Диплом, курсовая, контрольная работа
Помощь в написании студенческих работ

Автоматизированный контроль дефектов поверхности деталей методом анализа дисперсий

Диссертация: Автоматизированный контроль дефектов поверхности деталей методом анализа дисперсий
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Наиболее перспективными для автоматизации контроля дефектов по-, верхности в высокопроизводительных автоматизированных производствах признаны оптические методы контроля, обеспечивающие максимальную, по сравнению с другими физическими методами, чувствительность и разрешающую способность при наивысшей производительности контроля и относительной простоте технической реализации. В автоматизированных… Читать ещё >

Содержание

  • Введение
  • 1. СОСТОЯНИЕ ВОПРОСА АВТОМАТИЗАЦИИ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ В МАШИНОСТРОЕНИИ И ЗАДАЧИ ИССЛЕДОВАНИЯ
    • 1. 1. Виды дефектов поверхности и технологические причины их появления
    • 1. 2. Анализ состояния дефектоскопии поверхности изделий
    • 1. 3. Обзор методов дефектоскопии поверхности
      • 1. 3. 2. Акустические методы
      • 1. 3. 3. Методы радиоволновой дефектоскопии
      • 1. 3. 4. Радиационные методы
      • 1. 3. 5. Оптические методы
    • 1. 4. Цель и задачи исследования
  • 2. РАЗРАБОТКА СПОСОБА ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДОМ АНАЛИЗА ДИСПЕРСИЙ ИНДИКАТРИССЫ РАССЕЯНИЯ
    • 2. 1. Принципы рефлектометрического контроля дефектов поверхности
    • 2. 2. Анализ информативных параметров контроля
    • 2. 3. Способ обнаружения дефектов поверхности методом анализа дисперсий индикатриссы рассеяния
    • 2. 4. Оптимальная оценка дисперсии гауссовского случайного процесса42'
    • 2. 5. Оценка дисперсии случайного процесса при временном усреднении
    • 2. 6. Анализ статистических характеристик контролируемой поверхности
  • 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДОМ АНАЛИЗА ДИСПЕРСИЙ ИНДИКАТРИССЫ РАССЕЯНИЯ
    • 3. 1. Критерии эффективности обнаружения дефектов
    • 3. 2. Система моделирования обнаружения дефектов
    • 3. 3. Анализ эффективности контроля дефектов поверхности методом анализа дисперсий индикатриссы рассеяния.66'
      • 3. 3. 1. Схема исследования эффективности
      • 3. 3. 2. Анализ эффективности.6() j.J.J
  • Анализ эффективности алгоритмов контроля отдельных типов дефектов и выбор оптимального алгоритма
  • 4. РАЗРАБОТКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО УСТРОЙСТВА, АЛГОРИТМИЧЕСКОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ
    • 4. 1. Конструкция оптического датчика и системы обработки информации
    • 4. 2. Принцип работы программы контроля дефектов
    • 4. 3. Руководство пользователя
  • 5. ПЕСПЕКТИВЫ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ОПТИЧЕСКОГО РЕФЛЕКТОМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ
    • 5. 1. Автоматизированная диагностика металлоконструкций грузоподъемных машин
    • 5. 2. Высокопроизводительный способ контроля дефектов малогабаритных объектов в потоке

Автоматизированный контроль дефектов поверхности деталей методом анализа дисперсий (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Одной из подсистем автоматизированных технологических комплексов на базе автоматических роторных (APJI) и роторно-конвейерных линий' (APKJI) является подсистема технического контроля, осуществляющая производственный и эксплуатационный контроль качества продукции, нормального хода технологических процессов, технического состояния и диагностирования оборудования. Важное место в ряду задач, выполняемых этой подсистемой: занимают входной, операционный и приемочный контроль качества продукции, позволяющий отбраковывать потенциально негодные изделия, заготовки и полуфабрикаты на различных этапах технологического процесса, своевременно регулировать оборудование, что, в конечном счете, позволяет повысить эффективность производства, снизить долю обрабатываемых негодных изде-' лии в потоке продукции, экономя материальные и трудовые ресурсы. Среди контрольных операций, выполняемых в автоматизированных технологических комплексах более 20% от всего объема контрольных операций, занимают операции контроля поверхности заготовок, элементов и готовых изделий на наличие дефектов, образующихся на поверхности в ходе выполнение технологических операций вследствие:

