Модификация свойств приповерхностных слоев стабилизированного диоксида циркония при ионном облучении
Результаты проведенных исследований обсуждались на следующих Международных конференциях: двенадцатой международной конференции «Взаимодействие ионов с поверхностью» (Москва 1995), третьем Российско-Китайском симпозиуме «Advanced Materials and Processes» (Kaluga, Russia 1995), E-MRS Spring Meeting (Strasbourg, France 1995), третьем межгосударственном семинаре «Структурно-морфологические основы… Читать ещё >
Содержание
- Глава 1. РАДИАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ В ШИРОКОЗОННЫХ ОКСИДНЫХ МАТЕРИАЛАХ
- 1. 1. Радиационные процессы в оксидных материалах
- 1. 2. Образование включений новой фазы в диэлектрических матрицах при ионном облучении
- 1. 3. Влияние ионного облучения на диоксид циркония и стабилизированный диоксид циркония
- 1. 4. Дефекты в стабилизированном диоксиде циркония
- 1. 4. 1. Дефекты в стабилизированном диоксиде циркония, обусловленные наличием стабилизирующей добавки
- 1. 4. 2. Свойства дефектов СДЦ, подвергнутого термохимическомувосстановлению и рентгеновскому излучению
- 1. 4. 3. О корреляции между поведением С-дефектов и электрической проводимостью
- 1. 5. О возникновении при ионном облучении диэлектриков макроскопических дефектов
- 1. 6. Выводы и постановка задачи
- Глава 2. ВЫБОР РЕЖИМОВ ИОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ И МЕТОДИКИ ИССЛЕДОВАНИЯ СВОЙСТВ ИОННО-ОБЛУЧЕННОГО СТАБИЛИЗИРОВАННОГО ДИОКСИДА ЦИРКОНИЯ
- Введение 57 2.1. Методика облучения образцов стабилизированного диоксида циркония
- 2. 1. 1. Выбор объектов исследования
- 2. 1. 2. Методика облучения СДЦ
- 2. 2. Результаты моделирования процессов, происходящих в стабилизированном диоксиде циркония при облучении легкими и тяжелыми ионами
- 2. 3. Методы исследования свойств ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- 2. 3. 1. Рентгено-дифракционные методы исследования свойств ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- 2. 3. 2. Измерение эффекта Холла в ионно-облученном стабилизированном диоксиде циркония
- 2. 3. 3. Оптические методы исследования свойств ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- 2. 3. 4. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- 2. 4. Методика расчета параметров металлических включений в диэлектрических матрицах, основанная на теории Ми
- 2. 5. Выводы
- Глава 3. ИЗМЕНЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СТАБИЛИЗИРОВАННОГО ДИОКСИДА ЦИРКОНИЯ ПРИ ИОННОМ ОБЛУЧЕНИИ И ФОРМИРОВАНИЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ ВКЛЮЧЕНИЙ С МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПРОВОДИМОСТЬЮ В СДЦ
- 3. 1. Исследование изменений электрофизических параметров стабилизированного диоксида циркония при ионном облучении
- 3. 2. Образование наноразмерных включений с металлической проводимостью в СДЦ при облучении ионами Не
- 3. 3. Сравнение параметров НВ, возникающих в СДЦ при облучении ионами Не и Ъх
- 3. 4. Влияние термического отжига на параметры HB в СДЦ
- 3. 5. Полосы оптического поглощения в области энергий -3,3 эВ и ~4,2 эВ
- 3. 6. Диффузионные процессы в СДЦ при ионном облучении
- 3. 7. Влияние электрического поля, приложенного в процессе облучения, на модификацию свойств стабилизированного диоксида циркония
- 3. 8. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- 3. 9. Фотолюминисценция ионно-облученного стабилизированного диоксида циркония
- ЗЛО
- Выводы
- Глава 4. МОДЕЛЬ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ, ПРОИСХОДЯЩИХ В МОНОКРИСТАЛЛАХ СТАБИЛИЗИРОВАННОГО ДИОКСИДА ЦИРКОНИЯ ПРИ
- ИОННОМ ОБЛУЧЕНИИ
- 4. 1. Модель микроскопических процессов, происходящих в монокристаллах стабилизированного диоксида циркония при облучении ионами Не и Zr
Модификация свойств приповерхностных слоев стабилизированного диоксида циркония при ионном облучении (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
Направленное изменение свойств диэлектриков ионными пучками привлекает к себе в настоящее время большое внимание в связи с возможностью управления их электрическими, оптическими, магнитными, механическими характеристиками. Особый интерес представляют исследования, связанные с изучением процессов образования наноразмерных фаз (металлических, полупроводниковых) в приповерхностных слоях оксидов в процессе ионного облучения, в связи с созданием и приложением в науке и технике наноструктурированных материалов [1].
