Разработка автоматизированного элионного технологического оборудования для производства изделий микрофотоэлектроники
Разработана методология, аппаратные средства и программное обеспечение для автоматизированной системы управления технологическими процессами (АСУ ТП) комплексной установки вакуумного напыления (УВН), установки ионно-лучевого травления (УИЛТ) и установки электронно-лучевой сварки (УЭЛС). АСУ ТП является двухуровневой системой и осуществляет контроль и управление технологическим процессом по всему… Читать ещё >
Содержание
- ГЛАВА 1. Низкоэнергетические ионные источники в технологии микрофотоэлектроники
- ГЛАВА 2. Принципы проектирования ионных источников с холодным катодом для технологии микрофотоэлектроники
- 2. 1. Компьютерное моделирование ионно-оптической системы
- 2. 2. Система газонапуска
- 2. 3. Методы и устройства для определения параметров ионных пучков
- 2. 3. 1. Матричный датчик плотности ионного тока
- 2. 3. 2. Система контроля энергетического спектра ионных пучков
- 3. 1. Технические решения и конструктивные особенности установки напыления
- 3. 1. 1. Магнетронная система напыления
- 3. 1. 2. Резистивный испаритель
- 3. 1. 3. Система ионно-лучевого травления
- 3. 1. 4. Внутрикамерная технологическая оснастка
- 3. 1. 5. Система газонапуска
- 3. 1. 6. Автоматизированная система управления технологическим процессом УВН
- 4. 1. Описание конструкции установки ионного травления
- 4. 1. 1. Внутрикамерная оснастка и подложкодержатель
- 4. 1. 2. Система газонапуска
- 4. 1. 3. Автоматизированная система управления технологическим процессом УИЛТ
- 4. 2. Отработка технологических процессов
- 5. 1. Проектирование электронно-оптической системы ЭЛУ
- 5. 2. Выбор материалов внутрикамерной оснастки
- 5. 3. Расчет защиты персонала, обслуживающего электронно-лучевую установку от воздействия рентгеновского излучения
- 5. 4. Описание конструкции установки электронно-лучевой сварки
- 5. 4. 1. Электронно-оптическая колонна
- 5. 4. 2. Блок электрического питания ЭЛУ
- 5. 4. 3. Автоматизированная система управления
Разработка автоматизированного элионного технологического оборудования для производства изделий микрофотоэлектроники (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
Для производства современных фотоприемных устройств, требуется комплекс достаточно сложного технологического оборудования. Этот комплекс, включает в себя установки для выращивания монокристаллов кремния, теллурида кадмия-ртути, арсенида галлия и других полупроводниковых материалов, для механической и химической обработки с целью получения полупроводниковых пластин — исходного продукта для производства фотоприемников. В технологической цепочке имеются также установки эпитаксиального выращивания. Завершает этот комплекс большая группа электоронно-лучевого и ионно-плазменного технологического оборудования включающая в себя установки ионной имплантации для внедрения примесей, установки плазменного и ионно-лучевого напыления, травления и формирования профильной структуры, различное литографическое оборудование и установки электронно-лучевой микросварки для решения задачи герметизации корпусов и присоединения микроконтактов.
Настоящая работа посвящена разработке комплекса специализированного электронно-лучевого и ионно-плазменного оборудования для современной планарной технологии производства малоразмерных фотодиодов (аналогичной кремниевой) учитывающего особенности материала КРТ. Комплекс состоит из установки вакуумного напыления (УВН), установки прецизионного ионно-лучевого травления (УИЛТ), установки электронно-лучевой микросварки (УЭЛС).
Создание современного элионного (электроннои ионно-лучевого) технологического оборудования связано с решением целого ряда научных и технических задач таких, как оптимизация электронно-оптических элементов и систем для формирования электронных и ионных пучков с требуемыми геометрическими и энергетическими параметрами, решение проблемы электрической прочности конструкций, модернизация и разработка новых систем электропитания с требуемой стабильностью и надежностью, разработка современных систем газонапуска и вакуумных систем. Принципиально важным требованием ко всему комплексу технологического оборудования для производства фотоприемных устройств является высокая степень автоматизации процессов контроля технологического процесса.
