Диплом, курсовая, контрольная работа
Помощь в написании студенческих работ

Сложно-функциональные блоки конвейерных КМОП АЦП для видеоприложений

Диссертация: Сложно-функциональные блоки конвейерных КМОП АЦП для видеоприложений
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Предложена методика предварительного расчета точностных характеристик АЦП конвейерного типа, учитывающая технологический разброс параметров элементов и позволяющая повысить процент выхода годных изделий. Методика направлена на обоснованный выбор архитектуры преобразователя при минимальных временных затратах на проектирование, что стало возможным за счет исключения этапов схемотехнического… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1. Тенденции развития быстродействующих АЦП
    • 1. 1. Обзор исравнение быстродействующих-АЦП.Г
    • 1. 2. Тенденции ррвития АЦП конвейерного типа
    • 1. 3. Сложно функциональные блоки
  • Выводы.:.:. 26}
  • Глава 2. Погрешности преобразования АЦП и алгоритмы коррекции<
    • 2. 1. '. Статические погрешности
    • 2. 2. Коррекция смещения нуля и зоны нечувствительности
    • 2. 3. Динамические параметры
    • 2. 4. Погрешности и неидельности конвейерных АЦП!
    • 2. 5. Принцип цифровой коррекции
  • Выводы.&bdquo
  • Глава 3. Анализ архитектур конвейерных АЦП V
    • 311. Анализ вариантов реализации конвейерных каскадов
      • 3. 2. Анализ архитектур конвейерных АЦП
      • 3. 3. Методика предварительного расчета точностных характеристик
  • АЩЪ
  • Выводы
  • Глава 4. — СФ блок АЦП конвейерного типа с автокалибровкой
  • 4- V. Устройство выборки и хранения
  • 4−2: Ддро 14-разрядного АЦП’конвейерного типа
    • 4. 3- Источник опорных напряжений?.'
    • 4. 4. Блок калибровки
    • 4. 5- Генератор синхроимпульсов
    • 6. Ключ
      • 4. 7. Топологическая реализация и характеристики СФ блока АЦП
  • Список сокращений

Глава 1. Тенденции развития быстродействующих АЦП.

1.1. Обзор и сравнение быстродействующих АЦП.

1.2. Тенденции развития АЦП конвейерного типа.

" * I

1.3. Сложно функциональные блоки.

Выводы.

Глава 2. Погрешности преобразования АЦП и алгоритмы коррекции.

2.1. Статические погрешности.

2.2. Коррекция смещения нуля и зоны нечувствительности.

2.3. Динамические параметры.

2.4. Погрешности и неидельности конвейерных АЦП.

2.5. Принцип цифровой коррекции.

Выводы.

Глава 3. Анализ архитектур конвейерных АЦП.

3.1. Анализ вариантов реализации конвейерных каскадов.

3.2. Анализ архитектур конвейерных АЦП.

3.3. Методика предварительного расчета точностных характеристик АЦП.

Выводы.

Глава 4. СФ блок АЦП конвейерного типа с автокалибровкой.

4.1. Устройство выборки и хранения.

4.2. Ядро 14-разрядного АЦП конвейерного типа.

4.3. Источник опорных напряжений.

4.4. Блок калибровки.

4.5. Генератор синхроимпульсов.

4.6. Ключ.

4.7. Топологическая реализация и характеристики СФ блока АЦП.

Выводы.

Сложно-функциональные блоки конвейерных КМОП АЦП для видеоприложений (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Диссертация посвящена проектированию сложно-функциональных (СФ) блоков конвейерных КМОП АЦП для видеоприложений с возможностью интегрирования в СБИС типа «система на кристалле» (СнК). Особое внимание уделено алгоритмам автоматической калибровки.

Преобладающая тенденция развития электронных вычислительных систем заключается в реализации обработки информации преимущественно в цифровом виде для снижения стоимости и увеличения надежности устройств. Поэтому характеристики интерфейса между аналоговым сигналом и цифровыми вычислениями становятся весьма важными.

Совершенствование технологии изготовления интегральных схем, приведшее к уменьшению проектных норм, позволило на одном кристалле размещать более сложные устройства, которые раньше можно было реализовать только на печатной плате. Среди задач развития современной российской микроэлектроники одно из приоритетных мест занимает задача создания СБИС типа «система на кристалле». Поэтому разработка СФ блоков является весьма актуальной. СФ блоки являются основой для построения «системы на кристалле», это своеобразные кирпичики, из которых строится СнК. Разработка, тестирование и аттестация СФ блоков являются необходимыми этапами создания отечественных конкурентоспособных устройств широкого, в том числе специального, назначения.