Однако несмотря на большой научный и практический интерес механизмы изменения структуры и химического состава приповерхностных слоев диэлектриков на основе оксидов металлов при облучении ионами исследованы недостаточно. Основные результаты получены по распылению поверхности оксидов тяжелыми ионами низких и средних энергий, а в исследованиях процессов формирования металлических нановключений — при облучении ионами металлов.
Мало изученными остаются процессы изменения стехиометрического состава приповерхностных слоев диэлектриков при облучении легкими ионами, когда высока роль ионизационных механизмов дефектообразования. К моменту начала настоящей диссертационной работы практически не изученными были процессы модификации ионными пучками свойств таких оксидов, у которых высока подвижность кислородной компоненты, что создает особые условия для изменения свойств материала при ионном облучении и формирования металлических нановключений.
К таким материалам относятся, в частности, оксидные суперионные проводники — твердые тела, для которых ионная проводимость преобладает над электронной при прохождении электрического тока.
Стабилизированный диоксид циркония (СДЦ) — легированный некоторыми металлами диоксид циркония (ДЦ) принадлежит к этому классу [2].
Диоксид циркония проявляет сложный полиморфизмон имеет три полиморфные модификации: 1) моноклинная (а-ХтОг), 2) тетрогональная (Р-2г02), кубическая (у-^гСЬ) [2]. При температурах 1000−1200 °С происходит переход между аи Р-ггОг, а при температурах 2300−2500 °С — между 3- и у-ЪхО^. Чтобы получить у-ггСЬ при более низких температурах в оксид циркония добавляют оксид иттрия или оксиды других (двухили трех-валентных) металлов, которые образуют с ХхОг твердые растворы кубической структуры. Такой оксид циркония носит название стабилизированного.
Диоксид циркония и стабилизированный диоксид циркония имеют важные практические применения. В частности, стабилизированный диоксид циркония используется в качестве твердого электролита в топливных элементах, газовых сенсорах и других электрохимических устройствах [2], а также является перспективным оптическим материалом в связи с происходящим в настоящее время развитием исследований по созданию устройств интегральной оптики. Это привело к выполнению многочисленных исследований, связанных с целенаправленной модификацией свойств СДЦ под влиянием различных, в том числе и радиационных воздействий.
Интенсивное исследование некоторых оксидов, в частности, диоксида циркония {ХгОг) и циркона [3,4] началось в связи с необходимостью выбора соответствующих материалов, находящихся в активной зоне ядерного реактора [5] (см. также монографию [6] и приведённую в ней литературу). При этом основное внимание уделялось изучению влияния облучения быстрыми нейтронами на механические и тепловые свойства оксидов.
Более детальное исследование свойств оксидов, и в частности, влияния на них радиационных воздействий [1,6] было вызвано потребностями создания защитных покрытий в технике и микроэлектронике, а также развитием тонкоплёночной технологии изготовления интегральных схем [7,8]. Тем не менее, следует отметить, что радиационные эффекты в оксидах оказались изученными в меньшей степени, чем в таких материалах как классические ионные кристаллы [1,5,6,9], полупроводники [10−13] и металлы [14,15].
Различными авторами изучалось воздействие ионизирующего (у- [16], рентгеновского и оптического [17] излучения на спектроскопические свойства СДЦ.