В настоящее время оборудование этого класса в Российской федерации не выпускается даже мелко серийно. Однако зарубежные фирмы, например, одна из ведущих компаний в плазменных и ионно-лучевых технологиях для сухого травления и нанесения пленок Oxford Plasma Technology выпускает широкую гамму автоматизированных установок технологии микрои наноэлектроники и поставляет его по всему миру. Стоимость этого оборудования чрезвычайно высока.
Цели и задачи работы.
Целью настоящей работы является разработка комплекса принципиально нового, конкурентоспособного вакуумного автоматизированного электроннои ионно-лучевого оборудования для технологической линейки по производству элементной базы нового поколения тепловизионных систем. В комплекс входят:
Специализированная установка вакуумного напыления (УВН), позволяющая в едином вакуумном цикле производить ионную и ионно-химическую очистку поверхности фотоприемных структур и КМОП схем без радиационных и температурных повреждений и наносить на них требуемые покрытия с высокой адгезией включающая в себя ионный источник, резистивную систему испарения и магнетронную систему напыления.
Установка прецизионного ионно-лучевого травления (УИЛТ) полупроводниковых материалов, обеспечивающая высокую равномерность плотности ионного тока по всей поверхности пластины при достаточно низкой энергии ионов для прецизионного травления полупроводниковых структур через маску с целью точного обеспечения топологии.
Компьютеризированная установка электронно-лучевой сварки (УЭЛС) для сварки (герметизации) корпусов матричных фотоприемников в вакууме. Поставленная цель подразумевает решение следующих задач:
— проведение анализа конструктивных решений и технологических возможностей отечественного и зарубежного оборудования электронно-лучевого и ионно-плазменного оборудования для технологии микрофотоэлектроники;
— выбор оптимальных электронно-оптических решений для формирования электронных и ионных пучков методами математического моделирования;
— разработка систем измерения параметров электронных и ионных пучков,.
— определение требуемых параметров систем электропитанияразработка принципов автоматического управления технологическими процессами и реализация их в виде АСУ каждым типом установок;
— оценка оптимального давления в вакуумной камере, поиск оптимальных конструктивных решений вакуумной системы и системы газонапуска в установках ионно-лучевого травления и напыления для обеспечения жестких требований к параметрам ионного пучка- - разработка конструкторской документации, изготовление, сборка и проведение технологических испытаний разработанного оборудования.
В работе использован опыт, накопленный автором при участии в создании и внедрении в промышленность ионных источников «Ион-2», «Ион-3», «Ион-4», «Ион-Ф», «Ион-П» и др., магнетронных распылителей «Магнетрон-2», магнетрон со встречно расположенными мишенями, а также разработанных в последние годы специализированных сварочных электронно-лучевых установок по ТЗ заказчика.
Актуальность и практическая значимость.
Новое поколение приборов фотоэлектроники для тепловидения, теплопеленгации, лазерной локации и связи в инфракрасной области спектра имеют в своей основе матричные фотоприемные устройства на основе твердых растворов теллуридов кадмия-ртути (КРТ). Развитие матричных фотоприемников идет в направлении уменьшения размеров фоточувствительных площадок, увеличения формата матиц до 1000×1000 или выше, снижения весогабаритных показателей, повышения рабочей температуры фокальных матриц. Современная планарная технология малоразмерных фотоприемных устройств, аналогичная кремниевой, учитывающая теплофизические и другие особенности материала КРТ, требует разработки специализированного технологического электронно-лучевого и ионно-плазменного оборудования. Речь идет о прецизионном ионно-лучевом травлении, ионно-плазменном нанесении тонких пленок без радиационных и тепловых повреждений, герметизации корпусов методом электронно-лучевой сварки. Таким образом, тема диссертационной работы весьма актуальна и имеет большое практическое значение, что обусловлено тем обстоятельством, что в настоящее время в Российской федерации оборудование для технологии микрофотоэлектроники серийно не выпускается, а стоимость зарубежного оборудования чрезвычайно высока.