— брака исходного материала;

— потери физико-механических или химических свойств материала заготовки в ходе технологического процесса,

— потеря устойчивости заготовкой при выполнении операций пластического деформирования из-за анизотропии материала, усталостных напряжений в конструкции, потери пластичности,

— организационно-технических причин (низкий уровень технологии, нарушения технологической дисциплины).

До настоящего времени в массовых автоматизированных производс твах основным способом дефектоскопии поверхности остается визуальный орга-нолептический контроль, что приводит к значительной доле трудоемкости контроля дефектов поверхности в общей трудоемкости изготовления изделия

21.7%), низкой (43%), достоверности контроля, снижая эффективность автоматизированных комплексов, требуя привлечения большого числа контролеров, не обеспечивая достаточной информационной надежности и стабильности результатов контроля, а так же безопасности людей в зоне взрывои экологически опасных технологий

Наиболее перспективными для автоматизации контроля дефектов по-, верхности в высокопроизводительных автоматизированных производствах признаны оптические методы контроля, обеспечивающие максимальную, по сравнению с другими физическими методами, чувствительность и разрешающую способность при наивысшей производительности контроля и относительной простоте технической реализации.

Обзор состояния работ по оптической дефектоскопии показал что:

— существующие способы обнаружения дефектов обеспечивают достоверные результаты при условии стационарности характеристик контролируемой поверхности и стабильности внешних условий контроля;

— требования простоты конструкции и производительности определили применение в разработках автоматов контроля поверхности оптических рефлектометрических методов контроля;

— не рассмотрены полностью информативные параметры, характеризующие дефектность контролируемой поверхности и не реализованы технические средства контроля на принципах измерения этих параметров;

— необходимость обеспечения высокой производительности контроля на оборудовании роторного типа требует исследования динамики контрольного автомата с последующей оптимизацией динамической системы.

В связи с этим, актуальность приобретают имеющие важное значение научно — технические задачи, состоящие в разработке и исследовании новых способов автоматизации контроля дефектов поверхности изделий, обеспечивающих повышение эффективности оптической дефектоскопии поверхности в массовых производствах.

Решению этих задач посвящена данная работа.

Диссертация состоит из введения, пяти разделов, выводов, списка использованных источников и приложения.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ

1. В автоматизированных производствах основным способом дефектоскопии поверхности остается визуальный контроль, показатели надежности разработанных высокопроизводительных автоматов контроля поверхности изделий различной номенклатуры не соответствуют требуемым из-за слабой помехозащищенности оптических датчиков.

2. В качестве информационного параметра, характеризующего дефектность поверхности, предложен параметр флуктуации формы индикатриссы рассеяния, характеризующий степень неоднородности отражательной способности поверхности, порождаемой в основном изменениями шероховатости и цветности на интервалах, сравнимых с размерами световой марки подсвета и определяемый произведением дисперсий интенсивности зеркальной и диффузной составляющих рассеянного поверхностью Сиюооюаабмаршр огдаищзфвшюв поверхности методом анализа дисперсий индикатриссы рассеяния (Пат. РФ № 2 142 622, 10.12.99, Бюл.34). Разработанный способ может быть использован для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали. Техническим результатом способа является повышение надежности обнаружения дефектов поверхности деталей.

4. В качестве оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих рассеянного контролируемой поверхностью светового потока определена оценка дисперсии при временном усреднении. Выбранная оценка является несмещенной в случае не коррелированных выборок, в случае коррелированных выборок величина смещения оценки дисперсии случайного процесса обрате пропорционально числу выборок случайного процесса и прямо пропорциональна коэффициенту корреляции. Дисперсия оценки дисперсии не зависи т от значения нормированной корреляционной функции между выборками ана

108 лизируемого случайного процесса и не превышает дисперсию оптимальной оценки дисперсии.