Модификации свойств СДЦ ионными пучками посвящены лишь отдельные исследования. Например, в [18] выяснены условия, необходимые для достижения максимально высокой концентрации атомов железа на поверхности СДЦ методом ионной имплантации, что представляет интерес при создании в поверхностном слое материала смешанной (электронной и ионной) проводимости, а также для достижения эффекта каталитической активности некоторых окислительно-восстановительных реакций, происходящих на поверхности СДЦ. Поэтому проведение исследований, выполнение которых привело бы к возможности контролируемой модификации свойств ЪхО^ЪА с помощью ионных пучков, позволило бы улучшать параметры изготовляемых на его основе устройств. Это направление является особенно перспективным в связи с начавшимся развитием технологии изготовления электрохимических ячеек на основе тонкоплёночных твёрдых электролитов [2].
При проведении первых исследований по облучению ЪхО% тяжелыми ионами с большими дозами (>1017 ион/см2) отмечалось, что при таком воздействии кристаллическая структура и состав этого материала сохраняются (см. обзорные работы [19,20]). При этом рассматривались различные процессы, которые могут происходить в этом материале при ионном облучении. Авторы работы [19] пришли к выводу, что в ЪхОг процессы, обусловленные образованием тепловых клиньев, являются пренебрежимыми. Этот вывод подтверждается в работе [21] на основе данных по оценке давления насыщенных паров ЪхОъ В работе [20] обсуждалась возможность образования стехиометрических нарушений в ионно-облучённом ЪхОъ Был сделан вывод о том, что отсутствует предпочтительное распыление компонент при ионной бомбардировке ЪхО% что не приводит, например, к возникновению металлического состояния в этом материале. Однако последний вывод был пересмотрен в более поздних работах (см. обсуждение этого вопроса в недавно опубликованной работе [22]). В частности, в [22] методом рентгеновской фотоэмиссионой спектроскопии было показано, что после облучения ионами аргона с энергией 3 кэВ и дозами (0.08 — 3.5)-1019 ион/см2 в первом от поверхности атомном слое присутствует Ъх в металлическом состоянии и Ъх^О (средний состав ЪхОола), а в трёх последующих атомных слоях — ХхО и Zx20ъ (средний состав ХхОц). Сделан вывод о том, что наиболее низкое состояние окисления циркония, генерируемое на внешнем атомном слое, должно быть вызвано предпочтительным распылением кислорода, что находится в согласии со значительным различием энергий поверхностной связи для кислорода и циркония. Примыкающие к первому слою более глубокие слои становятся композиционно однородными в результате индуцируемых ионной бомбардировкой процессов смешивания и перегруппировки, а также эффекта атомной диффузии.
При облучении кристаллов тяжёлыми и лёгкими ионами соотношение механизмов воздействия как на поверхность, так и на объём материала является различным. Так, в случае тяжёлых низкоэнергетических ионов доминируют, в основном, упругие столкновения, приводящие к селективному распылению материала и соответствующим стехиометрическим нарушениям. Радиационное же дефектообразование в твёрдых телах, облученных лёгкими ионами, имеет свою специфику, связанную с неупругими механизмами энергетических потерь, которая по отношению к ТхОг, по нашим сведениям, в литературе не обсуждалась. Так, например, является открытым вопрос о том, могут ли происходить структурные и композиционные изменения при облучении СДЦ лёгкими ионами на глубинах порядка проецированного пробега ионов подобно тому, как это наблюдалось, например, в оксидах тантала [23] и алюминия [24]. В частности, практически не исследовалась возможность образования в СДЦ микроскопических дефектов, например, типа центров окраски. Кроме того, насколько нам известно, отсутствует информация о возможности образования в имплантированном СДЦ центров, которые могут приводить к возникновению в нём электронной проводимости. Отсутствуют также данные о стабильности радиационных дефектов в СДЦ при отжиге, в том числе в области температур, при которых этот материал используется в качестве твёрдого электролита. Поэтому, с точки зрения решения вопросов управления свойствами СДЦ ионным облучением представляется достаточно важным: 1) исследование возможности изменения электрических и оптических свойств СДЦ, изменения стехиометрического состава и формирования включений металлической фазы при ионном облучении на достаточно больших (порядка нескольких сот нанометров) глубинах, 2) выяснение механизмов образования радиационных дефектов и их роли при модификации свойств ионно-облученного СДЦ, 3) формулировка модели микроскопических процессов, происходящих в СДЦ при ионном облучении.