Исключительно важным является также сохранение и развитие в России школы разработки электронно-лучевого и ионно-плазменного оборудования.
Создание технологического оборудования для технологии ИК микрофотоэлектроники является частью Федеральной программы «Критические технологии» и Президентской программы «Национальная технологическая база».
Научная новизна.
Создан комплекс промышленного автоматизированного элионного оборудования для производства изделий микрофотоэлектроники на основе КРТ, в котором реализован ряд технических решений, обладающих научной новизной, позволивших повысить качество технологического процесса. А именно:
1. В установке вакуумного напыления (УВН) предложен и реализован единый вакуумный цикл магнетронного напыления тугоплавких материалов, в том числе молибденарезистивного испарения материалов с низкой температурой плавления, в том числе индиятравления полупроводниковых материалов, в том числе кремния и КРТ.
2. Разработана система поддержания заданной скорости напыления индия.
3. Найдена эффективная ионно-оптическая система ионного источника с холодным катодом, позволяющая сформировать ионный пучок диаметром до 200 мм с неоднородностью плотности ионного тока не более 5% и энергией от 1кВ до ЗкВ, что позволяет осуществлять травление полупроводниковых материалов без радиационных повреждений.
4. Проведено исследование влияния газовой среды и давления в камере ионного источника с холодным катодом на параметры формируемого ионного пучка. По результатам исследования предложено конструктивное решение системы газонапуска, обеспечивающее формирование ионного пучка диаметром до 200 мм с неравномерностью плотности тока по сечению не более 5%.
5. Разработана система обеспечения заданного теплового режима подложки при ионно-лучевом травлении КРТ.
6. Разработаны методы и средства для контроля геометрических (профиля пучка) и энергетических параметров (определения разброса ионов по энергиям) ионных источников. Созданные средства контроля позволяют установить однозначное соответствие между режимом работы ионного источника и параметрами пучка и могут быть использованы в системе автоматизации управления технологическим процессом.
7. Разработан автоматизированный процесс вакуумно-плотной электронно-лучевой сварки корпусов фотоприемников.
8. Разработана методология, аппаратные средства и программное обеспечение для автоматизированной системы управления технологическими процессами (АСУ ТП) комплексной установки вакуумного напыления (УВН), установки ионно-лучевого травления (УИЛТ) и установки электронно-лучевой сварки (УЭЛС). АСУ ТП является двухуровневой системой и осуществляет контроль и управление технологическим процессом по всему технологическому циклу, начиная от откачки рабочей камеры и завершая остановкой по окончании обработки изделия. Разработанная АСУ ТП предусматривает мониторинг основных рабочих характеристик оборудования в течение технологического цикла, что позволяет оперативно поддерживать заданный технологический режим и осуществлять регистрацию выхода параметров системы за установленные пределы. Мониторинг решает задачи повышения экономичности, обеспечения ритмичности производства и скорейшего выявления и устранения причин брака.
На защиту выносится: a. Комплекс автоматизированного специализированного элионного оборудования для производства изделий микрофотоэлектроники на основе КРТ, не имеющий аналогов в РФ с комплектом конструкторской и эксплуатационной документации. По результатом Государственных сдаточных испытаний комплексу присвоена литера 01, что свидетельствует о готовности разработанного оборудования к серийному выпуску. b. Устройство, методы и результаты исследования геометрических и энергетических параметров ионных пучков большого диаметра (до 200мм), формируемых ионными источниками с холодным катодомc. Ионно-оптическая система и конструктивное решение системы газонапуска ионного источника с холодным катодом, формирующего широкие низкоэнергетические пучки с высокой равномерностью плотности ионного тока. d. Принципы построения и технические решения двухуровневых систем автоматического управления технологическим процессом (АСУ ТП) для следующих вакуумных технологических установок:
— установки вакуумного напыления, имеющей в своем составе, ионный источник для очистки поверхности, магнетронный распылитель, устройство резистивного испарения, систему газонапуска, систему перемещения подложки;
— установки ионно-лучевого травления на базе ионного источника с холодным катодом;
— автоматизированной электронно-лучевой установки для герметизации корпусов фотоприемных устройств методом электронно-лучевой сварки по заданному контуру. g.
