И., Матохин А. В., Тимакова Г. П., Гуленко Б. А., Чухрий Н. И., Юдина Л. А., Дальний порядок в структуре аморфных пленок.-ФТТ, 1982, т.24, № 2, с.443−448.
  103. Н.А., Шелковников В. Н., Белоусов А. Н. Магнитные свойства пленок сплавов РЗМ с С?, Л, ^ . Иркутск, 1977, с.
  104. В.Г., Мушаилов Э. С., Пынько Г. П. Измерение намагниченности насыщения и толщины ТМП методом вращающих моментов.-В кн.: Аппаратура и методы исследования тонких магнитных пленок.- Красноярск, 1968, с.72−75.
  105. М.Я., Палатник Л. С., Черемской П. Г. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей конденсированными пленками.- ФММ,' 1971, т.31, № 5, с.917−923.
  106. М.Я., Черемской П. Г., Нечитайло А. А. и др. Влияние отжига на стабильность макро- и микропористости в конденсированных пленках. ФММ, 1975, т.39, № 2, с 308−312.
  107. Г. П., Юдина Л. А., Кленин С. А., Юдин В. В., Ветер В. В., Фурье-оптика в физике тонких ферромагнитных пленок.- ФММ, 1977, т.44, Ш б, с.1998−2005.
  108. ПО. Тимакова Г. П., Матохин А. В., Ветер В. В., Юдина Л. А., Юдин В. В. Когерентные методы анализа системы субдефектов в тонких магнитных слоях.-ФММ, 1979, т.47, № 4, с.741−746.
  109. Л.А., Федорова Э. Л., Тимакова Г. П., Кленин С. А., Козодой Г. В., Юдин В. В., Ветер В. В. Оптико-цифровые методы • изучения магнитной анизотропии.- Тез.докл.Всесоюзн.конф.по ФМЯ.- Баку, 1975, с.
  110. Е.И., Тимакова Г. П., Чухрий Н. И., Пащенко ТЛ., Поли-щук В.Е., Юдина Л. А., Ветер В. В. О возможностях управления физическими свойствами в деструктивных процессах.-Тез.докл.
  111. П семинара по аморфному магнетизму.- Красноярск, 1980, с.61−62.
  112. Г. П., Федорова Э. Л., Пащенко Т. Н., Осуховский В. З., Юдина Л. А., Ветер В. В. Зависимость магнитной анизотропии тонких Зё-jfi пленок от распределения пор.- В сб.: Физика магнитных пленок.- Иркутск, 1977, с.70−75.
  113. Л.А., Федорова Э. Л., Козодой Г. В., Тимакова Г. П., Ветер В. В., Юдин В. В. Анизотропия пор и магнитная структура тонких ферромагнитных пленок.- В сб.: Физика магнитных материалов.- Калинин, 1974, № 2, с.86−94.
  114. Лендарис Стемли. Метод дискретизации дифракционных картин для автоматического распознавания образов.- ТИИЭР, 1970, т.58, Ш2, с.22−34.
  115. В.А. Радиооптика.- М.: Сов. радио, 1975, 293с.
  116. Э.Л., Юдина Л. А., Ветер В. В. Поры и наведенная анизотропия*- В сб.: Физика магнитных материалов.- Калинин, 1973, № I, с.32−39.
  117. Зеггсы /?.'Р $та№ алцА eJkdum ' Ж^ыйЬнгк СпШ. е.&с?и)п Лгсеъоььору. &d ФСшсиand ЪЫюп ПЫсъоьсору .-/feu) %vk, 1969, v .3,p. 155−218.
  118. Mcifil U- l-tedurrwrL- Иъи^шгд cut pmoctiw-fiM оВ/еЫел wnd Juckt&vu.(j,№ft cum гксЛгрпем. mkxoskopibfun. oSjekA Si Id.
  119. Mccwiopie, I97I, JW 27, p.73−79.
  120. Wade R. H, 'Silcoxl. CoiamSas Uutdruze си Шк vacuum oondenstd Pd fifms. Oppl PAfbJetteis, 1968, V/. 8, Ш I, p.7−10.
  121. Wade R. Small arujle t&Uua tcaiteuna {j-wm vacuum condensed meiaftcoftbs.- Pfy*. UM. Япеё. } 1967, V. I9, p.57−62-p.63−76.
  122. .В., Поцелуйко А. А., Пынько В. Г. Электронно-микроскопическое исследование магнитного состояния плоского однослойного ансамбля малых частиц 9ё, Зе- Со -ФММ, 1983, т.5, 16, C. I2I8-I2I9.
  123. А.А., Коссвгч В. М. Рост кристаллов в аморфных пленках.-В кн.: Рост кристаллов, Т. Х1У.- М.: Наука, 1983, с.62−70.
  124. Е.Г., Трусов Л. И., Лаповок В. Н., Новиков В. И. Коллективные эффекты при диффузионном взаимодействии в ансамблемалых металлических частиц.- ФТТ, 1983, т.25, № 8, с.2290−2295.
  125. Дж.У., Халиуа М., Тон Ф., Виллаш Д. Г. Улучшение качества и восстановление трехмерных изображений голографичес-кими методами.- ТИИЭР, 1977, т.65, № I, с.49−74.
  126. JI.A., Федорова Э. Л., Тимакова Г. П., Антонова Л. М., Гуленко В. А., Юдин В. В. Кинетика структурных мультиплетов в процессе диффузионной гомогенизации поликристаллических пленок.- ФММ, 1983, т.56, № 3, с.351−357. /
  127. Л.А., Тимакова Г. П., Бунин О. А., Кленин С. А., Юдин В. В., Ветер В. В. Влияние распределения пор на магнитные свойства тонких пленок с перпендикулярной анизотропией.- Тез.докл. Всесоюзн.конф. по ФМЯ.- Донецк, 1977, с. 236.
  128. Tudin V. I/., Vi тамга P., Tedotofa B.l.? Judina
  129. J.й¦ fane ties if ti^c-tute hiew^ntincs tf pohjau^^ -Ш uttiadC&pettfFn films cLuKncf 4ews ofifa di^odaitW. y п Мекдунар. Летняя школа по процессам роста тонких пленок, 18−20 сент., 1983.
Заполнить форму текущей работой

На отлично!