Целью настоящей работы является исследование радиационно-стимулированных изменений структурных, оптических и электрических свойств приповерхностных слоев СДЦ при облучении ионами инертных газов и ионами циркония.
Научная новизна работы состоит в следующем: — впервые обнаружено возникновение электронной проводимости в облученных ионами монокристаллах СДЦ за счет изменения стехиометрического состава материала: на образцах, облученных ионами Не (энергия Е-40 кэВ, доза Ф=1018ион/см2), была зафиксирована электропроводность, равная ~1 Ом^см" 1, установлено, что в интервале температур Т=77−300К концентрация электронов практически не зависит от Т и равнялась п=1019 см" 3, а их подвижность слабо Л возрастает от 0.5 до 1.4 см /В с с увеличением Т;
— впервые показано, что в облученных ионами Не монокристаллах СДЦ, возникновение полосы поглощения в оптических спектрах пропускания в интервале длин волн 400 — 650 нм связано с образованием наноразмерных включений с металлической проводимостью;
— показано, что формирование наноразмерных включений в приповерхностных слоях СДЦ носит пороговый характер по дозе облучения и в случае облучения ионами Не коррелирует с образованием блистеров;
— впервые показано, что внешнее электрическое поле, приложенное к образцу в процессе облучения СДЦ ионами Не, приводит к ускорению (замедлению) накопления дефектов и наноразмерных включений металлической фазы;
— предложена модель микроскопических процессов, происходящих в СДЦ при ионном облучении, основанная на представлении о высокой подвижности ионов кислорода в исходном материале и объясняющая модифицированные свойства СДЦ с единой микроскопической точки зрения.
На защиту выносятся следующие основные положения и результаты:
1. Результаты анализа холловских данных, свидетельствующие о возникновении электронной проводимости в облученных ионами монокристаллах СДЦ за счет изменения стехиометрического состава материала.
2. Результаты анализа оптических данных для ионно-облученных монокристаллов СДЦ, свидетельствующие о возникновении в СДЦ наноразмерных включений с металлической проводимостью. и.
3. Эффект влияния внешнего электрического поля при облучении СДЦ ионами Не на происходящие в материале процессы возникновения включений и изменения проводимости.
4. Модель микроскопических процессов, происходящих в СДЦ при ионном облучении. Модель основана на представлении о высокой подвижности ионов кислорода в исходном материале и объясняет модифицированные ионным облучением свойства СДЦ с единой микроскопической точки зрения. Модель может быть использована для выработки рекомендаций по модификации ионным облучением свойств других твердых электролитов.
Достоверность полученных результатов подтверждается их воспроизводимостью, применением современных экспериментальных методов исследования свойств ионно-облученного СДЦ, современных теоретических представлений для интерпретации экспериментальных данных, согласием данных эксперимента с расчетными данными, полученными на основании имеющихся моделей.
Практическая значимость работы определяется тем, что ее результаты могут быть использованы при создании проводящих слоев в приповерхностной области диэлектрической матрицы СДЦ, а также при создании устройств, в которых СДЦ используется в качестве твердого электролита, и устройств интегральной оптики.
Отработанные режимы ионной имплантации, в том числе при наличии внешних электрических полей, приложенных к облучаемому образцу, могут быть использованы при создании оптических фильтров для планарных оптических устройств.
Представления о зарождении наноразмерных металлических включений, происходящем в СДЦ, могут быть применены при разработке модели формирования новых фаз в процессе ионного облучения.
Апробация результатов работы.
Основные результаты диссертации отражены в 15 публикациях, список которых приведен в конце настоящего раздела.