Методы исследования.
В работе использованы современные методы расчета и пакеты прикладных программ для численного моделирования функционирования электронно-оптических систем, а именно программы.
— для расчета электрических и магнитных полей методом конечных элементов,.
— численного решения уравнений движения электронов и ионов в электрических и магнитных полях, моделирования термоэмиссионных систем с катодом произвольной формы, расчета аберрационных свойств магнитных формирующих линз. Предложены и успешно опробованы экспериментальные методы определения токовых характеристик и энергетического разброса ионов в ионных источниках.
Для определения характеристик тонкопленочных структур, полученных с помощью разработанного оборудования, использованы методы растровой электронной микроскопии.
Достоверность результатов исследований и принятых технических решений подтверждена результатами государственных сдаточных и технологических испытаний всего комплекса разработанного оборудования.
Апробация работы.
Основные результаты и положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на следующих конференциях и семинарах:
Постоянно-действующий научно-технический семинар «Электровакуумная техника и технология», г. Москва (1999 г. — 2006 г.).
Y — YII Всероссийский семинары «Проблемы теоретической и прикладной электронной и ионной оптики», г. Москва, 2001;2005г.г.
XYII — XIX Международные научно-технические конференции по фотоэлектронике и приборам ночного видения, г. Москва 2002;2006г.г.
Основные результаты диссертации изложены в 15 печатных работах.
Структура и объем диссертации
.
Диссертация состоит из введения, 6 глав, заключения, библиографического списка из 65 наименований, 4 приложений, содержит 118 страниц основного текста и 92 иллюстрации.
Выводы:
Автоматизированная система управления с мониторингом параметров техпроцесса позволяет гарантировать качество, как при опытном производстве, так и при серийном выпуске. Это особенно актуально при выпуске дорогостоящих приборов микрофотоэлектроники.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
.
Настоящая работа посвящена разработке комплекса специального автоматизированного ионно-плазменного и электронно-лучевого оборудования для технологической линейки пор выпуску малоразмерных изделий микрофотоэлектроники на основе КРТ. Здесь мы остановимся на наиболее важных результатах, полученных при проведении данной работы:
1. Ионно-лучевое травление квазипараллельным низкоэнергетическим ионным пучком является одним из актуальных технологических процессов в технологии производства широкоформатных фотоэлементов на основе КРТ. В работе предложены методы расчета и проектирования прецизионных ионных источников, формирующих низкоэнергетические ионные пучки. Найдена эффективная ионно-оптическая система разрядных ячеек мультиплицированного ионного источника с холодным катодом, позволяющая сформировать ионный пучок диаметром до 200 мм с неоднородностью плотности ионного тока не более 5% и энергией от 1кВ до ЗкВ, что обеспечивает травление полупроводниковых материалов без радиационных повреждений.
2. На базе разработанных ионных источников с холодным катодом создана установка ионного травления со стабилизацией температуры подложки на уровне, обеспечивающем сохранение физических и структурных характеристик материалов фотоприемников.
3. Проведено исследование влияния давления в камере ионного источника с холодным катодом на параметры формируемого ионного пучка. По результатам исследования предложено конструктивное решение системы газонапуска, обеспечивающее формирование ионного пучка диаметром до 200 мм с неравномерностью плотности тока по сечению не более 5%.