В последние годы наблюдается устойчивый рост доли смешанных аналого-цифровых систем в общем объеме СнК. Об объемах рынка можно косвенно судить по количеству выпускаемых СБИС СнК. Все выпускаемые СБИС СнК, содержащие АЦП и/или ЦАП, можно условно1 разделить на две группы:

1) СБИС, которые содержат преимущественно аналоговые блоки, как правило, низкого быстродействия и высокой разрядности, и небольшую цифровую часть;

2) преимущественно цифровые СБИС, они содержат мощные вычислительные средства на базе микроконтроллера и, возможно, АЦП или ЦАП.

В СнК первой группы, как правило, используются высокоразрядные сигма-дельта АЦП или АЦП последовательного приближения, основная область применения таких систем — система сбора данных. В системах второй группы чаще используются АЦП конвейерного типа. Примером случит DSP контроллер ADSP-21 990 фирмы Analog Device, который содержит 14-разрядный АЦП конвейерного типа с частотой преобразования 20 МГц [1].

Традиционно основной областью применения АЦП конвейерного типа были приложения для видеообработки. Однако, благодаря значительному улучшению характеристик АЦП,' расширяются области использования конвейерных АЦП. Примером является микросхема МАХ1127 [2], представляющая собой четырехканальный 12-разрядный АЦП конвейерного типа с частотой преобразования 65 МГц и последовательным LVDS интерфейсом. Области применения данной СБИС: ультразвуковые и медицинские системы обработки изображения, томографы, системы многоканальной связи и контрольно-измерительная аппаратура. Другой пример — микросхема ADC12L080 фирмы National Semiconductor [3] -широкополосный 12-разрядный АЦП со встроенным источником опорного напряжения, предназначенный для применения в системах видеообработки, передачи данных, радарах и в иных системах, предъявляющих аналогичные требования к аналого-цифровому преобразованию. Достижение 12. 14 разрядной точности в конвейерных АЦП практически во всех разработках происходит только при использовании различных методов калибровки. Детальное описание этих методов калибровки является конфиденциальной информацией фирм-разработчиков. Поэтому необходимо разрабатывать собственные алгоритмы калибровки (с учетом мирового опыта) и предложить их практическую реализацию. Подавляющее большинство цифровых СБИС проектируются по КМОП технологии, вследствие известных достоинств последней — минимальной статической потребляемой мощности и низкой стоимости изготовления ИС. Поэтому актуальной становится задача проектирования СФ блоков для интегрирования в СнК, выполненных по КМОП технологии.

Цель диссертации — развитие методологии проектирования и разработка СФ блоков АЦП для видеоприложений по заданным характеристикам СФ блоков и рационального набора библиотечных элементов для их проектирования.

Для достижения данной цели необходимо решение следующих задач:

— анализ различных вариантов построения аналого-цифровых преобразователей, их свойств и особенностей, погрешностей преобразования и, в частности, источников погрешностей в конвейерных АЦП;

— исследование точностных характеристик каскадов с разной разрядностью и архитектур конвейерных АЦП, а также схемотехнических решений, используемых при проектировании АЦП конвейерного типа;

— разработка методики предварительного расчета точностных характеристик проектируемого АЦП;

— проектирование и изготовление СФ блока конвейерного АЦП с автокалибровкой для его последующего использования в составе СБИС типа «система на кристалле».

На защиту выносятся следующие положения: 1. Методика предварительного расчета точностных характеристик АЦП конвейерного типа, учитывающая технологический разброс параметров элементов схемы и позволяющая повысить процент выхода годных изделий. Суть методики заключается в том, что на основе сведений о технологическом разбросе параметров элементов производятся предварительный расчет, определение точностных характеристик СФ блока АЦП и оптимизация архитектуры преобразователя по количеству каскадов и их разрядности, после этого осуществляется проверка требований предъявляемых к СФ блоку и затем переходят к более детальному расчету с помощью САПР.