Результаты проведенных исследований обсуждались на следующих Международных конференциях: двенадцатой международной конференции «Взаимодействие ионов с поверхностью» (Москва 1995), третьем Российско-Китайском симпозиуме «Advanced Materials and Processes» (Kaluga, Russia 1995), E-MRS Spring Meeting (Strasbourg, France 1995), третьем межгосударственном семинаре «Структурно-морфологические основы модификации материалов методами нетрадиционных технологий» (Обнинск 1995), E-MRS Spring Meeting (Strasbourg, France 1996), XXVII Международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва 1997), XIII Международной конференции Взаимодействие ионов с поверхностью (Звенигород 1997), XXVIII Международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва 1998) — на Всероссийских конференциях: II Всероссийском семинаре «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (Н.Новгород, 1994), десятой конференции по химии высокочистых веществ (ННовгород 1995),, IV Всероссийской конференции по модификации свойств конструкционных материалов пучками заряженных частиц (Томск 1996), Симпозиуме «Синергетика. Структура и свойства материалов. Самоорганизующиеся технологии» (Москва. 1996), Ш Всероссийском семинаре «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (Нижний Новгород 1996), IV Всероссийском семинаре «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (Нижний Новгород 1998).
Структура и объем диссертации
Диссертация содержит 161 страницу и состоит из введения, 4 глав, заключения и списка цитируемой литературы.
Список литературы
состоит из 82 наименований.
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ.
1. Сформулированы условия, при которых происходит необратимая модификация свойств СДЦ при облучении ионами Не. Экспериментально выбраны режимы облучения пленок и монокристаллов СДЦ, которые привели к модификации структурных, электрических, оптических характеристик монокристаллов СДЦ.
2. Для монокристаллов СДЦ облученных ионами Не, обнаружено увеличение электропроводности образцов до о=1 Ом" 1 см" 1 при дозе 1018 ион/см2, обусловленной возникновением свободных электронов с концентрацией п"1019 см" 3 и подвижностью см2/В-с, слабо зависящими от температуры в диапазоне Т=77−300 К. Проводимость образцов оставалась стабильной при нагреве вплоть до температур отжига Та=400 °С в атмосфере аргона и уменьшалась при дальнейшем повышении Та.
3. В спектрах пропускания монокристаллов СДЦ, облученных ионами Не и 2 г, в области длин волн 1=400+650 нм обнаружен ранее не наблюдавшийся пик потерь интенсивности прошедшего света, и проведена идентификация его природы: показано, что он обусловлен наноразмерными металлическими включениями, которые ранее в этом материале не наблюдались. Определены параметры этих включений при различных режимах облучения. Получен вывод о стабильности включений, возникающих в облученных ионами Не образцах, при нагреве вплоть до температур отжига Та=850 °С в атмосфере аргона и на воздухе.
4. Эксперименты по облучению СДЦ ионами Не с энергией Е=40 кэВ, дозой Ф=2−1017 ион/см2 во внешнем электрическом поле с напряженностью 2104 В/см показали, что влияние этого поля на процессы возникновения включений и проводимости является существенным: приложение поля в направлении, способствующем выходу ионов кислорода из облучаемого слоя, оказалось эквивалентным увеличению дозы до значения Ф=1018 ион/см2- приложение поля в противоположном направлении заметно замедляло эти процессы.
5. Обнаружено, что образование блистеров в облученных ионами Не образцах происходит одновременно с возникновением в них нанорозмерных включений. Сделан вывод о том, что образование блистеров, способствуя развитию поверхности, облегчает как выход кислорода из образца, так и возникновение наноразмерных включений, в том числе на появляющихся границах раздела как на стоках для металлических ионов.
6. В спектрах поглощения монокристаллов СДЦ, облученных ионами Не, в области энергий Е~3,5 эВ обнаружен ранее не наблюдавшийся пик потерь интенсивности прошедшего света, и его природа связывается предварительно с вакансиями циркония.
7. Представлена модель микроскопических процессов, происходящих в монокристаллах стабилизированного диоксида циркония при облучении ионами гелия и циркония, которая позволяет объяснить результаты, полученные при исследовании свойств облученного СДЦ, с единой микроскопической точки зрения.
Список литературы
- Шварц К.К., Экманис Ю. А. Диэлектрические материалы: радиационные процессы и радиационная стойкость. Рига: Зинатне, 1989. 187 с.
- Чеботин В.Н., Перфильев М. В. Электрохимия твердых электролитов. М.: Химия, 1978. 312 с.