4. Разработаны методы и средства для контроля геометрических (профиля пучка) и энергетических параметров (определения разброса ионов по энергиям) ионных источников. Созданные средства контроля позволяют установить однозначное соответствие между режимом работы ионного источника и параметрами пучка и могут быть использованы в системе автоматизации управления технологическим процессом.
5. Разработана, изготовлена и внедрена в производство комплексная установка напыления на основе магнетронного распылителя и резистивного испарителя, оснащенная ионным источником для предварительной очистки поверхности перед напылением. В установке вакуумного напыления (УВН) предложен и реализован единый вакуумный цикл магнетронного напыления тугоплавких материалов, в том числе молибденарезистивного испарения материалов с низкой температурой плавления, в том числе индиятравления полупроводниковых материалов, в том числе кремния и КРТ. Установка позволяет с высокой степенью адгезии наносить покрытие в том числе из тугоплавких материалов в качестве подслоя при формировании индиевых контактов для стыковки матрицы фотоэлементов с мультиплексором. Установка оснащена датчиком скорости напыления индия, позволяющим контролировать технологический процесс формирования индиевых столбиков и обеспечивать воспроизводимость заданных характеристик. Подложкодержатель установки напыления обеспечивает заданную температуру подложки в процессе напыления.
6. Разработана, изготовлена и внедрена в производство установка вакуумно-плотной электронно-лучевой микросварки для герметизации корпусов фотоприемников.
7. Разработана методология, аппаратные средства и программное обеспечение для автоматизированной системы управления технологическими процессами (АСУ ТП) комплексной установки вакуумного напыления (УВН), установки ионно-лучевого травления (УИЛТ) и установки электронно-лучевой сварки (УЭЛС). АСУ ТП является двухуровневой системой и осуществляет контроль и управление технологическим процессом по всему технологическому циклу, начиная от откачки рабочей камеры и завершая остановкой по окончании обработки изделия. Разработанная АСУ ТП предусматривает мониторинг основных рабочих характеристик оборудования в течение технологического цикла, что позволяет оперативно поддерживать заданный технологический режим и осуществлять регистрацию выхода параметров системы за установленные пределы. Мониторинг решает задачи повышения экономичности, обеспечения ритмичности производства и скорейшего выявления и устранения причин брака.
Список литературы
- J.Piotrowski, A. Rogalski. Sensors Actuators, A 67,146 (1998)
- M.V. Blackman, M.D. Jenner US Pat 4.321.615 (1982)
- M.C. Никитин, K.P. Павлов. Полупроводники с узкой запрещенной зоной и их применение.// Матер. VI ес.симп. (Львов, 1983) С. 136
- Ю.П. Маишев. Ионные и ионно-плазменные системы и пути их развития для задач микроэлектроники // Микроэлектроника, 1977. Т. 3, № 2, С. 31 42
- H.R. Kaufman. Technology of ion beam sources in sputtering// J. Vac. Sci. Technol., Vol. 15, № 2,1979, P. 272−276
- Walter R. Sobie. Ion Beam Technology for thin film applications.// Vacuum & Tin Film, April 1999, P. 36−40
- J.T.M. Wotherspoon .US Pat.4.411.732 (1983) 8.1. M. Baker US Pat.4.521.798 (1985)
- К.Д.Минбаев, В.И.Иванов-Омский.// Физика и техника полупроводников, том 37, вып. 10, 2003, С. 1154
- Huizenga W. е. a. Phys. Lett. 14,1965, P. 103
- R. Keller, P. Spadtke, K. Hofmann. Springer Ser. Electrophys. 11, 69 1983
- B.A. Лабунов, H.H. Данилович, B.B. Громов. Многопучковые ионные источники для систем ионного распыления травления.// Зарубежная электронная техника, серия ТОПО, вып. 4,1984
- А.П. Еремин, В. Д. Смольянинов, A.M. Филачев. Ионные источники для технологического ионно-плазменного оборудования.// Прикладная физика. № 2−3, С. 18 -24.
- Singer Peter. Trends in Plasma Sources: the Search Continues.// Semiconductor International., Vol. 15, № 8,1992, P. 52−57.