5. Исследования эффективности способа обнаружения дефектов поверхности штампованной гильзы методом анализа дисперсий индикатриссы рассеяния показали, что способ, за исключением случаев обнаружения плены, забоины и цветности имеет значение отношения сигнал/шум, примерно равные или несколько превышающее аналогичный показатель конкурирующих алгоритмов. Способ имеет второй рейтинг среди исследуемых способов и устройств контроля. Уменьшение критерия при контроле плены, раковины и цветности можно объяснить тем обстоятельством, что эти дефекты, при контроле поверхностей с высокой чистотой обработки слабо влияют на индикатриссу рассеяния поверхности.

6. Разработано экспериментальное устройство и программное обеспечение контроля дефектов на поверхности штампованных гильз предложенным способом. Устройство работает в режиме реального времени, реализует простой алгоритм, не требующий больших затрат времени на вычисления, обладает высокой надежностью обнаружения дефектов на фоне шумов. Это позволяет обеспечить требуемую производительность контроля в роторных контрольных автоматах и рекомендовать способ при проектировании датчиков и систем обработки информации контроля поверхностных дефектов различных объектов.

Показать весь текст

Список литературы

  1. .В., Курганов В. Д., Злобин В. К. Распознавание и цифровая обработка изображений. М.: Высшая школа, 1983. — 295 с.
  2. В.А., Котов Б. А., Сорокин О. В. Линейная фоточувствительная схема с зарядовой связью К1200ЦЛ2//Электронная промышленность. -1981, — Вып, 9.- С. 23.
  3. П.А. Основы взаимодействия света с вещест-вом//Минск. 1977. — 345 с.
  4. П.А., Кузнецов М. В., Мандросов В. И. Оценка параметров неровностей и формы параболических поверхностей по их когерентным изобра-жениям//Автометрия. 1985. — № 4. — С. 89.
  5. Ф.Г., Фукс И. М. Рассеяние волн на статистически неровной поверхности. М.: Наука, 1972. — 424 с.
  6. Дж. Основы теории случайных шумов и ее применение. -М.: Наука, 1965.- 287 с.
  7. А.С., Джохадзе Ш. Р., Перова Н. И. Фотоэлектрические измери тельные микроскопы. М.: Машиностроение, 1976. — 128 с.
  8. Бесконтактный контроль размеров в станкостроении/Под рел. И. В. Харизоменова. М.: Машиностроение, 1975. — 160 с.
  9. А. С. Власов Н.Г., Штанько А. Е. Исследование рельефа диффузно-отражающих объектов методами спекл-интерферометрии с открытой апертуроЙ//ЖТФ. 1978, — № 8. — С. 1896.
  10. В.И., Златопольский А. А., Мучник И. Б. Сегментация изображения (состояние проблемы)//Автоматика и телемеханика. 1987. — № 7. -С. 3−56,
  11. В.М., Грабень Ю. И. Пневмофотоэлектрический преобразователь (ППФ-З) для автоматического контроля размеров. В кн.: Автоматизация производственных процессов в машиностроении и приборостроении. — М.: 1977, № 16.-С. 102−105.
  12. Н.П., Шрейдер Ю. А. Метод статистических испытаний. -М.: Фшматгиз, 1961.-226 с.
  13. С.Э., Горелик С. Л., Овсеевич JI.A. Автоматизированная обработка изображений//Тр. АН ЛитССР. Вильнюс, 1983. — № 3(136). — С. 97 102.
  14. Л.М., Костюков Е. В., Павлов З. В. Линейная фоточувствительная схема с заряДовой связью К1200ЦЛ2//Электронная промышленность. 1982.-Вып. 7(113).-С. 10−12.