2. Алгоритм коррекции смещения передаточной характеристики конвейерных АЦП, позволяющий исключитьзоны нечувствительности передаточной характеристики. Суть алгоритма заключается в изменении вида передаточной характеристики АЦП, внесением дополнительной корректируемой погрешности в первый каскад АЦП. Обязательным условием является использование в преобразователе алгоритмов калибровки. Внесенная погрешность корректируется вместе с остальными погрешностями АЦП.

3. Схемотехнические решения СФ блока АЦП конвейерного типа, отвечающие за реализацию алгоритма автокалибровки технологического разброса величин емкостей конденсаторов. Использование предложенной методики и алгоритма автокалибровки позволяет повысить процент выхода годных изделий с 3. .5% до 20. .25%, для данной технологии.

Научная новизна диссертации:

1. Методика предварительного расчета точностных характеристик АЦП конвейерного типа, учитывающая технологический разброс параметров элементов схемы и позволяющая повысить процент выхода годных изделий. Суть методики заключается в том, что на основе сведений о технологическом разбросе параметров элементов производятся предварительный расчет, определение точностных характеристик СФ блока АЦП и оптимизация архитектуры преобразователя по количеству каскадов и их разрядности, после этого осуществляется проверка требований предъявляемых к СФ блоку и затем переходят к более детальному расчету с помощью САПР.

2. Анализ вариантов реализации конвейерных каскадов с различной разрядностью, на основе результатов которого установлена связь погрешностей передаточной характеристики каскада с конструктивно-технологическими параметрами технологии.

3. Алгоритм коррекции смещения передаточной характеристики конвейерных АЦП, позволяющий исключить зоны нечувствительности передаточной характеристики. Суть алгоритма заключается в изменении вида передаточной характеристики АЦП, внесением дополнительной корректируемой погрешности в первый каскад АЦП. Обязательным условием является использование в преобразователе алгоритмов калибровки. Внесенная погрешность корректируется вместе с остальными погрешностями АЦП.

Практическая значимость результатов диссертации Практическая значимость заключается в том, что:

— разработан с использованием предложенной методики СФ блок 14-разрядного АЦП конвейерного типа с частотой преобразования не менее 10 МГц по проектным нормам 0,25 мкм. Создан топологический конструктив СФ блока для его интеграции в систему на кристалле;

— создан набор библиотечных элементов для АЦП конвейерного типа в среде САПР Cadence;

— реализован алгоритм автокалибровки технологического разброса величин емкостей конденсаторов в разработанном СФ блоке 14-разрядного АЦП конвейерного типа;

— результаты диссертации внедрены в ГУП НПЦ «ЭЛВИС» при разработке СБИС многоканального аналого-цифрового контроллера ввода сигналов и изображений в составе СФ блока 14-разрядного АЦП конвейерного типа.

Диссертация состоит из четырех глав и списка литературы. Первая глава посвящена обзору быстродействующих аналого-цифровых преобразователей, тенденциям развития АЦП и СФ блоков.

Во второй главе рассматриваются погрешности, возникающие при аналого-цифровом преобразовании и алгоритмы коррекции этих погрешностей. Особое внимание уделено причинам возникновения погрешностей в конвейерных АЦП. Также предложен метод исключения зон нечувствительности на передаточной характеристике АЦП.

В третье главе проводится анализ точностых характеристик каскадов АЦП с разной разрядностью, проанализированы различные архитектуры конвейерных АЦП. Предложен способ оценки погрешности конвейерного АЦП в зависимости от технологического разброса параметром элементов схемы. Обосновываются выбор структуры каскада и архитектуры АЦП конвейерного типа.

В четвертой главе рассматривается схемотехника СФ блока АЦП конвейерного типа, приводятся результаты моделирования работы основных блоков АЦП и АЦП в целом. Рассматривается реализация алгоритма автокалибровки погрешностей конвейерного АЦП, вызванных технологическим разбросом величин емкостей конденсаторов.

Апробация диссертации.

Основные результаты диссертации были доложены на научно-технических конференциях «Электроника, микрои наноэлектроника», проходивших в Костроме в 2003 году, в Нижнем Новгороде в 2004 году, в Вологде в 2005 году, в Гатчине в 2006 году и в Пушкинских горах в 2007 году, а также на конференциях «Научная сессия МИФИ», проведенных в 2003 и 2006 годах.

Выводы.