- Т.Ф. Ивановский, А. П. Петров. Плазменная обработка материалов.// М. Энергоатомиздат, 1986, С. 218.
- Физика и технология источников ионов. Под редакцией Я. Бауна.// Москва, МИР, 1998, С. 118−148
- Jinxiang Yu, Jifeng Yan, Zhizhong Song, Zhongyi Wang, Weijiang Zhao. A cold-cathode PIG ion source for the production of intense O' ion beam.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 531,2004, P. 341 345
- Z. Wrofiski. Energy distributions of molecular gas ions generated in a special glow-discharge source.// Vacuum, volume 39, № 10,1989, P. 941 944,
- Zhang Shulin, Wang Jichang. A new type of hollow cathode discharge gun used in ion beam coating apparatus and theory analysis.// Vacuum, volume 39, № 10, 1989, P. 945 -947,
- Z. Wronski. A special glow discharge source of positive ions.// Vacuum, volume 35, № 7,1985, P. 271−275,
- A. Tonegawa, E. Yabe, D. Satoh, K. Takayama, K. Takagi, R. Fukui, K. Okamoto, S. Komiya. Hollow cathode ion source for application to an implanter.// Vacuum, volume 36, № 1−3,1986, P. 15−18,
- M. Ma, J. E. Mynard, B. J. Sealy, K. G. Stephens. A cold-hollow-cathode lateral-extraction Penning ion source.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, B55, 1991, P. 335−338
- Ma Mingxiu, Li Junping, Zhou Fengsheng. A hollow cold cathode multipurpose ion source.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research В 21,1987, P. 182 185
- Hiroshi Mase, Toshio Tanabe, Takashi Ikehata. Superdense hollow cathode glow discharge and its application to ion sources.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research В 37/38,1989, P. 120−123
- Патент на полезную модель «Ионный источник» № 57 511 от 5.06.2006 г.
- Д.Э. Гринфельд. А. П. Шуленок. Математическое моделирование магнитных электронных линз.// Прикладная физика, № 2, 2007, С. 12 17.
- Н. Kerkow, D. Boubetra, К. Holldack. A cold cathode ion source with a magnetic hollow cathode.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research В 68,1992, P. 41 44
- T. Onodera, К Kotajima, T. Yamaya, O. Saton, T. Shinozuka, M. Fujioka. A precision gas feding system for a pig heavy ion source.// Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 269,1988, P. 455 458
- Л.Д. Ландау, Е. М. Лифшиц. Гидродинамика.// издание пятое, том VI, Москва, Физматлит, 2003
- М.В. Козякин и др. Промышленная установка ионной имплантации малых и средних доз «Везувий 7М».// Электронная промышленность, М., 1983, вып. 5 (122)
- В.А. Симонов и др. Установка имплантации с повышенной энергией ионов «Везувий -9». // Электронная техника, 1982, серия 7, ТОПО, вып. 1 (10)
- Galvin J. Е., Brown I. G. Ion beam profile monitor.// Приборы для научных исследований 1985, № 11
- А.Н. Козлов, В. Д. Смольянинов, А. П. Еремин, A.M. Филачев. Устройство контроля профиля пучка заряженных частиц.// Прикладная физика, 2002 г., № 3 С. 100−104
- В. Г. Бровченко, В. В. Шафиркин. Ключи с малыми токами утечек для многоканального коммутатора.// Приборы и техника эксперимента, 1985, № 4.
- Сост. и ред. Р. Фелпс. 750 практических электронных схем.// Справочное руководство, М., Мир, 1986, Пер. с англ.
- А.Н. Козлов, В. Д. Смольянинов, А. П. Еремин, А. М. Филачев. Система контроля энергетического спектра ионных пучков.// Прикладная физика, 2002 г., № 3 С. 105−109 40 Г. А. Ковальский. Электрическая плазма в газовом разряде.// М., 1983, Изд. МИРЭА
- Б.С. Данилин, В. К. Сырчин. Магнетронные распылительные системы.// М. Радио и связь, 1982 г.