  15. В.В., Горюнов Н. Н., Лонской И. Н. Автоматизированный контроль качества полупроводниковых планарных структур//3арубежная электронная техника. 1979. — № 15. — С. 33−47.
  16. В. Л. и др. Расчет механических систем приводов с зазорами.-М.: «Машиностроение», 1979.
  17. В. Л., Кочура А. Е., Федотов А. И. Колебательные системы машинных агрегатов. Изд-во Ленинградского университета, 1979. 1
  18. Н. Кибернетика,— М.: Сов.радио. 1968.
  19. Н.Г., Жилкин В. А., Штанько А. Е. Применение спекл-интерферометрии для контроля качества промышленных изделии/7131 1ИИНМАШ. Горький, 1980. — 274 с.
  20. Л.И. Методы построения измерительных устройств с малой аддитивной погрешностью//Измерения, контроль, автоматизация. 1978. — № 3. -С. 14−20.
  21. JI.И. Измерительный усилитель с аддитивной коррекцией/Измерительная техника. 1978. -№ 10. — С. 52−53.
  22. Л.И., Орнатский П. П. Методы построения структуры измерительных устройств с параметрической инвариантнгостыо//Измерения, контроль, автоматизация. 1976. — № 1. — С. 11−16.
  23. С.С., Марков Б. Н., Педь Е. И. Основы автоматизации измерений. М.: Из — во стандартов, 1974. — 367 с.
  24. С.С., Педь Е. И. Приборы для автоматического контроля в машиностроении. М.: Из ^ во стандартов, 1975. — 335 с.
  25. Л.Н. Фотоэлектрические системы контроля линейных величин. М.: Машиностроение, 1965. — 236 с.
  26. Л.Н., Корндорф С. Ф. Приборы автоматического контроля размеров в машиностроении.-М.: Машиностроение, 1988.-280с.
  27. А.В., Курочкин А. П. Конструирование и наладка пневматических устройств для линейных измерений. М.: Машиностроение, 1972. -128 с. .
  28. А.В., Приборы и устройства для активного контроля в машиностроении. М.: Машиностроение, 1971. — 192 с.
  29. Голографические неразрушающие исследования/К.С. Алексофф, Б. Б. Бренден, Г. М. Браун и др. М.: Машиностроение, 1979. — 448 с.
  30. А.Л., Скрипкин В. А. Методы распознавания. М.: Высшая школа, 1984. — 208 с.
  31. .Я., Карпович И. Б., Курочкин А. П. Пневмоиндукцион-ные приборы//Измерительная техника. 1974. -№ 2. — С. 10−11.
  32. В.Б., Рут В.Л. Введение в теорию случайных сигналов и шумов. -М.: И.Л., 1960. 326 с.
  33. Ф. М. и др. Колебания машин. М., «Машиностроение», 1964.
  34. Динамика управляемых машинных агрегатов. Вейц В. Л.,
  35. П.А., Колясников А. А. Способ обнаружения дефектов поверхности штампованных деталей методом дисперсионного анализа// В сб. Теория, технология, оборудование и автоматизация обработки металлов давлениеми резанием, Тул. гос. ун-т, Тула, 1999.
  36. В. К. Расчет колебаний упругих систем на ЭВМ. М., «Машиностроение», 1965.
  37. Л.Г., Кеткович А. А., Матвеев В. И. Оптическая и СВЧ дефектоскопия. М.: Машиностроение, 1981. — 52 с.
  38. И.И., Скворцов Г. П., Чупырин В. М. Организация проектирования системы технического контроля. М.: Машиностроение, 1981. — 191 с.
  39. В.Н. Теория и практика ультразвукового контроля. М.: Машиностроение, 1981. — 240 с.
  40. Ю.Ф. Прецезионные измерения параметров движения с использованием лазера. М.: Машиностроение, 1986. — 272 с.
  41. Иконика: Теория и методы обработки изображений: Сб. науч. труд.//АН СССР, Ин-т проблем передачи информации. М.: Наука, 1983. — 157 с.
  42. Иконика: Цифровая обработка видеоинформации: Сб. науч. труд.//АН СССР, Ин-т проблем передачи информации. М.: Наука, 1989. — 127 с.