На основе предложенной методики разработан СФ блок 14-разрядного АЦП конвейерного типа с частотой преобразования 10 МГц по проектным нормам 0,25 мкм. Создан топологический конструктив СФ блока для интеграции в «систему на кристалле».

Создан набор библиотечных элементов для АЦП конвейерного типа в среде САПР Cadence, содержащий следующие блоки: устройство выборки и хранения- 2,5-битный каскад- 1,5-битный каскад- 3-разрядный АЦП параллельного типаисточник опорных напряженийгенератор синхроимпульсов. Использование перечисленного набора библиотечных элементов позволяет спроектировать АЦП конвейерного типа с разрядностью 10. 14 бит в кратчайшие сроки, поскольку исключаются этапы повторной разработки схемотехники основных блоков АЦП.

В разработанном СФ блоке 14-разрядного АЦП конвейерного типа реализован алгоритм автокалибровки технологического разброса величин емкостей конденсаторов. Оценки показали, что использование предложенной методики и алгоритма автокалибровки позволит повысить процент выхода годных изделий с 3. 5% до 20. .25%, для данной технологии.

Заключение

.

Основной результат диссертации заключается в развитии теории и методики проектирования сложно-функциональных блоков конвейерных КМОП АЦП для видеоприложений.

Основной теоретический результат.

Предложена методика предварительного расчета точностных характеристик АЦП конвейерного типа, учитывающая технологический разброс параметров элементов и позволяющая повысить процент выхода годных изделий. Методика направлена на обоснованный выбор архитектуры преобразователя при минимальных временных затратах на проектирование, что стало возможным за счет исключения этапов схемотехнического моделирования технологического разброса параметров элементов схемы, в частности, разброса величин емкостей конденсаторов.

Частные теоретические результаты.

1. В результате анализа вариантов реализации конвейерных каскадов с различной разрядностью установлена и определена количественно связь погрешностей передаточных характеристик каскадов с конструктивно-технологическими параметрами технологии. На основе анализа архитектур конвейерных АЦП с различной разрядностью (от 10 до 14 бит) сформулированы рекомендации по выбору каскадов, которые заключаются в следующем: а) в качестве первого каскада рекомендуется использовать 2,5-битный или 3,5-битный каскада — при этом доля погрешности первого каскада, составляет 90.95% и 94. .99% от общей погрешности АЦП, соответственно, а для 1,5-битного каскада доля погрешности составляет 80.85%, что важно при использовании алгоритмов калибровкиб) для снижения потребляемой мощности АЦП нецелесообразно использование 3,5-битных каскадов, поскольку потребляемая мощность АЦП с архитектурой, содержащей один 3,5-битный каскада и 1,5-битные каскады на 30.35% больше, чем у АЦП с архитектурой, построенной только на 1,5-битных каскадах.

2. Предложен алгоритм коррекции смещения передаточных характеристик конвейерных АЦП, позволяющий исключить зоны нечувствительности передаточной характеристики. Суть алгоритма заключается в изменении вида передаточной характеристики АЦП внесением дополнительной корректируемой погрешности в первый каскад АЦП. Обязательным условием является использование в преобразователе алгоритмов калибровки. Внесенная погрешность корректируется вместе с остальными погрешностями АЦП.

Основной практический результат.

На основе предложенной методики разработан СФ блок 14-разрядного АЦП конвейерного типа с частотой преобразования 10 МГц по проектным нормам 0,25 мкм. Создан топологический конструктив СФ блока для интеграции в систему на кристалле. СФ блок АЦП использован ГУП НПЦ «ЭЛВИС» при разработке СБИС многоканального аналого-цифрового контроллера ввода сигналов и изображений.

Частные практические результаты.

1. Создан набор библиотечных элементов для АЦП конвейерного типа в среде САПР Cadence, содержащий следующие блоки: устройство выборки и хранения- 2,5-битный каскад- 1,5-битный каскад- 3-разрядный АЦП параллельного типаисточник опорных напряженийгенератор синхроимпульсов. Использование перечисленного набора библиотечных элементов позволяет спроектировать АЦП конвейерного типа с разрядностью 10. 14 бит в кратчайшие сроки, поскольку исключаются этапы повторной разработки схемотехники основных блоков АЦП.