- Будылин Б.В., Воробьёв A.A. Действие излучений на ионные структуры. М.: Госатомиздат, 1962. 168 с.
- Лущик Ч.Б., Лущик А. Ч. Распад электронных возбуждений с образованием дефектов в твёрдых телах. М.: Наука, 1989. 264 с.
- Шнаревич Е.И., Рыбинский O.A., Злобин В. А. Диэлектрики интегральных схем. М.: Энергия, 1975. 120 с.
- Харитонов Е.В. Диэлектрические материалы с неоднородной структурой. М.: Радио и связь, 1983. 128 с.
- Ботаки A.A., Воробьёв A.A., Ульянов В. Л. Радиационная физика ионных кристаллов. М: Атомиздат, 1980. 208 с.
- Мейер Дж., Эриксон Л., Дэвис Дж. Ионное легирование полупроводников (кремний и германий). М.: Мир, 1973. 296 с.
- Зорин Е.И., Павлов П. В., Тетельбаум Д. И. Ионное легирование полупроводников. М.: Энергия, 1975. 129 с.
- Работа выполнена в рамках гранта по исследованиям в области ядерной техники и физики пучков ионизированных излучений, а также в рамках программы «Фундаментальные и прикладные проблемы взаимодействия плазмы с поверхностью».
- Физические процессы в облучённых полупроводниках. Новосибирск: Наука, 1977. 256 с.
- Вопросы радиационной технологии полупроводников. Новосибирск: Наука, 1980. 296 с.
- Риссел X., Руге И. Ионная имплантация. М.: Наука, 1983. 360с.
- Томпсон М. Дефекты и радиационные повреждения в металлах. М.: Мир, 1971. 386 с.
- Александров В.И., Осико В. В., Прохоров А. М., Татаринцев В. М. Получение высокотемпературных материалов методом прямого высокочастотного плавления в холодном контейнере. // Успехи химии. 1978. Т.47. Вып.З. С.385−427.
- Orera V.M., Merino R.I., Chen Y., Cases R., Alonso P.J. Intrinsic electron and hole defects in stabilized zirconia single crystals //Phys. Rev. 1990. V.42. N16. P.9782−9789.
- Sholten D. and Burggraaf A.J., High dose ion implantation in yttria stabilized zirconia//Radiation effects. 1986. V.97. P. 191−197.
- Kelly R., Lam N.Q. The sputtering of oxides. Part I: a survey of the experemental results. //Radiation Effects. 1973. V.19. P.39−47.
- Naguib H.M., Kelly R. Criteria for bombardment-induced structural chandges in non-metallic solids //Radiation Effects. 1975. V.25. P. 1−12.
- Morant С., Sanz J.M., Galan L. Ar-ion bombardment effects on ZrC>2 surfaces//Phys. Rev. B. 1992. V. 45. P.1391−1398.
- Sefeld H., Bechrish R., Scherzer B.M.U. e.a. //Труды VII международной конференции по атомным столкновениям в твёрдых телах. М.: МГУ, 1980. т.2. С. 327.
- Анисимов С.И., Горшков О. Н., Васильев В. К. //Журнал технической физики. 1981. Т.51. С. 628.
- Kelly R. A model for interpreting of the formation of bombardment-induced disorder. //Radiation effects. 1970. Y.2. P.281−286
- Lam N.Q. et Kelly R. Phenomenes de pulverisation et de distribution en profondeur. Partie IV. Pulverisation cathodique des oxydes Nb203, Ta205 et W03. //Canadian Jornal of Physics. 1970. V.48. N2. P.137−145.
- Sigmund P. Theory of Sputtering. I. Sputtering Yeld of Amorphous and Polycrystalline Targets. //PhysRev. 1969. V.184. P.383−416
- Kelly R. The sputtering of isulators, Beam modification of matereals. V.2. Ion beam modification of insulators (Mazzoldi P. and Arnold G.W., Editors). 1987. Elsevier. P.57−113.
- Эланго M.A. Элементарные неупругие радиационные процессы. M.: Наука, 1988. 152 с.