  43. С. С. Исследование влияния динамических процессов в автоматических роторных линиях на их точность, надежность и производительность. (Кандидатская диссертация), Тула, НИС ТПИ, 1970.
  44. В. А. Динамика станков. М., «Машиностроение», 1967.
  45. И.И. Способ построения фотоэлектрического преобразователя, инвариантного к действующим возмущениям//Проблемы технической электродинамики (АН УССР). 1975. — Вып.50. — С. 146−148.
  46. И.И. Условия синтеза оптимальных фотоэлектрических предбразователей//Проблемы технической электродинамики (АН УССР). 1974 -Вып.45. — С. 175−177.
  47. И.С., Кварацхелия Т. Г., Волков И. В. К интерпретации епекл-интерферограмм смещаемых и деформируемых объектов//ЖТФ. 1981. -Т.51,№ 10. — С. 2080.
  48. Ю.М. Основы расчета оптико-электронных приборов с лазерами. М.: Советское радио, 1978. — 262 с.
  49. В.А. Отражение света. М.: Наука, 1973. — 256 с.
  50. Й. Введение в теорию комбинационного рассеяния света. М.: Мир. — 1975. — 437 с.
  51. Н.Е., Плют А. А., Шаповалов В. М. Оптоэлектронные измерительные преобразователи. JL: Энергия, 1977. — 159 с.
  52. С.Ф. Фотоэлектрические измерительные устройства в машиностроении. ML: Машиностроение. — 1965. — 195 с.
  53. B.C. Разработка и исследование устройств бесконтактного фотоэлектрического контроля качества поверхности. Автореф. дисс. канд. техн. наук. Тула: ТулПИ, 1980.
  54. Красиков В.А., 1 Хащунцева М. В., Штарьков Ю. И. Методы кластерного анализа в задачах тематической обработки многозональной видеоинформации//Аэрокосмические исследования земли. Обработка видеоинформации на ЭВМ.'- М.: Наука, 1978. С. 112−126.
  55. В.А., Шалис В. А. Кластерная процедура на базе многомерной гистограммы распределения//Исследование земли из космоса. 1982. -№ 2.- С. 107−1 14.
  56. . Статистические свойства рассеянного света. М.: Наука, 1980. — 510 с.
  57. B.C. О применимости принципа абсолютной инвариантности в физических реальных системах. Докл. АН СССР, 1948. — № 2. — С. 60.
  58. А.А., Обрадович К. А. Оптические приборы для измерения шероховатой поверхности. JT.: Машиностроение, 1981. — 197 с.
  59. В.И. Фотоэлектрические датчики в системах контроля, управления и регулирования. М.: Наука, 1966. — 214 с.
  60. А., Франсон М. Структура оптического изображения. -М.: Мир, 1962.-295 с.
  61. Методы неразрушающих испытаний/Под ред. Р.Шарпа. М.: Мир, 1972. -494 с.
  62. М.М. Теоретические основы оптико-электронных приборов . Л.: Машиностроение, 1977. — 600 с.
  63. Г., Урсяну В. Выборочный метод и статистическое оценивание. М.: Финансы и статистика, 1982. — 245 с.
  64. С.И. Системы технического зрения для автоматизации машиностроительного производства//Технологйя машиностроительного производства. М.: НИИмаш, 1982. — 88 с.
  65. Л.А., Степанов Б. М. Оптические свойства материалов при низких температурах. М.: Машиностроение, 1980. — 223 с.
  66. Новое поколение широкодиапазонных многофункциональных оптоэлектронных средств измерений и контроля линейных размеров и перемещений/В.Н.Ефимов, Г. Б. Кайнер, И. Б. Карпович, В. В. Москалев и др.//Измерительная техника. 1993. — № 8. — С. 6−12.
  67. В.И., Землицкас А. А., Мустейкис Л. П. Емкостные датчики перемещения с автокалибровкой//Механизация й автоматизация производства. -1979,-№ 9. -С. 32−33.