2. В разработанном СФ блоке 14-разрядного АЦП конвейерного типа реализован алгоритм автокалибровки технологического разброса величин емкостей конденсаторов. Оценки показали, что использование предложенной методики и алгоритма автокалибровки позволит повысить процент выхода годных изделий с 3. .5% до 20. .25%, для данной технологии.

Диссертация выполнена в МИФИ в рамках ОКР по теме «Разработка СФ блока быстродействующего КМОП 10-разрядного аналого-цифрового преобразователя с частотой преобразования не менее 20МГц».

Показать весь текст

Список литературы

  1. Mixed-signal DSP controller. ADSP-21 990. Datasheet / Analog Device. N., 2007. 50 p.
  2. MAX1127. Datasheet / Maxim Integrated Products. S., 2005. — 28 p.
  3. ADC12L080. Datasheet / National Semiconductor. S., 2004. — 26 p.
  4. В., Константинидис А., Эмилиани П. Цифровые фильтры и их применение. М.: Энергоатомиздат, — 1983. — 360 с.
  5. В.Я. Электронные системы с дискретизацией сигнала. 4.1. Элементы аналого-дискретных систем: Уч. пособие. М.: МИФИ, -1994.-148 с.
  6. В.Я. Электронные системы с дискретизацией сигнала. 4.2. Элементы аналого-дискретных систем: Уч. пособие. М.: МИФИ, — 1994.- 168 с.
  7. Г. Д., Малинин В. В., Школин В. П. Аналого-цифровые преобразователи. М.: Советское радио, — 1980. — 286 с.
  8. Г. И. Схемотехника аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств М.: Изд. дом «Додэка-ХХГ, — 2005. — 528 с.
  9. Analog products databook / National Semiconductor. S., 2004. — 786 p.
  10. Plassche R. CMOS integrated analog-to-digital and digital-to-analog converters. В.: Kluwer Academic Publishers, — 2003. — 588 p.
  11. П.Данилов A.B. Микросхемы инструментальных АЦП // Электронные компоненты. 2004. — № 2. — С. 15 — 25.
  12. П., Хилл У. Искусство схемотехники: В 3-х томах: Т.1. Пер с англ. 4-е изд. перераб. и доп. М.: Мир, — 1993. — 413 с.
  13. А.Н. Высокоскоростные АЦП компании STMicroelectronics // Электронные компоненты. 2004. — № 2. — С. 1−4.
  14. О.В. Обзор новых АЦП компании Analog Device // Электронные компоненты. 2004. — № 2. — С. 33 — 35.
  15. Pipeline ADCs come of age / Maxim Integrated Products. 2000. — 11 p.
  16. AD6640. Datasheet / Analog Device. N., 2003. — 24 p.
  17. Short Form 2004 /Analog Device. N., 2004. — 304 p.
  18. Linear/Mixed-Signal Designer’s Guide / National Semiconductor. S., 2002. -156 p.
  19. Analog/mixed-signal products / Texas Instruments. W., 2002. — 268 p.
  20. Product Selector Guide / Maxim Integrated Products. S., 2001. — 288 p.
  21. Patent № 6 486 807 US, A/D converter calibration / E. B. Jonsson 4 p.: pic.
  22. Г. Н. Аналого-цифровые преобразователи общего применения фирмы National Semiconductor // Компоненты и технологии. 2005.-№ 5.-С. 106- 109.
  23. Patent № 7 187 318 US, Pipeline ADC using multiplying DAC and analog delay circuits / B. Lee 5 p.: pic.
  24. Liu H., Lee Z.-M., Wu J.-T. A digital background calibration technique for pipelined analog-to-digital converters // IEEE International symposium on circuits and systems. 2003. — Vol. 1. — P. 881 — 884.
  25. LVDS owner’s manual 2nd edition / National Semiconductor Corp., -2004.-98 p.
  26. Electrical characteristic of low-voltage differential-signalling (LVDS) interface circuit / TIA/EIA-644, National Semiconductor Corp., ANSI/TIA/EIA. 1996.
  27. Boni A. LVDS I/O interface for Gb/s-per-pin operation in 0,35-цт CMOS // IEEE Journal of solid-state circuit. 2001. — Vol. 36. — № 4. — P. 706 — 710.