- Second International Conference on Nanostructured Materials (NANO'94). Programme and Abstracts. October-3−7. 1994. Stuttgart University. Germany. 330p.
- Fukami K., Chayahara A., Kadono K., Sakaguchi T., Horino Y., Miya M., Fujii K., Hayakawa J. and Satou M. Gold nanoparticles ion implanted in glass with enhanced nonlinear opttical properties. J.Appl.Phys., 1994. V.75, N6. P.3075−3080.
- Kitazawa N., Yano T., Shibata Sh. and Yamane M. Precipitatiton of Silver Particles in Glasses by Ion Irradiation. Jpn.J.Appl.Phys. 1994. V.33. Part 2. N 9A. P. 1245−1247.
- Mutti P., Ghislotti G., Bertoni S., Bonoldi L., Cerofolini G.F., Meda L., Grilli E. and Guzzi M. Room-temperature visible luminescence from silicon nanocrystals in silicon implanted Si02 layers//Appl.Phys. Lett. 1995. V.66. No.7. P.851−853.
- Mie G. Beitrage zur Optik truber Medien, speziell kolloidaler Metallosungen. Annalen derPhysik. 1908. Band 25. Folge 4. N3. P.377−445.
- Doyle W.T. Absorption of light by colloids in alkali halide crystals. Physical Review. 1958. V.111. No. 4. P. 1067−1072.
- Чеботин В.Н. Физическая химия твердого тела. М.: Химия, 1982. 320 с.
- Li X. and Hafskjold В. Molecular dynamics simulations of yttrium-stabilized zirconia. J. Phys.: Condens. Matter. 1995. V.7. P.1255−1271.
- Merino R.I. and Orera V.M. Correlation between intrinsic electron traps and electrical conductivity in stabilised zirconia. Solid-State Ionics. 1995. V.76. No. 1−2. P.97−102.
- Чайковский Э.Ф., Батуричева З. Б., Шахнович М. И., Таран А. А. Спектроскопическое исследование радиационных дефектов в кристаллах сапфира, облученных ионами аргона. Журнал прикладной спектроскопии. 1984. Т.41. Вып.4. С.669−671.
- Guseva M.I. and Martynenko Yu. V. Blistering. In: Physics of Radiation Effects in Crystals. Edited by R. AJohnson and A.N.Orlov. Elsevier Science Publishers B.Y., 1986. Chapter 11.
- Betzig E. And Trautman J.K. Near field optics: microscopy, spectroscopy, and surface modification beyond the diffraction limit //Science. 1992. V.257. P. 189−195.
- Горшков O.H., Грачева T.A., Касаткин А. П., Малыгин H.Д., Новиков В. А., Щуров А. Ф. Свойства стабилизированных иттрием кристаллов диоксида циркония, облученных ионами инертных газов// Высокочистые вещества. 1995. N2. С.85−93.
- Горшков О.Н., Грачева Т. А., Касаткин А. П., Малыгин Н. Д., Новиков В. А., Щуров А. Ф. Ионно-пучковая модификация свойств приповерхностных слоев Zrl-xYx02-х/2. Поверхность. 1997. N1. С. 15−19.
- Huges А.Е. Radiation damage in insulators at high doses. Radiations Effects. 1986. Y.97. P.161−173.
- Перевощиков В.А., Скупов В. Д., Особенности абразивной и химической обработки поверхности полупроводников. Нижний Новгород: Изд. Нижегородского университета, 1992. 198 с.
- Рябчиков А.И. Нетрадиционные методы импульсно-периодической ионно-лучевой и ионно-плазменной обработки материалов. Известия высших учебных заведений. Физика. 1994. Т.37. N6. С.52−63.
- Jane U. and Lidiard А.В. The growth of colloidal centres in irradiated alkali halides. Phil. Mag. 1977. У.35. No.l. P.245−259.
- Гаршин Л.П., Швайко-Швайковский B.E., Бердиков В. Ф. //Неорганические материалы. 1991. Т.27. С. 758.
- Biersack J.P. Computer Simulations of Sputtering. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, B. 1987. B.27. P.21−36.