  68. Д.А. Вероятностные автоматы. М.: Энергия, 1970. — 273е.
  69. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. В 2-х кн./Под. ред. В. В. Клюева. М.: Машиностроение, 1986. — Кн.1: 488 е.- кн.2:352 с.
  70. Проблемы совершенствования контроля внешнего вида изделии электронной техники/А.И.Савин, Л. И. Федорченко, С. И. Харитонычева, Ю.Я.Хохлов//Электроннная промышленность. -1978. Вып.2. — С. 24−31.
  71. В.И. Отбраковка изделий массового производства по дефектам поверхности методом копирования рельефа//Дефектоскопия. 1991. -№ 8. — С. 75−80.
  72. B.C. Теория случайных функций. М.: Физматгиз, 1962.883 е.
  73. С.В. Радиационная дефектоскопия. М.: Атомиздат, 1974.- 504 с.
  74. С.М., Кравцов Ю. А., Татарский В. И. Введение в статистическую радиофизику. Часть 2. Случайные поля. М.: Наука, 1978. — 464 с.
  75. Е.М. Системотехническое проектирование оптикоэлек-тронных сканирующих систем автоматического контроля поверхности. Авто-реф. дисс. канд. техн. наук. Н.: НЭТИ, 1982.
  76. К., Томпсет М. Приборы с переносом заряда. М.: Мир, 1978.- 327 с.
  77. Системы технического зрения (принципиальные вопросы, аппаратное и математическое обеспечение)/Под ред. А. Н. Писаревского, А. Ф. Чернявского. Л.: Машиностроение, 1988. — 424 с.
  78. Н.В., Дунин-Барковский И.В. Курс теории вероятности и математической статистики. М.: Наука, 1965. — 512 с.
  79. Ю.Г. Теория обнаружения и оценивания стохастических сигналов. М.: Сов. радио, 1978. — 320 с.
  80. П.А. Основы построения оптимальных рефлектометриче-ских систем автоматизацйи контроля дефектов поверхности изделий в массовых производствах. Дисс. д-ра техн. наук. Тула: ТулГУ, 1996.
  81. П.А., Колясников А. А. Контроль дефектов поверхности штампованных деталей/Международная науч.-техн.конфер. «Ресурсосберегающие технологии и автомазация штамповочного производства». Тула. Тезисы докладов. ТулГУ. 1999, — С. 40.
  82. П.А., Селиверстов Г. В., Колясников А. А. Способ автоматизированной диагностики металлоконструкций грузоподъемных кра-нов//Автоматизация и современные технологии. М.: 2001, № 1. С. 5−7.
  83. П.А., Селиверстов Г. В., Колясников А. А. Способ автоматизированной диагностики металлоконструкций грузоподъемных кра-нов//Автоматизация и современные технологии. М.: 2001, № 1. С. 5−7:
  84. Справочник конструктора оптико-механических приборов/Под ред. В. А. Панова. JL: Машиностроение, 1980. — 741 с.
  85. Справочник по прикладной статистике: В 2-х т. T. l/Под ред. Э. Ллойда, У. Ледермана, Ю. Н. Тюрина. М.: Финансы и статистика, 1989.-510 с.
  86. Теория и проектирование контрольных автоматов/Воронцов Л.Н., Корндорф С. Ф., Трутень В. А., Федотов А. В. М.: Высшая школа, 1980. — 560 с.
  87. Теория когерентных изображений/П.А.Бакут, В. И. Мандросов, И. Н. Матвеев и др.- под ред. Н. Д. Устинова. М.: Радио и связь, 1987. — 264 с.
  88. Р. Волоконная оптика и ее применение. М.: Мир, 1975.240 с.
  89. А.С. Оптика шероховатой поверхности. Л.: Машиностроение, 1988. — 191 с,
  90. В.П., Захаров В. П., Снежко Ю. А. Лазерный микроин-терферометр//Квантовая электроника. 1975. — Т. 2, № 6. — С. 1142−1146.