  28. Д.В. Приемо-передатчик для LVDS-сигналов // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов. М.: МИФИ. — 2004. — С. 187−190.
  29. Low-voltage low-power LVDS drivers / Chen M., Silva-Martinez J., Nix M., Robinson M. // IEEE Journal of solid-state circuit. 2005. — Vol. 40. — № 2. -P. 472−479.
  30. Немудров В. Г, Мартин Г. Н. Системы-на-кристалле. Проектирование и развитие. М.: Техносфера, — 2004. — 216 с.
  31. Н.Д., Немудров В. Г., Сырцов И. А. Методология проектирования систем на кристалле: Основные принципы, методы, программные средства // Электроника: НТВ. 2003. — № 6. — С. 7 — 11.
  32. Быстродействующие интегральные микросхемы ЦАП и АЦП и измерение их параметров / Марцинкявичюс А.-Й. К., Багданскис Э.-А.К., Поппонас P. JL, Драган Б. В. и др. Под ред. Марцинкявичюса А.-Й.К., Багданскиса Э.-А.К. М.: Радио и связь, — 1988. — 224 с.
  33. В.И., Кобзев Ю. М. Проектирование аналоговых КМОП-микросхем. Краткий справочник разработчика / Под редакцией канд. техн. наук В. И. Эннса. М.: Горячая линия — Телеком, — 2005. — 454 с.
  34. INL/DNL measurements for high-speed analog-to-digital converters (ADCs) / Maxim Integrated Products. 2002. — 9 p.
  35. Lundin H.F. Characterization and correction of analog-to-digital converters: Doctoral thesis. degree of dr. of sc. S., — 2005. — 192 p.
  36. Brannon В., Reeder R. Understanding high speed ADC testing and evaluation / Analog Device. N. 2004. — 24 p.
  37. Defining and testing dynamic parameters in high-Speed ADCs. Part 1 / Maxim Integrated Products. 2001. — 19 p.
  38. Dynamic testing of high-speed ADCs. Part 2 / Maxim Integrated Products. -2002. 29 p.
  39. Moon U.-K., Song B.-S. Background digital calibration techniques for pipelined ADC’s // IEEE Trans. Circuits and Systems-II. 1997. — Vol. 44. -P. 102- 109.
  40. Razavi B. Design of analog CMOS integrated circuits. New York. — 2001. — 676 p.
  41. Analysis and design of analog integrated circuits/ Gray P. R, Hurst P.J., Lewis S. H., Meyer R. G. New York. — 2001. — 872 p.
  42. Murmann В., Boser B. Digitally assisted pipline ADCs. Theory and implementation. D.: Kluwer Academic Publishers, — 2004. — 155 p.
  43. Д.В. Коррекция смещения нуля передаточной характеристики в конвейерных АЦП // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов.- М.: МИФИ. 2006. — С. 61 — 64.
  44. Patent № 635 937 US, Pipelined multi-stage analog-to-digital converter / B. Lee 5 p.: pic.
  45. Sumanen L. Pipeline analog-to-digital converter for wide-band wireless communication / Helsinki University of Technology. Electronic design Laboratory report 35. 2002. — 210 p.
  46. Waltari M. Circuit techniques for low-voltage and high-speed A/D converters / Helsinki University of Technology, Electronic design Laboratory report 33. 2002. — 269 p.
  47. Patent № 63 376 512 US, Pipeline analog to digital (A/D) converter with relaxed accuracy requirement for sample and hold stage / M.-L. Chiang 4 p.: pic.
  48. Ф., Санчес-Синенсио Э. Электронные схемы с переключаемыми конденсаторами / Пер. с англ. под ред. В. И. Капустяна. М.: Радио и связь. — 1989.-576с.
  49. Murmann В., Boser В.Е., Background calibration for low-power highperformance A/D conversion / Department of Electrical Engineering and Computer Sciences University of California, Berkeley, California, Project Report. -2001−02.
  50. Sumanen L., Waltari M., Halonen K. A 10-bit 200-MS/s CMOS parallel pipeline A/D converter // IEEE Journal of solid-state circuit. 2001. — Vol. 36. -№ 7.-P. 1048- 1055.