- Бирзак Й.П. Машинное моделирование распыления. В кн.: Фундаментальные и прикладные аспекты распыления твердых тел.: Сб. статей 1986−1987 гг.: Пер. с англ./Сост. Е. С. Машкова.- М.: Мир. 1989. 349 с.
- Shchurov A.F., Gracheva T.A., Malygin N.D. e.a. //Coll. abstracts. V.3. Xll European Crystallographic Meeting. Moscow. USSR. 1989. P.384.
- O.N.Gorshkov, V.A.Novikov and A.P.Kasatkin «Ion Beem Processing of Yttrium Stabilised Zirconia» E-MRS 1995 Spring Meeting. Final Programme. Oral Sesion of
- Symposium С (Joint Session with Symposium J). P. C-2, C-J.II.4. 1995, Strasbourg (France).
- Ekmanis Y.A. and Radchenko I.S. Optical properties of inhomogeneous colloidal centers in alkali halides. Phys. Stat. Sol. (b). 1983. V. 115. N2. P.389−407.
- Ekmanis Y.A. and Radchenko I.S. Light extinction by colloidal thallium in ionic crystals. Phys. Stat. Sol. (b). 1985. V.127. N1. P.287−298.
- Gorshkov O.N., Novikov V.A. and Kasatkin A.P. Properties of colloidal particles arising in yttria stabilised zirconia (YSZ) under irradiation with He ions at different doses. E-MRS 1996 Spring Meeting, Final Programme. I-I/P15.
- Золотарёв B.M., Морозов B.H., Смирнова E.B. Оптические постоянные природных и технических сред. Л.: Химия, 1984. 216 с.
- Алгоритмы и программы для численного решения некоторых задач эллипсометрии. Новосибирск: Наука, 1980. 186 с.
- Аброян И.А., Андронов А. Н., Титов А. И. Физические основы электронной и ионной технологии. М.: Высш. шк., 1984. 320 с.
- Самсонов Г. В., Прядко И. Ф., Прядко Л. Ф. Электронная локализация в твердом теле. М.: Наука. 1976. 339 с.
- Новиков В.А., Горшков О. Н., Касаткин А. П. Десорбция кислорода с поверхности стабилизированного диоксида циркония под воздействием пучка ионов гелия.
- Тез. докл. X конференции по химии высокочистых веществ. Н. Новгород 1995, с. 215.
- Бахвалов Н.С. Численные методы. T.l. М.: Наука. 1973. 631 с.
- Шишловский А. А. Прикладная физическая оптика. М.: ГИФМЛ. 1961. 824 с.
- Arnold G.W. Near-surface nucleation and crystallization of an ion-implanted lithia-aluminia-silica glass. J.Appl.Phys., 1975. Y.46. N10. P.4466−4473.
- Таблицы физических величин. Справочник. Под ред. акад. И. К. Кикоина. М.: Атомиздат. 1976. 1008 с.
- Укше Е.А., Букун Н. Г. Твердые электролиты. М.: Наука, 1977. 176 с.
- Болтакс Б.И. Диффузия в полупроводниках. М.: Гос. изд. физико-матем. лит., 1961. 464 с.
- Готт Ю.В., Явлинский Ю. Н. Взаимодействие медленных частиц с веществом и диагностика плазмы. М: Атомиздат. 1973. 128 с.
- Shimisu-Iwayama T., Fujita К., Nakao S., Saitoh К., Fujita T. and Itoh N. Visible photoluminescence in Si±implanted silica glass//J.Appl.Phys. 1994. V.75. No. 12. P.7779−7783.
- Горшков O.H., Новиков В. А., Касаткин А. П. Дефекты в ионно-облученном стабилизированном диоксиде циркония. Материалы XIII Международной конференции Взаимодействие ионов с поверхностью (Звенигород, 1−5 сентября 1997) Т.2, Москва, 1997, с.291−293.
- Физико-химические свойства полупроводниковых веществ. Справочник. Коллектив авторов. М.: Наука, 1979. 340 с.
- Харрисон У. Электронная структура и свойства твердых тел. Физика химической связи: Пер. с англ. М.: Мир, 1983. Т.2. 332 с.