  91. Туз Ю. М. Структурные методы повышения точности измерительных устройств. Киев: Вища школа, 1976. — 253 с.• 94. Ушаков О. В. Алгоритм анализа полутонового изображения/Препринт № 133. М.: ИПМ АН СССР, 1978. — 18 с.
  92. Я.А., Тарловский Г. Р. Статистическая теория распознавания образов. М.: Радио и связь, 1986. — 264 с.
  93. И.В., Шварцбург Л. Э. Экстремальный метод визиро-вания/ЛГр. НИИ метролог, высш. уч. завед. 1974. — Вып 12. — С. 112−119.
  94. А.А. Борьба с помехами. М.: Физматгиз, 1963. — 250 с.
  95. А.П., Витенберг Ю. Р., Пальмов В. А. Шероховатость поверхностей: теоретико вероятнгостный подход. — М.: Наука, 1975. — 344 с.
  96. Ф.В. Выбор параметров пневматических приборов размерного контроля. М: Машиностроение, 1973. — 162 с.
  97. Ф.В. Состояние и перспективы пневматических приборов для размерного контроля//Автоматизация и механизация контроля линейных и угловых размеров. М. — 1979. — С. 82−87.
  98. И.М. Пневматические преобразователи для размерного контроля. М.: Машиностроение, 1980. — № 2. — С.21−26.
  99. B.JI. Метод и программное обеспечение адаптивного контроля дефектов поверхности изделий в автоматизированных производствах. Автореф. дисс. канд. техн. наук. Тула: ТулПИ, 1992.
  100. К.Е. Работы по теории информации и кибернетике. М.: И.Л., 1963.-963 с.
  101. Н.С. Выделение оптических сигналов на фоне случайных помех. М.: Советское радио, 1967. — 347 с.
  102. В.Г., Белый B.C. Эхо-зеркальный ультразвуковой метод обнаружения и распознавания дефектов сварных швов. М.: Машиностроение, 1980. — 40 с. ¦
  103. Ю.Г. Теория и расчет оптико-электронных приборов. -М.: Советское радио, 1980. 386 с.
  104. Л.П. Введение в цифровую обработку изображений. -ML: Советское радио, 1979.- 312 с.
  105. Пат. РФ № 2 142 622, G01 N 21/88. Способ обнаружения дефектов поверхности/П.А. Сорокин, Е. Н. Будкина, А. А. Колясников, Г. В. Селивер-стов//Б.И, — 1999.-№ 34.
  106. Пат. РФ № 1 495 693, G01 N 21/88. Способ обнаружения дефектов поверхности/П.А.Сорокин, М. М. Бабин и др. // Б-.И.- 1989. № 6.
  107. Пат. РФ № 1 659 796, G01 N 21/47,21/88. Устройство для обнаружения дефектов поверхности/П.А.Сорокин, И. А. Клусов и др.//Б.И.- 1991. № 24.
  108. Пат. РФ N1388725, G01 В 21/30. Способ обнаружения дефектов по-верхности./И.А.Клусов, П. А. Сорокин, С.В.Федоров//Б.И.- 1988. № 14.
  109. Пат.РФ № 1 548 725, G01 N 21/88. Устройство для обнаружения дефектов поверхности/П.А.Сорокин, Д. И. Желязков, И. А. Клусов, и др. // Б.И.-1990.-№ 9.
  110. Пат. РФ № 1 619 145, G01 N 21/88//G01 В 11/30. Способ определения дефектов на поверхности изделия/П.А.Сорокин, И. А. Клусов, В. Л. Чистяков и др.//Б.И.-1991.-№ 1. v
  111. Beckman P., Spizzichino A. The Scattering of Electromagnetic Waves from Rough Surfaces. Oxford: Pergamon Press. 1963. — 492 p.
  112. Chin R.T., Ych C.L. Quantitative evalution of some edgepresserving noisesmoothing techniques//Computer Graphics and Image Processing. 1982. -V.23.-№l-P. 67−91.
  113. Kohler R. A segmentation system based on thresholding//Computer Graphics and Image Processing. 1989. — V.15. — № 4. — P.319−326.
  114. Melchior K., Pavel G. Automatisiren von Prufvorgengen mit bildverar-beitenden Sensoren. Teil 2. Prufverfahren und anwendungen//Techn. Mess. 1983. -50. -'№ 6. — P. 225−231.
Заполнить форму текущей работой

На отлично!