  51. Lin Y.-M., Kim В., Gray P. A 13-b 2,5-MHz self-calibrated pipelined A/D converter in З-цт CMOS // IEEE Journal of solid-state circuit. 1991. — Vol. 26.-№ 4.-P. 628−636.
  52. Siragusa E., Galton I. Gain error correction technique for pipelined analogue-to-digital converters // IEE Electron. Lett. 2000. — Vol. 36. — № 3. — P. 617 -618.
  53. Abo A.M., Gray P.R. A 1,5V 10-bit 14,3-MS/s CMOS pipeline analog-to-digital converter // IEEE Journal of solid-state circuit. 1999. — Vol. 34. -№ 5.-P. 599−606.
  54. A single-ended 12-bit 20 Msample/s self-calibrating pipeline AID converter / Opris I. E., Dyer К. C., Lewis S. H., Hurst P. J. // IEEE Journal of solid-state circuit.- 1998.-Vol. 33.-№ 12.- P. 1898- 1903.
  55. Д.В. Сравнительный анализ ключевых элементов для устройств выборки и хранения // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов. М.: МИФИ. — 2003. — С. 162- 165.
  56. Chen H.-S., Song B.-S., Bacrania К. A 14-b 20-MSamples/s CMOS pipelined ADC // IEEE Journal of solid-state circuit. 2001. — Vol. 36. — № 6. -P. 997- 1001.
  57. Lewis S.H. Optimizing the stage resolution in pipelined, multistage, analog-to-digital converters for video-rate applications // IEEE Circuits and Systems II. 1992. — Vol. 39. — №. 8. — P. 516 — 523.
  58. Patent № 6 501 411 US, System and method for optimizing power in pipelined data converters / E. G. Soenen 3 p.: pic.
  59. .В. Курс теории вероятностей. М.: Едиториал УРСС, -2005. — 446 с.
  60. A 3-V 340-mW 14-b 75-Msample/s CMOS ADC with 85-dB SFDR at nyquist input / Yang W., Kenny D., Mehr I., Sayuk M. T. et al. // IEEE Journal of solid-state circuit. 2001. — Vol. 36. — № 12. — P. 1931 — 1936.
  61. Nagaraj K. Background digital error correction technique for pipelined analog-to-digital converters // IEEE Journal of solid-state circuit. 2001. -Vol.30. -№ 1. -P. 408 -411.
  62. Least mean square adaptive digital background calibration of pipelined analog-to-digital converters/ Chiu Yun at al. // IEEE Journal of solid-state circuit. 2004. — Vol. 51. — № 1. — P. 3 8 — 46.
  63. Chuang S., Sculley T. L. A digitally self-calibrating 14-bit 10-MHz CMOS pipelined A/D converter // IEEE Journal of solid-state circuit. 2002. — Vol. 37.-№ 6.-P. 674−683.
  64. Imran A., Johns D. A. A 50-MS/s (35 mW) to 1-kS/s (15 ^W) power scaleable 10-bit pipelined ADC using rapid power-on opamps and minimal bias current variation // IEEE Journal of solid-state circuits. 2005. — Vol. 40. -№ 12.-P. 2446−2455.
  65. Liu H.-C., Lee Z.-M., Wu J.-T. A 15-b 40-MS/s CMOS pipelined analog-to-digital converter with digital background calibration // IEEE Journal of solidstate circuits. 2005. — Vol. 40. — № 5. — P. 1047 — 1056.
  66. Siragusa E., Galton I. A digitally enhanced 1,8-V 15-bit 40-MSample/s CMOS pipelined ADC // IEEE Journal of solid-state circuits. 2004. — Vol. 39. -№ 12.-P. 2126−2138.
  67. Patent № 6 710 735 US, Dual supply voltage pipelined ADC / C.-L. Lin 4 p.: pic.
  68. Grace C.R., Hurst P.J., Lewis S.H. A 12-bit 80-Msample/s pipelined ADC with bootstrapped digital calibration // IEEE Journal of solid-state circuits. -2005.-Vol. 40.-№ 5.-P. 1038- 1046.
  69. Ming J., Lewis S.H. An 8-bit 80-Msample/s pipelined analog-to-digital converter with background calibration // IEEE Journal of solid-state circuits. -2001. Vol 36. — № 10. — P. 1489- 1497.
  70. A 10b 120Msamples/s time-interleaved analog-to-digital converter with digital background calibration /> Jamal S.M., Fu D., Chang N.C.-J., Hurst P.J. at al. // IEEE Journal of solid-state circuits. 2002. — Vol 37. — № 12. — P. 455−457.