- A.S. Penfold. Magnetron Sputtering. Handbook of Thin Film Process Technology.// IOP Publishing Ltd 1995, P. A3.2:l A3.2:27
- Ю.В. Агабеков, A.M. Сутырин. Несбалансированные магнетронные распылительные системы с усиленной ионизацией плазмы.// Труды постоянно-действующего научно-технического семинара «Электровакуумная техника и технология», 1997−98г. Том. 1, С. 102 108.
- В.М. Чутко. Проект применения магнетронных распылительных систем для нанесения высококачественных оптических покрытий.// Труды постоянно-действующего научно-технического семинара «Электровакуумная техника и технология», 2003 г. Том. 2, С. 85−90.
- Е.В. Берлин, JI.A. Сейдман. Универсальная установка для магнетронного нанесения декоративных и специальных покрытий.// Труды постоянно-действующего научно-технического семинара «Электровакуумная техника и технология», 2003 г. Том. 2, С. 20−23.
- В.В. Одиноков. Современное вакуумное оборудование для нанесения пленок магнетронным распылением в микроэлектронике.// Труды постоянно-действующего научно-технического семинара «Электровакуумная техника и технология», 1997−98г. Том. 1, С. 90−91.
- Авторское свидетельство «Устройство для измерения толщины напыляемых на подложку проводящих пленок» ПМ № 43 959 от 30.06.2004 г.
- Т.А. Ворончев, В. Д. Соболев. Физические основы электровакуумной техники.// из-во Высшая школа, Москва 1967
- Физические величины, справочник под ред. И. С. Григорьева и Е. З. Мейлихова, М: Энергоатомиздат, 1991, стр 340.
- М.Н. Коган. Динамика разреженного газа. Кинетическая теория.// М: Наука 1967
- Н.И. Новиков. Термодинамика.// из-во Машиностроение, Москва 1984
- И.И. Амиров. ЖТФ. 2000. Т. 70. В. 5. С. 106−108.55. 3. Шиллер, У. Гайзиг, 3. Панцер. Электронно-лучевая технология.// М. Энергия, 1980
- O.K. Назаренко, А. А. Кайдалов, С. Н. Ковбасенко и др. Под ред. Б. Е. Патона. Электронно-лучевая сварка.// Наукова думка, 1987
- Н.Н. Рыкалин, А. А. Углов, В. И. Зуев, А. Н. Кокора. Лазерная и электронно-лучевая обработка материалов. Справочник.// М. Машиностроение, 1985
- Дж. Р. Брюэр, Д. С. Гринич, Д. Р. Херриот и др. Электронно-лучевая технология в изготовлении микроэлектронных приборов.// М. Радио и связь, 1984
- С.В. Андреев, М. А. Монастырский, В. А. Тарасов, А. Г. Муравьев. Разработка программного обеспечения для математического моделирования электронных пушек с катодами произвольной формы.// Москва, Прикладная физика № 2, 2000 г., С. 77 85
- И.С. Гайдукова, A.M. Филачев. Компьютерное моделирование и разработка термоэмиссионной системы установки электронно-лучевого гравирования.// Прикладная физика № 3,1996, С. 46−55
- J1.P. Кимель, В. П. Машкович. Защита от ионизирующих излучений.// Справочник, Москва, Атомиздат, 1972 С. 154
- Нормы радиационной безопасности НРБ-76// Москва, Атомиздат, 1978
- Б.Р. Киричинский, В. И. Мирутенко. Рентгеновское излучение в установках для электронно-лучевой сварки.// Автоматическая сварка, № 8 (173), 1967, С. 22.
- Санитарные правила работы с источниками используемого рентгеновского излучения.// Атомиздат, Москва, 1980
- М. Гувер, Э. Зиммерс. САПР и автоматизация производства.// М. Мир, 1987