  71. Mehr I., Singer L. A 55-mW 10-bit 40-Msample/s nyquist-rate CMOS ADC // IEEE Journal of solid-state circuits. 2002. — Vol. 35. — № 3. — P. 318 -325.
  72. Chen H.-S., Bacrania K., Song B.-S. A 14b 20Msample/s CMOS pipelined ADC // IEEE International solid-state circuits conference. 2000. — Vol. 18. -P. 46 — 47.
  73. Cline D.W., Gray P.R. A power optimized 13-b 5 Msamples/s pipelined analog-to-digital converter in 1,2 im CMOS // IEEE Journal of solid-state circuits. 1996. — Vol. 31. — № 3. — P. 294 — 303.
  74. Wang R., Martin K., Johns Dl, Burra G. A 3,3mW 12MS/s 10b pipelined ADC in 90nm digital CMOS // IEEE International solid-state circuits conference. 2005. — Vol. 48. — № 2. — P. 278 — 279.
  75. Sumanen L., Waltari M., Hakkarainen V., Halonen K. CMOS dynamic comparators for pipeline A/D converters // IEEE Int. Symposium on circuits and systems. 2002. — Vol. 5 — P. 157 — 160.
  76. Chang D.-Y., Wu L., Moon U.-K. Low-voltage pipelined ADC using opamp-reset switching technique // IEEE Custom integrated circuits conference. -2000. Vol. 44. — P. 461 — 464.
  77. Waltari M., Halonen K.A.I. 1-V 9-bit pipelined switched-opamp ADC // IEEE Journal of solid-state circuits. 2001. — Vol. 36. — № 1. — P. 129 -134.
  78. Ю.Б. Операционный усилитель для быстродействующего АЦП конвейерного типа // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов / Под ред. В. Я. Стенина. М.:МИФИ. — 2003. — С. 69 — 73.
  79. Я. Схемы на операционных усилителях с переключаемыми конденсаторами: Пер. с польск. М.: Мир. — 1992. — 416 с.
  80. Ю.Б. Быстродействующий АЦП конвейерного типа // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. науч. трудов. М.:МИФИ. — 2004. — С. 73 — 79.
  81. Park Y.-I., Karthikeyan S., Tsag F., Bartolome E. A 10b 100 Msample/s CMOS pipelined ADC with 1,8 V power supply // IEEE International solidstate circuits conference. 2001. — Vol. 44. — № 2. — P. 130 — 131.
  82. Chiu Y., Gray P. R., Nikolic B. A 14-b 12-MS/s CMOS pipeline ADC with over 100-dB SFDR // IEEE Journal of solid-state circuits. 2004. — Vol. 39. -№ 12.-P. 2139−2151.
  83. Liu H.-C., Lee Z.-M., Wu J.-T. A 15-bit 40-MS/s CMOS pipelined analog-to-digital converter with digital background calibration // IEEE Journal of solidstate circuits. 2005. — Vol. 40. — № 11. — P. 1047 — 1056.
  84. Chang D.-Y., Moon U.-K. A 1,4-V 10-bit 25-MS/s pipelined ADC using opamp-reset switching technique // IEEE Journal of solid-state circuits. -2003. Vol. 38. — № 12. P. 1401 — 1404.
  85. A 9b 165Ms/s 1,8V pipelined ADC with all digital transistors amplirier / Amourah M., Bilhan H., Ying F., Fang L., et al. // IEEE International solidstate circuits conference. 2003. — Vol. 48 — № 2. — P. 421 — 424.
  86. Liu Н., Hassoun М. A 9-b 4-Msample/s reconfigurable pipeline analog-to-digital converter // IEEE Transactions on circuits and systems II. 2002. -Vol. 49. — № 7. — P. 449 — 456.
  87. Д.В. Калибровка высокоразрядного АЦП конвейерного типа // Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов. М.: МИФИ., 2005. — С. 78 — 84.
  88. Д.В., Рогаткин Ю. Б. Вопросы автокалибровки высокоразрядных АЦП конвейерного типа // Вопросы радиоэлектроники АН РФ серия Общая техника. Вып. 2. 2006. — С. 81 — 91.
  89. Д.В., Рогаткин Ю. Б. Автокалибровка технологического разброса параметров элементов в высокоразрядных конвейерных АЦП //
  90. Электроника, микро- и наноэлектроника. Сб. научн. трудов. М.: МИФИ. -2007.-С. 113−116.
Заполнить форму текущей работой

На отлично!